公开(公告)号：CN104501956A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201410851351.3

申请日：2014-12-30

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 张天序 ,  张宏 ,  费锦东

IPC: G01J3/28 ,  G01N21/25 ,  G01N21/359 ,  G01N21/3581 ,  G06K9/00

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01B11/002 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/36

Abstract: 本发明公开了一种超宽波段图谱关联探测装置，包括扫描转镜、卡氏反射镜组、分光镜、反射镜、宽光谱透镜组、可见及近红外透镜组、长波成像透镜组、电荷耦合元件成像单元、焦平面阵列成像单元、傅里叶测谱单元和光栅测谱单元。本发明利用长波红外成像及可见近红外成像初步识别目标并引导测谱，利用测谱完成目标精确识别，解决现有探测装置探测波段不全，光路布局受限，设备体积大，探测动目标和动态变化对象能力差的难题。本发明体积较小、集成度高、使用方便灵活，对动目标和外部景物的动态变化可以实现超宽波段的图谱观测，还能实现对各种目标自动切换跟踪与辨识可广泛应用于国民经济及国家安全领域。

公开(公告)号：CN102834702B

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201180016678.3

申请日：2011-03-16

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/24

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/18

Abstract: 在分光模块（1）中，因为除了分光部（4）和光检测元件（5）之外还设有分光部（8）和光检测元件（9），所以相对于宽波长范围的光和不同波长范围的光能够提高检测灵敏度。再有，因为将光通过孔（5b）以及光吸收层（12）设置于光检测部（5a）与光检测部（9a）之间，并以与该光吸收层（12）（即区域（R））相对的方式设置反射部（7），所以能够防止大型化。另外，环境光（ambient light）（La）被光吸收层（12）吸收。于是，即使使环境光（La）的一部分透过光吸收层（12）的区域（R），由于该一部分的光由以与区域（R）相对的方式设置的反射部（7）而被反射到区域（R）侧，所以也能够抑制起因于环境光（La）的入射的杂散光的发生。

公开(公告)号：CN102656431B

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201080058824.4

申请日：2010-12-13

Applicant: 莱布尼茨解析科学学院

Inventor： S.弗洛雷克 ,  H.贝克-罗斯 ,  M.奥克鲁斯

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/14

CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/14 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/1828

Abstract: 一种光谱仪布置（10），其包含有中阶梯光栅（18；46）以用于把入射到该光谱仪布置（10）中的射线在主散射方向上进行散射，以及散射布置（16；40）以用于把由入射到该光谱仪布置中的射线所生成的平行射束在横向散射方向上进行散射，其特征在于，该散射布置（16；40）构造为反射性的，并关于该中阶梯光栅（18；46）如此来布置，使得该平行射束被反射到该中阶梯光栅的方向上。该中阶梯光栅（18；46）可以优选地如此来布置，使得被分散的射线被反射返回到该散射布置（16；40）的方向上。

公开(公告)号：CN102265140B

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN200980152349.4

申请日：2009-12-22

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 原田邦男 ,  足立作一郎 ,  山崎功夫

IPC: G01N21/59 ,  G01N35/04

CPC classification number: G01N21/59 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/10 ,  G01N21/0332 ,  G01N2201/062

Abstract: 在检测在试样中包含的成分量的分析系统中，使光度计小型、低价格化，并且在系统全体中可以同时测定大量样本。使用发热少、寿命长的LED作为光源，通过使光轴不为一条直线地弯曲来进行小型化，通过共用弯曲光轴的部件和在为了确保光量而聚光中使用的部件来减少部件个数，同时，通过小型化减少部件个数以及一体化，容易进行光轴调整，实现高精度的测量。

公开(公告)号：CN103808409A

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201310553498.X

申请日：2013-11-08

Applicant: 通用电气航空系统有限责任公司

Inventor： T.B.塞巴斯蒂安 ,  S.C.M.斯托茨 ,  E.D.比勒 ,  B.T.奥基平蒂

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/08 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/2826 ,  G02B26/0816 ,  G02B27/1013 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/332

Abstract: 一种多光谱凝视阵列，其中包括：至少两个传感器，其中每个传感器适于以不同的预定光谱感光度检测图像；用于聚焦捕获光谱带的第一透镜；透镜和传感器之间的光谱滤波器，用于细分入射光谱带；以及第二透镜，用于将细分的入射光谱带引导和聚焦到每个传感器上。

公开(公告)号：CN103727880A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201310478380.5

申请日：2013-10-14

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 辻井敦 ,  千田直道 ,  西田和史

IPC: G01B11/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/026 ,  G01B11/0608 ,  G01B2210/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。

公开(公告)号：CN103649726A

公开(公告)日：2014-03-19

申请号：CN201280017574.9

申请日：2012-03-06

Applicant: 堀场仪器株式会社

Inventor： 亚当·M·吉尔摩 ,  晓梅·佟

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01N33/18 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J3/42 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/33 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/1734 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6491 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/127

Abstract: 一种用于分析样品的系统或方法，包括一个输入光源、一个被定位成用于从该输入光源接收光并用多个波长中的每一个波长循序地照亮该样品的双减色单色仪、一个被定位成用于接收并基本同时检测该样品对该多个激发波长中的每一个激发波长发射的多个光波长的多通道荧光检测器、一个被定位成用于接收并检测穿过该样品的光的吸收检测器、以及一个与该单色仪、该荧光检测器及该吸收检测器通信的计算机，该计算机控制该单色仪用该多个波长中的每一个波长循序地照亮该样品，同时基于从该荧光和吸收检测器接收到的多个信号测量该样品的吸收和荧光。

公开(公告)号：CN103250036A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201180058100.4

申请日：2011-11-30

Applicant: 威廉马什赖斯大学

Inventor： T·S·特卡兹克 ,  M·皮尔塞

IPC: G01J3/28 ,  A61B5/00

CPC classification number: G01B9/02091 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/6852 ,  G01J3/021 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/453

Abstract: 基于影像测绘的光学相干层析成像技术。一种用于样品成像的方法。该方法包括，在单次探测事件中，从样品上的采样点接受该点对应的包含深度编码的电磁场，并按照各个对应的预先设定好的方向将这些电磁场重定向色散成像仪上。该方法还包括：将这些包含深度编码的电磁场进行谱域分散，获得对应的光谱，并将这些光谱在探测器上重新成像，最后使用探测器对这些光谱进行检测。

公开(公告)号：CN102269622B

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN201010270454.2

申请日：2010-09-02

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 李国光 ,  严晓浪 ,  马铁中 ,  艾迪格·基尼欧 ,  刘涛

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G01B11/24 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供一种垂直入射光谱仪。该垂直入射光谱仪包括光源、分光元件、聚光单元、第一平面反射元件和探测单元，其中：分光元件设置于聚光单元和探测单元之间的光路中，用于使来自光源的光束在入射至聚光单元之前部分地通过，以及接收从样品上反射的、且依次经过第一平面反射元件和聚光单元的光束并将该光束反射至探测单元；聚光单元用于通过分光元件接收来自光源的光束并使该光束变成会聚光束；第一平面反射元件用于接收会聚光束并将会聚光束反射后垂直地聚焦到样品上；以及探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过第一平面反射元件、聚光单元和分光元件的光束。该垂直入射宽带光谱仪结构简单，不仅易于调节聚焦，还可实现无色差，且可保持探测光束偏振状态。

公开(公告)号：CN102338662B

公开(公告)日：2013-06-12

申请号：CN201110147474.5

申请日：2011-06-02

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 刘涛 ,  李国光 ,  艾迪格·基尼欧 ,  马铁中 ,  严晓浪

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/02 ,  G01B11/06 ,  G01B11/24 ,  G01N21/21 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供了一种易于调节聚焦的、可实现无色差的、可保持偏振特性的、且结构简单的斜入射宽带光谱仪。该斜入射宽带光谱仪包含至少两个偏振器、至少一个相位补偿元件、至少两个曲面反射元件和至少两个平面反射元件的斜入射宽带光谱仪。斜入射宽带光谱仪利用平面反射元件改变光束传播方向，并且可补偿因反射聚光单元引起的偏振变化，使得光束经相位补偿元件后的偏振特性在斜入射并会聚于样品表面时保持不变。本发明的斜入射宽带光谱仪，能够高精确度地测量样品材料的光学常数、薄膜厚度和/或用于分析周期性结构的样品的临界尺度(CD)或三维形貌。