公开(公告)号：CN108204888A

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201611176118.5

申请日：2016-12-19

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 魏树弟 ,  张虎 ,  吴柯萱 ,  孙红胜

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明提供了一种仿真用红外动态场景模拟器现场校准装置，包括红外镜头、可旋转的滤光片轮、红外辐射校准黑体、红外FPA成像组件、帧频测量组件、控制单元。利用本发明可以现场快速测量动态场景模拟器的光谱范围、帧频、辐射温度、对比度、非均匀性、畸变、视场角等参数。综上，在该套装置上可实现对动态场景模拟器不同参数的现场校准，能够方便地全面评估动态场景模拟器的性能，解决一直以来存在的红外动态场景模拟器校准的规范性、系统性难题。

公开(公告)号：CN103677012A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310629300.1

申请日：2013-11-28

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 杨旺林 ,  魏建强 ,  刘亚平 ,  张玉国 ,  张虎

IPC: G05D23/24

Abstract: 本发明公开了一种提高真空面源黑体均匀性的精细划分控制系统，本系统包括温度控制仪表、温度传感器、信号调理电路、面源黑体辐射源；所述面源黑体辐射源设有N个区域，每一区域设置一加热片，所述信号调理电路为一分N信号调理电路；所述信号调理电路的电压信号输入端与所述温度控制仪表的电压信号输出端连接，其每一电压信号输出端口分别经一程控电源与一所述加热片连接；所述温度传感器设于所述面源黑体辐射源上，并通过数据线与所述温度控制仪表的信号输入端连接。本系统具有均匀性好、稳定速度快，而且结构简单、成本低。

公开(公告)号：CN103175607A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201310062602.5

申请日：2013-02-28

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 张虎 ,  孙红胜 ,  李世伟 ,  王加朋 ,  张玉国 ,  孙广尉 ,  魏建强

IPC: G01J1/00

Abstract: 本发明涉及紫外辐射量测量技术领域，具体的讲是一种真空紫外光谱辐照度标定方法及系统。获取紫外光源115nm-400nm波段范围的紫外光谱辐亮度L(λ)；获取该紫外光源250nm-400nm波段范围的紫外光谱辐照度E(λ)；利用Ω＝E(λ)/L(λ)，计算得到250nm-400nm波段范围的光源立体角Ω；根据所述250nm-400nm波段范围的光源立体角Ω得到115nm～250nm波段范围内的光源立体角Ω1；利用E1(λ)＝L(λ)·Ω1得到115nm～250nm波段范围内的紫外光谱辐照度E1(λ)。通过本发明实施例解决了光源真空紫外光谱辐照度标定波长下限不能达到250nm以下的难题。

公开(公告)号：CN103175607B

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201310062602.5

申请日：2013-02-28

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 张虎 ,  孙红胜 ,  李世伟 ,  王加朋 ,  张玉国 ,  孙广尉 ,  魏建强

IPC: G01J1/00

Abstract: 本发明涉及紫外辐射量测量技术领域，具体的讲是一种真空紫外光谱辐照度标定方法及系统。获取紫外光源115nm-400nm波段范围的紫外光谱辐亮度L(λ)；获取该紫外光源250nm-400nm波段范围的紫外光谱辐照度E(λ)；利用Ω＝E(λ)/L(λ)，计算得到250nm-400nm波段范围的光源立体角Ω；根据所述250nm-400nm波段范围的光源立体角Ω得到115nm～250nm波段范围内的光源立体角Ω1；利用E1(λ)＝L(λ)·Ω1得到115nm～250nm波段范围内的紫外光谱辐照度E1(λ)。通过本发明实施例解决了光源真空紫外光谱辐照度标定波长下限不能达到250nm以下的难题。