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公开(公告)号：CN110971657A
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201910922896.1
申请日：2019-09-27
Applicant: 横河电机株式会社
Abstract: 一种服务提供系统包括云平台，所述云平台包括：安全数据库，该安全数据库存储设备ID和与设备ID对应的一对公钥和私钥；和通信服务器，该通信服务器与安全数据库进行通信，该通信服务器：与客户端设备进行通信；从客户端设备接收发行安全令牌的请求，该请求包括客户端设备的设备ID和经公钥加密的数据；通过参考安全数据库确定加密数据是否可以用与客户端设备对应的私钥进行解密；并且响应于用该私钥解密所述加密数据，发行安全令牌并将其传输到客户端设备。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103727880A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310478380.5
申请日：2013-10-14
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B2210/50 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/50
Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。
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公开(公告)号：CN110971657B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN201910922896.1
申请日：2019-09-27
Applicant: 横河电机株式会社
Abstract: 一种服务提供系统包括云平台，所述云平台包括：安全数据库，该安全数据库存储设备ID和与设备ID对应的一对公钥和私钥；和通信服务器，该通信服务器与安全数据库进行通信，该通信服务器：与客户端设备进行通信；从客户端设备接收发行安全令牌的请求，该请求包括客户端设备的设备ID和经公钥加密的数据；通过参考安全数据库确定加密数据是否可以用与客户端设备对应的私钥进行解密；并且响应于用该私钥解密所述加密数据，发行安全令牌并将其传输到客户端设备。
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公开(公告)号：CN103727880B
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201310478380.5
申请日：2013-10-14
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B2210/50 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/50
Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。
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公开(公告)号：CN102654454B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210040057.5
申请日：2012-02-20
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01N21/3554 , G01N21/86 , G01N33/34
CPC classification number: G01N21/3554 , G01N21/3559 , G01N21/86 , G01N33/346 , G01N2201/0627 , G01N2201/0631
Abstract: 本发明提供一种红外线分析装置，其使用红外光分析检查对象物的特性，具有：第1测头，其具有多个光源和多边形状的光学元件，上述光源配置在上述检查对象物的一侧，出射应向上述检查对象物照射的波长不同的红外光，上述光学元件配置在该光源和上述检查对象物之间，使从上述多个光源出射的各种红外光多重反射，从而使强度分布均匀化；以及第2测头，其具有检测器，上述检测器配置在上述检查对象物的另一侧，检测经由上述检查对象物的红外光。
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公开(公告)号：CN102654454A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201210040057.5
申请日：2012-02-20
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01N21/35
CPC classification number: G01N21/3554 , G01N21/3559 , G01N21/86 , G01N33/346 , G01N2201/0627 , G01N2201/0631
Abstract: 本发明提供一种红外线分析装置，其使用红外光分析检查对象物的特性，具有：第1测头，其具有多个光源和多边形状的光学元件，上述光源配置在上述检查对象物的一侧，出射应向上述检查对象物照射的波长不同的红外光，上述光学元件配置在该光源和上述检查对象物之间，使从上述多个光源出射的各种红外光多重反射，从而使强度分布均匀化；以及第2测头，其具有检测器，上述检测器配置在上述检查对象物的另一侧，检测经由上述检查对象物的红外光。
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