-
公开(公告)号：KR1020130031180A
公开(公告)日：2013-03-28
申请号：KR1020110136090
申请日：2011-12-16
Applicant: 한국기초과학지원연구원
CPC classification number: H01J49/161 , H01J49/0022 , H01J49/08 , H01J49/424 , Y10T29/49826
Abstract: PURPOSE: An ionization source securing device of a mass spectrometer using an UV diode and a micro channel plate is provided to reduce size and weight by supplying a required amount of electron beams when needed. CONSTITUTION: An UV diode(110) emits an ultraviolet ray to the inside of vacuum chamber of a mass spectrometer. A microchannel plate electron multiplication board(120) induces and amplifies the discharging of the initial electrons of UV photons and secures the bulk of electron beams at a rear plate. An electron integrating lens(130) integrates an amplified electronic beam. An ion trap mass spectrometer(140) ionizes gas sample molecules with an injected electron beam. An ion detector(150) detects an ion separated from the ion trap mass spectrometer with a mass spectrum. [Reference numerals] (AA) Detect signal
Abstract translation: 目的：提供使用UV二极管和微通道板的质谱仪的电离源固定装置，以便在需要时提供所需量的电子束来减小尺寸和重量。 构成：UV二极管（110）向质谱仪的真空室内部发射紫外线。 微通道板电子倍增板（120）诱导和放大UV光子的初始电子的放电，并将大部分电子束固定在后板上。 电子积分透镜（130）对放大的电子束进行积分。 离子阱质谱仪（140）利用注入的电子束对气体样品分子进行电离。 离子检测器（150）利用质谱检测离子阱质谱仪分离的离子。 （标号）（AA）检测信号
-
公开(公告)号：TW262534B
公开(公告)日：1995-11-11
申请号：TW083110375
申请日：1994-11-09
Applicant: 馬克迪電子公司
Inventor： 多納德.G.艾力士 , 艾力士山度.J.米克 , 諾曼.W.貝爾
IPC: G01N
CPC classification number: H01J49/0422 , H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/4215
Abstract: 一種用於質譜計（ mass spectrometer ）之氣體分析方法及裝置，其包括：一離子泵，用於在該質譜計內產生內部真空；一離子室；一入口通道，氣體樣品經該通道導入離子室；閥裝置，其聯結該入口通道，用於控制導入離子室之氣體樣品容量；一絲狀陰極，其用於導引電子進入離子室，因而，電子撞擊氣體樣品而形成離子；一萃取板（ extractor plate ），其定位在鄰接該離子室，且受偏壓而使得一部份離子及電子允許通過該萃取板；一四極過濾器，離子及電子受萃取板所導引進入該過濾器，四極過濾器作業而允許具有預選質量對電荷比之離子流通過過濾器，而不具有預選質量對電荷比之離子和該離子流分離；導引裝置，其用於在該四極過濾器區中導引電子朝向不具有預選質量對電荷比之離子方向，使得電子結合離子；一感測器，用於檢測通過四極過濾器之離子流；及分析裝置，其連接該感測器，用於分析該氣體樣品之成分。
Abstract in simplified Chinese: 一种用于质谱计（ mass spectrometer ）之气体分析方法及设备，其包括：一离子泵，用于在该质谱计内产生内部真空；一离子室；一入口信道，气体样品经该信道导入离子室；阀设备，其联结该入口信道，用于控制导入离子室之气体样品容量；一丝状阴极，其用于导引电子进入离子室，因而，电子撞击气体样品而形成离子；一萃取板（ extractor plate ），其定位在邻接该离子室，且受偏压而使得一部份离子及电子允许通过该萃取板；一四极过滤器，离子及电子受萃取板所导引进入该过滤器，四极过滤器作业而允许具有预选质量对电荷比之离子流通过过滤器，而不具有预选质量对电荷比之离子和该离子流分离；导引设备，其用于在该四极过滤器区中导引电子朝向不具有预选质量对电荷比之离子方向，使得电子结合离子；一传感器，用于检测通过四极过滤器之离子流；及分析设备，其连接该传感器，用于分析该气体样品之成分。
-
公开(公告)号：JP5657812B2
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：JP2013543768
申请日：2011-12-14
Inventor： アレクサンダー アレクセエビッチ マカロフ , アレクサンダー アレクセエビッチ マカロフ
CPC classification number: H01J49/282 , H01J49/027 , H01J49/08 , H01J49/38 , H01J49/4245
-
公开(公告)号：JP2015007614A
公开(公告)日：2015-01-15
申请号：JP2014103955
申请日：2014-05-20
Applicant: アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc. , Agilent Technologies Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
Inventor： PREST HARRY F , WANG MINGDA , KERNAN JEFFREY T
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/0031 , H01J49/147
Abstract: 【課題】70eVの上下両方のエネルギー範囲にわたって実効的にサンプル材料をイオン化することができ、それにより、EIをイオン化動作に対してより万能な手法にするEI源が必要とされている。【解決手段】電子イオン化(EI)源を利用して質量分析が実行される。そのEI源は、70eVの上下を含む、種々の電子エネルギーにおいてサンプルをイオン化する。そのEI源は、ソフトイオン化及びハードイオン化のために利用することができる。電子エネルギーの値は、分子イオンの形成、又は高い分析値の他のイオンの形成を促進するように選択することができる。イオン源は軸方向イオン源とすることができる。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供能够以70 eV以下的能量范围内电离样品材料的EI源，从而使EI成为电离操作更通用的方法。解决方案：利用质谱法 电子电离（EI）源。 EI源以不同的电子能量离子化样品，包括低于70 eV以上。 EI源可以用于软电离以及硬质电离。 可以选择电子能量的值，以有利于分子离子或其它具有高分析值的离子的形成。 离子源可以是轴向离子源。
-
公开(公告)号：JP2014501429A
公开(公告)日：2014-01-20
申请号：JP2013543768
申请日：2011-12-14
Applicant: サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー
Inventor： アレクサンダー アレクセエビッチ マカロフ
CPC classification number: H01J49/282 , H01J49/027 , H01J49/08 , H01J49/38 , H01J49/4245
Abstract: 質量分析計と、質量分析計のためのイオン検出方法とが提供される。 静電界発生器は、ある方向にイオンパケットを振動させる静電界を設ける。 イオン振動周期より著しく短い持続時間にわたって、またはイオン調和運動のスパンよりも著しく小さい幅を有するパルス検出電極を使用して、パルス過渡信号が検出される。 調波過渡信号も検出される。 次に、パルス過渡信号と調波過渡信号とに基づいて、質量電荷比に対するイオン強度が特定される。
Abstract translation: 提供了用于质量分析仪的质量分析仪和离子检测方法。 静电场发生器提供静电场，使离子包沿着一个方向振荡。 在比离子振荡的周期短的持续时间内检测脉冲瞬态信号，或使用具有明显小于离子谐波运动的跨度的宽度的脉冲检测电极。 还检测到谐波瞬态信号。 然后基于脉冲瞬态信号和谐波瞬态信号来识别关于质荷比的离子强度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP5044835B2
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：JP2009525884
申请日：2007-07-27
Applicant: インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Inventor： ナップ，ボルフラム , ブエスト，マーティン
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/16
-
147.发明专利
公开(公告)号：JP2008034343A
公开(公告)日：2008-02-14
申请号：JP2007023358
申请日：2007-02-01
Applicant: Nuflare Technology Inc , 株式会社ニューフレアテクノロジー
Inventor： RENDALL RODNEY , ABE TOMOHIKO
IPC: H01J37/067 , H01J37/305 , H01L21/027
CPC classification number: H01J37/065 , H01J3/021 , H01J3/027 , H01J37/067 , H01J49/08 , H01J2237/061 , H01J2237/26 , H01J2237/28
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electron gun having a rotatable structure suitably used in an electron beam system.
SOLUTION: This structure 200 is equipped with a first portion 400 having a generally circular cross section around a first rotation axis and including a first engagement end part and a first outer end part at its both ends, and a second portion 402 having a generally circular cross section around a second rotation axis and including a second engagement part and a second outer end part at its both ends. The first outer end part and the second end part include annular protrusions 302, 304 respectively. The first and second engagement parts have the substantially same inner diameters and the substantially same outer diameters, and include recessed parts 418, 420 formed at regular intervals along each of them. The first and second engagement end parts are joined so that the first and second rotation axes are aligned and the corresponding recessed parts 418, 420 of the first and second engagement end parts are aligned, and under this condition, each of openings 300 is formed so that the aligned recessed part receives an electron source.
COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPITAbstract translation: 要解决的问题：提供一种具有适用于电子束系统的可旋转结构的电子枪。 解决方案：该结构200配备有第一部分400，第一部分400具有围绕第一旋转轴线的大致圆形的横截面，并且在其两端包括第一接合端部和第一外端部分，第二部分402具有 围绕第二旋转轴线的大致圆形横截面，并且在其两端包括第二接合部分和第二外端部分。 第一外端部和第二端部分别包括环形突起302,304。 第一和第二接合部分具有基本上相同的内径和基本上相同的外径，并且包括沿着它们沿规则间隔形成的凹部418,420。 第一和第二接合端部被接合，使得第一和第二旋转轴线对齐，并且第一和第二接合端部分的相应凹部418,420对准，并且在该状态下，每个开口300形成为 对准的凹陷部分接收电子源。 版权所有（C）2008，JPO＆INPIT
-
公开(公告)号：JP2007248333A
公开(公告)日：2007-09-27
申请号：JP2006073916
申请日：2006-03-17
Applicant: Hamamatsu Photonics Kk , Rigaku Corp , 株式会社リガク , 浜松ホトニクス株式会社
Inventor： ARII TADASHI , TAKADA YOSHIHIRO , OTAKE TOMOJI , MATSUURA YOSHIKI
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N27/64 , H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/162
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To correctly analyze a plurality of molecular ingredients on real time based on the PI-method contained in the gas generated instantaneously by making the plurality of molecular ingredients mutually simultaneously ionization object by the PI (photo-ionization)-method. SOLUTION: The gas analyzer comprises: the gas carrier device 4 for carrying gas generated from the sample S in the sample chamber R0; ionization device 19 for ionizing the gas; the quadrupole filter 21 for separating ions for every mass to charge ratio; and the ion detection device 22 for detecting the separated ions. The ionization device 19 is composed of ionization regent provided at the vicinity of the gas discharge port of the gas carrier device 4 and the lamp 33A for irradiating the ionization regent with light. The lamp 33A irradiates the light of lower directivity than the laser beam, therefore the light propagates divergently. Consequently, The gas entered the ionization region of the ionization device 19 is irradiated with the light, and the plurality of gas ingredients in the area are simultaneously ionized. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
Abstract translation: 要解决的问题：为了通过PI（光电离）使多个分子成分相互同时离子化对象，基于通过瞬时产生的气体中包含的PI方法实时正确地分析多种分子成分， -方法。 气体分析仪包括：用于承载从样品室R0中的样品S产生的气体的气体载体装置4; 离子化装置19，用于电离气体; 用于将每个质荷比的离子分离的四极过滤器21; 以及用于检测分离的离子的离子检测装置22。 电离装置19由设置在气体载体装置4的气体排出口附近的离子化试剂和用于用光照射离子化试剂的灯33A构成。 灯33A照射比激光束低的方向性的光，因此光分散地传播。 因此，进入电离装置19的电离区域的气体被光照射，并且该区域中的多个气体成分同时离子化。 版权所有（C）2007，JPO＆INPIT
-
公开(公告)号：KR101849634B1
公开(公告)日：2018-04-19
申请号：KR1020150183951
申请日：2015-12-22
Applicant: 한국기초과학지원연구원
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/422 , H01J49/424
Abstract: 본발명은질량분석기의전자빔주입제어에관한것이다. 본발명의질량분석기는구형파와정현파중 하나의형태를갖는기준파형신호를생성하는기준파형생성기, 기준파형신호에동기화된동기신호를생성하는파형생성기, 기준파형신호로부터알에프(RF) 전압신호를생성하고, RF 전압신호를이온트랩내부의 RF 전극으로인가하는 RF 모듈, 입력되는제어신호에따라이온트랩내부로주입되는전자빔의생성을위한자외선(UV) 다이오드의동작을제어하는전자빔생성기, 및구형파신호를이용하여제어신호를발생하는제어회로를포함한다.
-
公开(公告)号：KR1020160083785A
公开(公告)日：2016-07-12
申请号：KR1020150058163
申请日：2015-04-24
Applicant: 한국기초과학지원연구원
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/422 , H01J49/424
Abstract: 본발명은질량분석기의전자빔주입제어에관한것이다. 본발명의질량분석기는정현파신호를생성하는기준파형생성기, 정현파신호를입력받고, 정현파신호를구형파신호로변환하는파형생성기, 입력되는제어신호에따라이온트랩내부로주입되는전자빔의생성을위한자외선(UV) 다이오드의동작을제어하는전자빔생성기, 및구형파신호를이용하여제어신호를발생하는제어회로를포함한다.
Abstract translation: 本发明涉及质谱仪的电子束注入控制。 本发明的质谱仪包括：产生正弦波信号的参考波形发生器; 波形发生器，其输入正弦信号，并将正弦波信号转换为方波信号; 电子束发生器，其响应于输入的控制信号控制紫外线（UV）二极管的操作以产生注入到离子阱中的电子束; 以及使用方波信号产生控制信号的控制电路。 本发明的质谱仪通过电子束注入使注入离子阱的电子量最大化。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
158
records
(took 0.029 seconds)
