分光測定装置
    131.
    发明申请
    分光測定装置 审中-公开

    公开(公告)号:WO2019069526A1

    公开(公告)日:2019-04-11

    申请号:PCT/JP2018/026263

    申请日:2018-07-12

    CPC classification number: G01J3/04 G01J3/18 G01J3/42 G01J3/443

    Abstract: ミラー8と分光器14の間に、可変スリット部を構成するスリット板10及び開口数調整部を構成するアパーチャ板12が配置されている。スリット駆動機構11は制御部18からの信号に基づいてスリット板10を駆動し、スリット板10に設けられている複数のスリット10aのうちの1つをミラー8からの光の光軸上に配置する。アパーチャ駆動機構13は制御部18からの信号に基づいて、ミラー8からの光軸上に配置されているスリット10aに対応するアパーチャ12aを同光軸上に配置する。

    SYSTEMS, METHODS, AND APPARATUS FOR RADIATION DETECTION
    132.
    发明申请
    SYSTEMS, METHODS, AND APPARATUS FOR RADIATION DETECTION 审中-公开
    用于辐射检测的系统,方法和装置

    公开(公告)号:WO2016144779A1

    公开(公告)日:2016-09-15

    申请号:PCT/US2016/020948

    申请日:2016-03-04

    Abstract: A radiation detection technique employs field enhancing structures and electroluminescent materials to converts incident Terahertz (THz) radiation into visible light and/or infrared light. In this technique, the field-enhancing structures, such as split ring resonators or micro- slits, enhances the electric field of incoming THz light within a local area, where the electroluminescent material is applied. The enhanced electric field then induces the electroluminescent material to emit visible and/or infrared light via electroluminescent process. A detector such as avalanche photodiode can detect and measure the emitted light. This technique allows cost-effective detection of THz radiation at room temperatures.

    Abstract translation: 放射线检测技术采用场增强结构和电致发光材料将入射的太赫兹(THz)辐射转换成可见光和/或红外光。 在这种技术中,诸如裂环谐振器或微缝隙的场增强结构增强了施加电致发光材料的局部区域内的输入THz光的电场。 增强的电场然后诱导电致发光材料通过电致发光工艺发射可见光和/或红外光。 诸如雪崩光电二极管的检测器可以检测和测量发射的光。 这种技术允许在室温下对THz辐射进行成本有效的检测。

    分光画像取得装置
    133.
    发明申请
    分光画像取得装置 审中-公开
    光谱图像采集装置

    公开(公告)号:WO2016110952A1

    公开(公告)日:2016-07-14

    申请号:PCT/JP2015/050242

    申请日:2015-01-07

    Inventor: 堀江 原

    Abstract:  被写体の動きに対応して位置ズレを抑制した分光画像を生成することを目的として、本発明に係る分光画像取得装置(1)は、複数のライン分光画像を取得するライン分光画像取得部(7)と、該ライン分光画像取得部(7)による撮影範囲を含み、ライン分光画像よりも少ない色信号を含む2次元のフレーム画像を取得するフレーム画像取得部(6)と、ライン分光画像取得部(7)により取得された各ライン分光画像と、フレーム画像取得部(6)の波長特性とに基づいて、比較画像をライン毎に推定する比較画像推定部と、該比較画像推定部により推定された各比較画像と、フレーム画像内における対応位置との位置ズレ量を検出するライン分光画像位置ズレ検出部と、該ライン分光画像位置ズレ検出部により検出された位置ズレ量に基づいて、フレーム画像内の対応位置に、各比較画像を推定するために使用された各ライン分光画像を当てはめる位置ズレ補正部とを備える。

    Abstract translation: 在本发明中,为了产生根据被摄体的移动来抑制位置偏移的光谱图像,该光谱图像获取装置(1)包括:线光谱图像获取单元(7),其获取 多条线谱图像; 帧图像获取单元(6),其获取包括由所述线谱图像获取单元(7)使用的图像拾取范围并且包括比所述线光谱图像少的颜色信号的2D帧图像; 比较图像估计单元,其基于由所述线谱图像获取单元(7)获取的每个线谱图和所述帧图像获取单元(6)的波长特性来估计每行的比较图像; 行频谱图像位置检测单元,其检测由所述比较图像估计单元估计的各比较图像与所述帧图像内的对应位置之间的位置偏移量; 以及位置偏移校正单元,其基于由所述线分光图像位置检测单元检测到的位置位移量,将用于估计每个比较图像的每个线谱图像应用于帧图像内的对应位置。

    光学式穀粒評価装置、および、前記光学式穀粒評価装置を備えたコンバイン
    134.
    发明申请
    光学式穀粒評価装置、および、前記光学式穀粒評価装置を備えたコンバイン 审中-公开
    光学评估装置和光学评估装置提供的联合收割机

    公开(公告)号:WO2016059865A1

    公开(公告)日:2016-04-21

    申请号:PCT/JP2015/072965

    申请日:2015-08-14

    Inventor: 森本進 添正夫

    Abstract:  光学式穀粒評価装置は、光源からの光を穀粒に照射する投光部58と、穀粒を透過した光が入射する受光部59と、受光した光の情報に基づいて穀粒を評価する穀粒評価部60と、光源50と投光部59との間の領域と、受光部59と穀粒評価部60との間の領域とを隔離し、投光部58から直接に受光部59に光が入射するのを阻止する遮蔽部SHとを備え、光源50と投光部58との間の領域、並びに、受光部59と穀粒評価部60との間の領域は、全領域にわたり、光が空気中を伝播する空気伝播領域に構成されている。

    Abstract translation: 光学粒子评估装置设置有用于将来自光源的光照射到谷物上的光投射单元58,通过谷物的光入射的光接收单元59,用于评估谷物的谷物评价单元60 关于接收到的光的信息的基础;以及用于隔离光源50和光投影单元58之间的区域以及光接收单元59和颗粒评估单元60之间的区域的屏蔽部分SH,以便防止来自光投影的光 单元58直接撞击光接收单元59.光源50和光投影单元58之间的区域以及光接收单元59和颗粒评估单元60之间的区域都被构造成使得每个区域的整体是空气 光传播通过空气的传播区域。

    HYPERSPECTRAL IMAGING SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING A REMOTE OBJECT
    135.
    发明申请
    HYPERSPECTRAL IMAGING SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING A REMOTE OBJECT 审中-公开
    用于成像远程对象的高精度成像系统和方法

    公开(公告)号:WO2014143231A1

    公开(公告)日:2014-09-18

    申请号:PCT/US2013/072801

    申请日:2013-12-03

    Abstract: A hyperspectral imaging system (100c) and a method are described herein for providing a hyperspectral image of an area of a remote object (e.g., scene of interest 104). In one aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic (106), a rotatable drum (402) which has a plurality of slits (4049 formed on the outer surface thereof and a fold mirror (408) located therein, a spectrometer (110), a two-dimensional image sensor (112), and a controller (114). In another aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic, a rotatable disk (which has at least one spiral slit formed therein), a spectrometer, a two-dimensional image sensor, and a controller. In yet another aspect, the hyperspectral imaging system includes at least one optic, a rotatable disk (which has multiple straight slits formed therein), a spectrometer, a two-dimensional image sensor, and a controller.

    Abstract translation: 本文描述了高光谱成像系统(100c)和方法,用于提供远程对象(例如,感兴趣的场景104)的区域的高光谱图像。 一方面,高光谱成像系统包括至少一个光学元件(106),可旋转的滚筒(402),其具有多个狭缝(4049,其形成在其外表面上,折射镜(408)位于其中,光谱仪 另一方面,高光谱成像系统包括至少一个光学元件,可旋转的光盘(其中形成有至少一个螺旋形狭缝),一个可旋转的光盘(112),一个二维图像传感器 光谱仪,二维图像传感器和控制器,另一方面,高光谱成像系统包括至少一个光学元件,可旋转盘(其中形成有多个直缝),光谱仪,二维图像传感器 ,和控制器。

    VORRICHTUNG ZUR ERFASSUNG DES SPEKTRUMS ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG INNERHALB EINES VORGEGEBENEN WELLENLÄNGENBEREICHS
    136.
    发明申请
    VORRICHTUNG ZUR ERFASSUNG DES SPEKTRUMS ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG INNERHALB EINES VORGEGEBENEN WELLENLÄNGENBEREICHS 审中-公开
    用于测量电磁辐射的光谱内的给定的波长范围内

    公开(公告)号:WO2012152753A1

    公开(公告)日:2012-11-15

    申请号:PCT/EP2012/058367

    申请日:2012-05-07

    Abstract: Die Vorrichtung zur Erfassung des Spektrums elektromagnetischer Strahlung innerhalb eines vorgegebenen Wellenlängenbereichs ist versehen mit einem Substrat (12), einer oberhalb des Substrats (12) angeordneten ersten Lochmaske (20) aus einem für Strahlung innerhalb des vorgegebenen Wellenlängenbereichs undurchlässigen Material, wobei die erste Lochmaske (20) eine Vielzahl von ersten Fenstern (22) aufweist, einer Vielzahl von in dem Substrat (12) angeordneten und für Strahlung innerhalb bei jeweils einer verschiedenen Wellenlänge des vorgegebenen Wellenlängenbereichs empfindlichen Sensorelementen, und einer oberhalb der ersten Lochmaske (20) angeordneten, zweite Fenster (36) aufweisenden zweiten Lochmaske (32) aus einem für die Strahlung innerhalb des vorgegebenen Welienlängenbereichs undurchlässigen Material. Die zweiten Fenster (36) der zweiten Lochmaske (32) sind überlappend mit den Fenstern der ersten Lochmaske (20) angeordnet und gegenüberliegende Ränder der jeweils zwei sich überlappenden Fenster der beiden Lochmasken (20, 32) definieren die Größe eines jeweils einem Sensorelement zugeordneten Strahlungsdurchlasses (42) zum Durchlassen von Strahlung innerhalb des vorgegebenen Wellenlängenbereichs zu dem unterhalb des Strahlungsdurchlasses (42) angeordneten Sensorelement. Für die Erfassung der Intensität von elektromagnetischer Strahlung bei jeder der mehreren, interessierenden Wellenlängen innerhalb des vorgegebenen Welienlängenbereichs ist mindestens einer der Strahlungsdurchlässe (42) mit einer der jeweils interessierenden Wellenlänge zugeordneten Größe vorgesehen.

    Abstract translation: 预定波长范围的材料中,第一阴影掩模(内的材料制成不可渗透的对放射线的基片(12),所述第一阴影掩模(20)上方,用于检测给定波长范围内的电磁辐射谱的装置,设置有基板(12),布置在一个 20)包括多个第一窗口(22),布置在多个(在该基板12),并在一个不同的波长的预定波长范围敏感的传感器元件中的每个设置成用于辐射,和一个(上方的第一荫罩20),第二窗口 (36),其具有不透预定Welienlängenbereichs材料内的辐射的材料的第二荫罩(32)。 第二荫罩的第二窗口(36)(32)被布置成与所述第一荫罩的窗口(20)和所述两个穿孔掩模(20,32),其限定分别分配的传感器元件的辐射通道的尺寸的两个重叠的窗口的相对边缘重叠 (42)布置成用于辐射通过所述预定波长区域内的通道(42)的传感器元件下方的辐射。 在每个所述多个预定Welienlängenbereichs至少所述辐射孔(42),用提供的相关尺寸每个感兴趣的波长中的一个的一个内的感兴趣的波长的检测电磁辐射的强度的。

    モニター可能な分光計測装置
    137.
    发明申请
    モニター可能な分光計測装置 审中-公开
    可监测光谱测量装置

    公开(公告)号:WO2012057254A1

    公开(公告)日:2012-05-03

    申请号:PCT/JP2011/074783

    申请日:2011-10-27

    Abstract: モニター可能な分光計測装置は、測定対象Smから光学系30、スリット-ミラーブロック21のスリット部23を介して分光器本体25に到る第1の光路L1と、測定対象Smから光学系30、スリット-ミラーブロック21の鏡面22を介して2次元撮像装置40に到る第2の光路L2が設けられる。スリット部23と分光器本体25は一体となって分光部20を構成する。

    Abstract translation: 可监视光谱测量装置设置有通过光学系统(30)和光学系统(30)的狭缝部分(23)从被测量物体(Sm)延伸到光谱仪主体(25)的第一光路(L1) 狭缝镜块(21)和通过光学系统(30)从待测物体(Sm)延伸到二维成像单元(40)的第二光路(L2)和镜面(22) 的缝隙镜块(21)。 狭缝部(23)和光谱仪主体(25)彼此一体地形成光谱测量单元(20)。

    SPECTRAL CHARACTERISTIC OBTAINING APPARATUS, IMAGE EVALUATION APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS
    139.
    发明申请
    SPECTRAL CHARACTERISTIC OBTAINING APPARATUS, IMAGE EVALUATION APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS 审中-公开
    光谱特征获取装置,图像评估装置和图像形成装置

    公开(公告)号:WO2010113987A1

    公开(公告)日:2010-10-07

    申请号:PCT/JP2010/055781

    申请日:2010-03-24

    Abstract: A spectral characteristic obtaining apparatus including a light irradiation unit configured to emit light onto a reading object; a spectroscopic unit configured to separate at least a part of diffused reflected light from the light emitted onto the reading object by the light irradiation unit into a spectrum; and a light receiving unit configured to receive the diffused reflected light separated into the spectrum by the spectroscopic unit and to obtain a spectral characteristic. The light receiving unit is configured to be a spectroscopic sensor array including plural spectroscopic sensors arranged in a direction, and the spectroscopic sensors include a predetermined number of pixels arranged in the direction to receive lights with different spectral characteristics from each other.

    Abstract translation: 一种光谱特征获取装置,包括被配置为将光发射到读取对象上的光照射单元; 分光单元,被配置为将由所述光照射单元发射到所述读取对象的光的漫反射光的至少一部分分离成光谱; 以及光接收单元,被配置为接收由分光单元分离成光谱的扩散反射光并获得光谱特性。 光接收单元被配置为包括沿方向布置的多个分光传感器的分光传感器阵列,并且分光传感器包括沿着彼此具有不同光谱特性的光的接收方向排列的预定数量的像素。

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