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    REGRESSION CALIBRATED SPECTROSCOPIC ROTATING COMPENSATOR ELLIPSOMETER SYSTEM WITH PHOTO ARRAY DETECTOR
    181.
    发明申请
    REGRESSION CALIBRATED SPECTROSCOPIC ROTATING COMPENSATOR ELLIPSOMETER SYSTEM WITH PHOTO ARRAY DETECTOR 审中-公开
    具有照相阵列检测器的回归校准光谱旋转补偿器ELLIPSOMETER系统

    公开(公告)号：WO98039633A1

    公开(公告)日：1998-09-11

    申请号：PCT/US1998/002390

    申请日：1998-02-02

    IPC: G01J3/28 ,  G01J3/447 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21

    CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/447 ,  G01J4/00 ,  G01J2003/2866

    Abstract: A spectroscopic rotating compensator material system investigation system including a photo array (DE's) for simultaneously detecting a multiplicity of wavelengths is disclosed. The spectroscopic rotating compensator material system investigation system is calibrated by a mathematical regression based technique involving, where desirable, parameterization of calibration parameters. Calibration is possible of calibration parameters. Calibration is possible utilizing a single two-dimensional data set obtained with the spectroscopic rotating compensator material system investigation system in a "material system present" or in a "straight-through" configuration.

    Abstract translation: 公开了一种包括用于同时检测多个波长的光阵列（DE）的分光旋转补偿材料系统调查系统。 光谱旋转补偿器材料系统调查系统通过基于数学回归的技术进行校准，其涉及校准参数的参数化。 标定参数校准是可能的。 使用在“材料系统存在”或“直通式”配置中的分光旋转补偿器材料系统调查系统获得的单个二维数据集可以进行校准。

    SENSOR APPARATUS WITH POLARIZATION MAINTAINING FIBERS
    182.
    发明申请
    SENSOR APPARATUS WITH POLARIZATION MAINTAINING FIBERS 审中-公开
    传感器装置与偏振维护纤维

    公开(公告)号：WO1998015856A1

    公开(公告)日：1998-04-16

    申请号：PCT/US1997017494

    申请日：1997-09-25

    Applicant: CORNING INCORPORATED ,  NOLAN, Daniel, A.

    Inventor： CORNING INCORPORATED

    IPC: G02B06/00

    CPC classification number: G01M11/083 ,  G01D5/344 ,  G01D5/35383 ,  G01J4/00 ,  G01K11/32 ,  G02B6/105

    Abstract: A distributed sensor (10) includes a plurality of stages (24, 28, 32, 36, 40) connected in series, each stage incorporating a length of polarization maintaining fiber (12) exposed to a phenomena such as mechanical deformation or temperature to be sensed. Inter-mode couplers are provided between the sensing fibers (26, 30, 34, 38) of the various stages. The overall transfer function of the device at a plurality of wavelengths is deconvoluted to determine the birefringence of each sensing region and does monitor plural phenomena independently of one another.

    Abstract translation: 分布式传感器（10）包括串联连接的多个级（24,28,32,36,40），每级包括暴露于诸如机械变形或温度等现象的一段偏振保持光纤（12） 检测。 在各级的感测光纤（26,30,34,38）之间提供了模式间耦合器。 在多个波长处的器件的整体传递函数被去卷积以确定每个感测区域的双折射，并且彼此独立地监视多个现象。

    FIVE-AXIS/SIX-AXIS LASER MEASURING SYSTEM
    184.
    发明申请
    FIVE-AXIS/SIX-AXIS LASER MEASURING SYSTEM 审中-公开
    五轴/六轴激光测量系统

    公开(公告)号：WO1998007012A1

    公开(公告)日：1998-02-19

    申请号：PCT/US1997014339

    申请日：1997-08-15

    Applicant: AUTOMATED PRECISION, INC.

    Inventor： AUTOMATED PRECISION, INC. ,  LAU, Kam, C. ,  LIU, Yuan-Qen

    IPC: G01J04/00

    CPC classification number: G01B11/26 ,  G01D5/344 ,  G01J4/00

    Abstract: A 6-axis laser measurement system (300) includes a novel 5-D measurement apparatus and precision laser roll detector system (100). The 5-D system (105) measures pitch, yaw, X, Y, Z displacements with a single setup of a laser head (102) and detection housing (302). The laser roll detector (100) uses a polarizing prism (104) such as a Glan-Thompson prism, and at least two photodetectors (D1, D2, D3, D4). A linearly polarized laser beam enters the prism (104), and the beam is split into two polarized components, the intensities of which vary with roll orientation of the detector (105) relative to the polarized laser beam. The outputs of the two detectors (D1, D2) are connected to the positive and negative inputs, respectively, of a high gain differential amplifier (108) which provides roll output.

    Abstract translation: 6轴激光测量系统（300）包括新型的5-D测量装置和精密激光辊检测器系统（100）。 5-D系统（105）通过激光头（102）和检测壳体（302）的单个设置来测量俯仰，偏航，X，Y，Z位移。 激光辊检测器（100）使用诸如Glan-Thompson棱镜的偏振棱镜（104）和至少两个光电检测器（D1，D2，D3，D4）。 线性偏振激光束进入棱镜（104），并且光束被分成两个偏振分量，其强度随检测器（105）相对于偏振激光束的滚动方向而变化。 两个检测器（D1，D2）的输出分别连接到提供滚动输出的高增益差分放大器（108）的正和负输入端。

    METHOD AND APPARATUS FOR URINALYSIS, METHOD OF MEASURING OPTICAL ROTATION AND POLARIMETER
    185.
    发明申请
    METHOD AND APPARATUS FOR URINALYSIS, METHOD OF MEASURING OPTICAL ROTATION AND POLARIMETER 审中-公开
    用于尿素分析的方法和装置，测量光学旋转和偏光的方法

    公开(公告)号：WO1997018470A1

    公开(公告)日：1997-05-22

    申请号：PCT/JP1996003368

    申请日：1996-11-15

    Applicant: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. ,  KAWAMURA, Tatsurou ,  ONISHI, Hiroshi ,  SONODA, Nobuo

    Inventor： MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.

    IPC: G01N33/493

    CPC classification number: G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N33/493

    Abstract: An apparatus for urinalysis which requires easy maintenance without using articles of consumption by measuring the optical rotation of urine to determine the concentration of optically active substances in the urine. Polarized light is transmitted through a sample placed in a magnetic field, and a polarimeter detects the change in the direction of polarization of light caused by the effect of the magnetic field. Thus, there are provided a small-sized low-cost reliable apparatus for urinalysis.

    Abstract translation: 一种用于尿液分析的装置，其需要通过测量尿液的旋光度来测量尿液中光学活性物质的浓度，而不需要消耗食物便于维护。 偏振光通过放置在磁场中的样品透射，并且偏振仪检测由磁场的影响引起的光的偏振方向的变化。 因此，提供了用于尿液分析的小尺寸的低成本可靠的装置。

    光波長檢測器及檢測方法
    186.
    发明专利
    光波長檢測器及檢測方法 审中-公开
    光波长检测器及检测方法

    公开(公告)号：TW201732241A

    公开(公告)日：2017-09-16

    申请号：TW105124845

    申请日：2016-08-04

    Applicant: 鴻海精密工業股份有限公司 ,  HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.

    Inventor： 張凌 ,  ZHANG, LING ,  吳揚 ,  WU, YANG ,  姜開利 ,  JIANG, KAI-LI ,  劉長洪 ,  LIU, CHANG-HONG ,  王佳平 ,  WANG, JIA-PING ,  范守善 ,  FAN, SHOU-SHAN

    IPC: G01J3/12

    CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/42 ,  G01J3/50 ,  G01J4/00 ,  G01J5/023 ,  G01J2003/507

    Abstract: 本發明涉及一種光波長檢測器，其包括：一探測元件，該探測元件用於接收待測光；一測量裝置，該測量裝置與該探測元件電連接；其中，該探測元件包括一奈米碳管結構，該奈米碳管結構包括複數奈米碳管沿同一方向延伸；該光波長檢測器包括一偏振片，該偏振片用於將待測光起偏為偏振光後入射到奈米碳管結構的部份表面，該測量裝置用於測量該奈米碳管結構中產生的溫度差或電勢差，該偏振片與該奈米碳管結構相對旋轉，改變偏振光的方向與該奈米碳管的延伸方向之間的夾角角度，通過比較不同夾角時測量得到的溫度差或電勢差獲得該待測光的波長值。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明涉及一种光波长检测器，其包括：一探测组件，该探测组件用于接收待测光；一测量设备，该测量设备与该探测组件电连接；其中，该探测组件包括一奈米碳管结构，该奈米碳管结构包括复数奈米碳管沿同一方向延伸；该光波长检测器包括一偏振片，该偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到奈米碳管结构的部份表面，该测量设备用于测量该奈米碳管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与该奈米碳管结构相对旋转，改变偏振光的方向与该奈米碳管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得该待测光的波长值。

    自由空間等效單模光纖應用於光纖感測器
    187.
    发明专利
    自由空間等效單模光纖應用於光纖感測器 审中-公开
    自由空间等效单模光纤应用于光纤传感器

    公开(公告)号：TW201300858A

    公开(公告)日：2013-01-01

    申请号：TW100106780

    申请日：2011-03-01

    Applicant: 財團法人國家實驗研究院 ,  NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES ,  國立成功大學 ,  NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY

    Inventor： 羅裕龍 ,  LO, YU LUNG ,  劉人仰 ,  LIU, REN YOUNG ,  顏志仲 ,  YEN, CHIH CHUNG ,  鐘逸凡 ,  CHUNG, YI FAN

    IPC: G02B6/27 ,  G02B6/12 ,  G01J4/00

    CPC classification number: G01J4/00 ,  G01C19/72 ,  G01J4/04 ,  G02B6/2793

    Abstract: 本發明提出以量測光纖或光纖元件等效光路，並加以補償的方式，使得每個光纖或光纖元件的特性如自由空間(Free Space)一般，以提昇光纖或光纖元件的複製性與穩定性。理論計算由繆勒-史托克矩陣(Muller-Stokes Matrix)偏光儀所得出的結果進行分析，再計算出光纖或光纖元件的等效瓊斯矩陣與轉成單位矩陣所需的補償。光纖或光纖元件的補償方式可加元件如可變延遲器(variable retarder)、半玻片(half-wave plate)等，或同等功能的極化控制器(polarization controller)。光纖或光纖元件的補償亦可不加元件如扭轉部份光纖製造等效的補償效應；或其它方式使得補償後的光纖或光纖元件等效光路為一單位矩陣(unit matrix)，如同自由空間一般。此項創新不僅大幅提升光纖及光纖元件的複製性，亦可大幅加快使用光纖與光纖元件的光纖感測器(如光纖陀螺儀等)的光路優化模擬演算速度。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提出以量测光纤或光纤组件等效光路，并加以补偿的方式，使得每个光纤或光纤组件的特性如自由空间(Free Space)一般，以提升光纤或光纤组件的复制性与稳定性。理论计算由缪勒-史托克矩阵(Muller-Stokes Matrix)偏光仪所得出的结果进行分析，再计算出光纤或光纤组件的等效琼斯矩阵与转成单位矩阵所需的补偿。光纤或光纤组件的补偿方式可加组件如可变延迟器(variable retarder)、半玻片(half-wave plate)等，或同等功能的极化控制器(polarization controller)。光纤或光纤组件的补偿亦可不加组件如扭转部份光纤制造等效的补偿效应；或其它方式使得补偿后的光纤或光纤组件等效光路为一单位矩阵(unit matrix)，如同自由空间一般。此项创新不仅大幅提升光纤及光纤组件的复制性，亦可大幅加快使用光纤与光纤组件的光纤传感器(如光纤陀螺仪等)的光路优化仿真演算速度。

    測量方法 MEASUREMENT METHOD
    188.
    发明专利
    測量方法 MEASUREMENT METHOD 审中-公开
    测量方法 MEASUREMENT METHOD

    公开(公告)号：TW200741814A

    公开(公告)日：2007-11-01

    申请号：TW096103023

    申请日：2007-01-26

    Applicant: 佳能股份有限公司 CANON KABUSHIKI KAISHA

    Inventor： 鹽出吉宏 SHIODE, YOSHIHIRO

    IPC: H01L ,  G01J

    CPC classification number: G03F7/706 ,  G01J4/00 ,  G01J2009/0261 ,  G03F7/70566

    Abstract: 一種用於將具有不同偏振方向之複數線性偏振光束照射在一目標光學系統上、及用於測量一包含雙折射量R及快軸���的目標光學系統之偏振特性的方法,該方法包含該等步驟:將具有偏振方向���之線性偏振光束照射在該目標光學系統上,且獲得一已通過該目標光學系統的光束之質心量P;及由P=-R‧cos(2���-���)或P=R‧cos(2���-���)獲得該雙折射量R與該快軸���。

    Abstract in simplified Chinese: 一种用于将具有不同偏振方向之复数线性偏振光束照射在一目标光学系统上、及用于测量一包含双折射量R及快轴���的目标光学系统之偏振特性的方法,该方法包含该等步骤:将具有偏振方向���之线性偏振光束照射在该目标光学系统上,且获得一已通过该目标光学系统的光束之质心量P;及由P=-R‧cos(2���-���)或P=R‧cos(2���-���)获得该双折射量R与该快轴���。

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