Abstract:
A radiation detection technique employs field enhancing structures and electroluminescent materials to converts incident Terahertz (THz) radiation into visible light and/or infrared light. In this technique, the field-enhancing structures, such as split ring resonators or micro- slits, enhances the electric field of incoming THz light within a local area, where the electroluminescent material is applied. The enhanced electric field then induces the electroluminescent material to emit visible and/or infrared light via electroluminescent process. A detector such as avalanche photodiode can detect and measure the emitted light. This technique allows cost-effective detection of THz radiation at room temperatures.
Abstract:
A hyperspectral imaging system (100c) and a method are described herein for providing a hyperspectral image of an area of a remote object (e.g., scene of interest 104). In one aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic (106), a rotatable drum (402) which has a plurality of slits (4049 formed on the outer surface thereof and a fold mirror (408) located therein, a spectrometer (110), a two-dimensional image sensor (112), and a controller (114). In another aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic, a rotatable disk (which has at least one spiral slit formed therein), a spectrometer, a two-dimensional image sensor, and a controller. In yet another aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic, a rotatable disk (which has multiple straight slits formed therein), a spectrometer, a two-dimensional image sensor, and a controller.
Abstract:
Die Vorrichtung zur Erfassung des Spektrums elektromagnetischer Strahlung innerhalb eines vorgegebenen Wellenlängenbereichs ist versehen mit einem Substrat (12), einer oberhalb des Substrats (12) angeordneten ersten Lochmaske (20) aus einem für Strahlung innerhalb des vorgegebenen Wellenlängenbereichs undurchlässigen Material, wobei die erste Lochmaske (20) eine Vielzahl von ersten Fenstern (22) aufweist, einer Vielzahl von in dem Substrat (12) angeordneten und für Strahlung innerhalb bei jeweils einer verschiedenen Wellenlänge des vorgegebenen Wellenlängenbereichs empfindlichen Sensorelementen, und einer oberhalb der ersten Lochmaske (20) angeordneten, zweite Fenster (36) aufweisenden zweiten Lochmaske (32) aus einem für die Strahlung innerhalb des vorgegebenen Welienlängenbereichs undurchlässigen Material. Die zweiten Fenster (36) der zweiten Lochmaske (32) sind überlappend mit den Fenstern der ersten Lochmaske (20) angeordnet und gegenüberliegende Ränder der jeweils zwei sich überlappenden Fenster der beiden Lochmasken (20, 32) definieren die Größe eines jeweils einem Sensorelement zugeordneten Strahlungsdurchlasses (42) zum Durchlassen von Strahlung innerhalb des vorgegebenen Wellenlängenbereichs zu dem unterhalb des Strahlungsdurchlasses (42) angeordneten Sensorelement. Für die Erfassung der Intensität von elektromagnetischer Strahlung bei jeder der mehreren, interessierenden Wellenlängen innerhalb des vorgegebenen Welienlängenbereichs ist mindestens einer der Strahlungsdurchlässe (42) mit einer der jeweils interessierenden Wellenlänge zugeordneten Größe vorgesehen.
Abstract:
A spectral characteristic obtaining apparatus including a light irradiation unit configured to emit light onto a reading object; a spectroscopic unit configured to separate at least a part of diffused reflected light from the light emitted onto the reading object by the light irradiation unit into a spectrum; and a light receiving unit configured to receive the diffused reflected light separated into the spectrum by the spectroscopic unit and to obtain a spectral characteristic. The light receiving unit is configured to be a spectroscopic sensor array including plural spectroscopic sensors arranged in a direction, and the spectroscopic sensors include a predetermined number of pixels arranged in the direction to receive lights with different spectral characteristics from each other.
Abstract:
Предлагаемое техническое решение относится к области измерительной техники и может найти широкое применениепри различных спектрометрических измерениях, в частности при определении оптических параметров тонких пленок. В монохроматоре, содержащем конденсор (1), входную сменную щель (2), зеркала (3) и (5), дифракционную решетку (4) и пластинку с выходной щелью, вместо пластинки с одной выходной щелью постоянной ширины используется пластинка (6) с несколькими выходными щелями (7) постоянной ширины. Количество выходных щелей, их ширина и расстояние между щелями определяется решаемой спектрометрической задачей.