Verfahren zur Laserspektroskopie von Gasen
    134.
    发明公开
    Verfahren zur Laserspektroskopie von Gasen 有权
    一种用于气体的激光光谱学过程

    公开(公告)号:EP2803975A1

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:EP13168237.9

    申请日:2013-05-17

    Applicant: SICK AG

    Abstract: Ein Verfahren zur Bestimmung einer Konzentration eines Gases in einer Probe und/oder der Zusammensetzung eines Gases mittels eines Spektrometers umfasst das Aussenden von Strahlung, deren Wellenlänge einen Wellenlängenbereich im Wesentlichen kontinuierlich durchläuft, wobei das kontinuierliche Durchlaufen des Wellenlängenbereichs durch eine Wellenlängenmodulation überlagert wird, das Messen eines Absorptionssignals aus der Absorption der Strahlung durch das Gas als Funktion der Wellenlänge der Strahlung, das Umwandeln des Absorptionssignals in ein erstes und in ein zweites Derivativsignal, das Ableiten einer ersten Gaskonzentrationsmessgröße aus dem ersten Derivativsignal und einer zweiten Gaskonzentrationsmessgröße aus dem zweiten Derivativsignal, und das Bestimmen der Konzentration und/oder Zusammensetzung des Gases aus zumindest der ersten Gaskonzentrationsmessgröße, wobei die Wellenlängenmodulation in Reaktion auf eine Änderung einer Zustandsgröße des Gases derart angepasst wird, dass ein Größenverhältnis zwischen der ersten Gaskonzentrationsmessgröße und der zweiten Gaskonzentrationsmessgröße im Wesentlichen konstant gehalten wird.

    Abstract translation: 一种用于确定样本和/或气体的通过光谱仪的装置的组合物中的气体的浓度的方法包括发射辐射的波长穿过的波长范围实质上连续的波长范围内的连续的传递是通过一波长调制叠加,测量 从辐射的吸收由气体作为辐射的波长的函数的吸收信号,吸收信号转换成第一和成第二Derivativsignal,导出从第一Derivativsignal第一气体浓度测量变量和来自第二Derivativsignal的第二气体浓度测量变量,并且 确定从至少所述第一气体浓度测量变量,其中所述波长调制响应于所述气体的状态量的变化以这样的方式的气体的浓度和/或组成 被适配成使得所述第一气体浓度测量变量和第二气体浓度测量变量之间的尺寸比保持基本恒定。

    Correction of a mixture gas effect in measuring based on radiation absorption
    138.
    发明公开
    Correction of a mixture gas effect in measuring based on radiation absorption 失效
    在Abssorptionsmessungen混合气体交叉灵敏度的校正

    公开(公告)号:EP0834733A3

    公开(公告)日:1999-12-15

    申请号:EP97660096.5

    申请日:1997-09-08

    CPC classification number: G01N11/00 G01N21/3504 G01N2201/1215

    Abstract: A measuring device for determining the concentration of such gas components from a gas mixture, which includes collision dilation of the absorption lines constituting the absorption spectral bands for measuring objects. The device comprises a non-dispersive concentration measuring sensor (20), which includes: a measuring chamber (6) containing a gas mixture to be analyzed; a radiation source (17) for emitting over a wavelength range which includes an absorption spectral band used in concentration determination; a detector (18) receiving radiation that has passed through the measuring chamber and for producing a first signal (7) therefrom; as well as an optical bandpass filter (16) positioned between the detector and the radiation source. The measuring device further comprises a second measuring sensor (4) for identifying the viscosity or some other viscosity-related feature of a gas mixture to be analyzed and for producing a second signal (9). Both signals (7, 9) are delivered to a calculating unit (8), which uses at least a second signal for performing the corrections required for the first signal. In addition, the device is provided with a display means (10).

    IMPROVED PHOTOMETER
    140.
    发明公开
    IMPROVED PHOTOMETER 失效
    改进的光度计。

    公开(公告)号:EP0587881A1

    公开(公告)日:1994-03-23

    申请号:EP93912193.0

    申请日:1993-04-05

    CPC classification number: G01N21/33 G01N21/314 G01N2021/3166 G01N2201/1215

    Abstract: Un spectrophotomètre d'émission possède un miroir d'intersection (17) sélectif en fonction du spectre et situé immédiatement dans le trajet d'émission d'une lampe ultraviolette (16), de façon à réfléchir le rayonnement de longueurs d'ondes inférieures à 265 nm et à transmettre uniquement des longueurs d'ondes supérieures à 265 nm. Un miroir de captation sphérique (20) contigu au filtre (17) capte le rayonnement filtré provenant de la lampe (16) et le focalise sur le miroir (28). Un premier et un deuxième miroir sélectif en fonction du spectre, (42) et (44) respectivement, sont situés en série le long du faisceau réfléchi par le miroir de réduction (28). Chaque miroir spectral réfléchit un faisceau de longueurs d'ondes sélectionnées vers un détecteur à semi-conducteurs correspondants (50) et (51). Le premier miroir sélectif (42) divise le faisceau (18), en fonction du spectre, en deux faisceaux (18a) et (18b) possédant des longueurs d'ondes différentes. Le faisceau réfléchi (18a) est le faisceau échantillon, qui est réfléchi vers le détecteur (50). Les longueurs d'ondes du faisceau (18) transmis par le miroir spectral (42) heurtent le deuxième miroir sélectif (44) qui réfléchit une bande différente de longueurs d'ondes, le faisceau (18b), c'est-à-dire le faisceau d'interférence et de référence, vers le deuxième détecteur (51). On soustrait le signal échantillon du signal d'interférence et de référence.

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