波长扫描激光器及其操作方法

    公开(公告)号:CN1167174C

    公开(公告)日:2004-09-15

    申请号:CN99800802.8

    申请日:1999-04-28

    Inventor: 尹锡贤 金炳允

    CPC classification number: H01S3/1112 H01S3/06791 H01S3/106

    Abstract: 本发明涉及波长扫描激光器和生成激光输出的方法。根据本发明一个实施例的波长扫描脉冲激光器使用自然锁模产生中心波长连续地随时间变化脉冲输出。反之,根据本发明另一实施例的波长扫描激光器则是通过将滤波器频率变化速度调节到频率移位器的频率移位速度以扼制锁模来产生连续输出。本发明激光器可以应用于光学感测或WDM光学通讯领域。

    极化探测装置与方法
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1165755C

    公开(公告)日:2004-09-08

    申请号:CN00803726.4

    申请日:2000-10-06

    Inventor: 郑浩镇 李峰玩

    CPC classification number: G01J4/04

    Abstract: 本发明涉及一种探测极化状态(SOP)的方法和装置。本发明中介绍的装置包括一个相位延迟器和一个极化器,他们都以不同的速度旋转。用本发明中介绍的方法,可探测到穿过旋转的相位延迟器和旋转的极化器的光信号,同时对与相位延迟器和极化器的旋转频率相关的谐波分量进行分析,通过频率分量分析可获得相位延迟器上的相位延迟量以及极化状态,减少了测量误差。目前的发明的优势在于可对更大波长范围内的SOP进行测量,增加了测量的准确性。

    利用反复的高速偏振扰频测量偏振依赖损耗的装置和方法

    公开(公告)号:CN1214258C

    公开(公告)日:2005-08-10

    申请号:CN02800671.2

    申请日:2002-02-07

    CPC classification number: G01M11/337 G02B6/105

    Abstract: 本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法,该损耗取决于入射光的偏振状态,即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备,该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器,同时光辐射探测器测量通过的光的强度,其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期,于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间,减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率,从而可以精确测量偏振依赖损耗。

    纤维光栅
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1136465C

    公开(公告)日:2004-01-28

    申请号:CN99800803.6

    申请日:1999-05-08

    Inventor: 金炳允 黄仁珏

    Abstract: 本发明涉及一种在纤维中诱发复数微弯曲的纤维光栅。本发明还涉及使用上述具有非对称模耦合特性的纤维光学设备,比如象纤维光学滤波器、纤维光学偏振器、纤维光学波长可调带通滤波器、纤维光学频率移位器。本发明显示了极强的机械耐久性、长期稳定性,即便在长期高温状态下也能防止光栅变性所造成的光纤维设备老化。尤其是,根据本发明的纤维光栅具有非对称的模耦合特性,它能广泛地应用于光纤维陷波滤波器、光纤维偏振器、光纤维波长可调带通滤波器、光纤维频率移位器等。

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