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公开(公告)号：CN104569888B
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201410816020.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种利用微带线法校准近场探头修正因子的系统及方法，该系统包括：置于微带线基板的微带线、可调信号源、频谱分析仪、近场探头和负载终端以及与频谱分析仪连接的数据处理单元；近场探头置于微带线上方，用于探测可调信号源经微带线向负载终端发送的信号；频谱分析仪用于连接微带线并测量可调信号源经微带线发送至频谱分析仪的信号的电压值；频谱分析仪还用于连接近场探头并测量近场探头探测得到的信号的电压值。本发明所述技术方案，采用与实际测试相近微带线产生的近场，校准出各校准频率点下近场探头的修正因子，为利用校准的修正因子去修正测试中的微带线辐射场做好准备，提高测量数据的准确性。
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公开(公告)号：CN104569588A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410796709.7
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明公开一种在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系；根据馈源位置、反射面位置和测试区的位置关系，确定扫描架的初始位置；对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求；在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面间设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差△x；根据光速、工作频率及相位关系，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中，能够满足高频时紧缩场平面波相位检测要求，提高紧缩场平面波相位检测精度。
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公开(公告)号：CN103645455A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310705549.6
申请日：2013-12-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种探头校准装置，该校准装置包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架；第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件；第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件；定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，第一连接板一端与定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接；第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接。通过简单的旋转移动即可调整探头位置，从而提高测试精度，工作效率。
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公开(公告)号：CN118425860A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202311852234.4
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本说明书公开了一种ns级电磁脉冲场探头校准系统、方法及装置，涉及脉冲场探头校准领域，旨在解决现有的校准系统对脉冲场探头的校准准确度较低的问题。本发明系统包括：脉冲源、定向耦合器、TEM室、衰减器、示波器、计算机；脉冲源产生脉冲电压信号；定向耦合器将脉冲电压信号耦合，产生第一直通信号、第二直通信号，第二直通信号馈入示波器的第三输入通道；第一直通信号经TEM室、衰减器后进入示波器的第一输入通道；设置在TEM室中的被校脉冲场探头获得电压信号进入示波器的第二输入通道；计算机根据U1、U2、U3，计算被校脉冲场探头的校准系数，对被校脉冲场探头进行校准。本发明提高脉冲场探头性能校准结果的准确度。
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公开(公告)号：CN118244012A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311810239.0
申请日：2023-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本说明书公开了一种宽带连续射频量子场强测量方法及装置，涉及射频电磁场测量领域，旨在解决现有技术中里德堡原子量子电场测量方案受限于现有偶极共振跃迁工作原理，测量带宽窄，不具有普适性，难以实现仪器化的问题。本发明包括确定里德堡原子能级；制备里德堡原子，并通过施加电场的方式测量里德堡原子的能级移动量；计算目标里德堡原子的极化率，并结合所述能级移动量进行射频电场强度的测量。本发明为传统标准装置的设计和改进提供实测可靠的数据支撑，能够更真实的还原被测的电场信息，为电磁环境特征提供有效测量工具，也可作为电磁兼容测量的新方案。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117630785A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311370211.X
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种集成电路静电放电模拟器校准组件，包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器。所述金属壳体设置有端口A、端口B、端口地。端口A和端口B之间连接所述电阻；所述端口B和端口地之间连接有导线。所述导线设置有所述电流探头，所述电流探头经所述衰减器连接到设置在金属壳体的测试端。本申请还包含使用所述组件进行测试的方法。本申请解决现有技术的测试过程中人工操作时存在不可靠性的问题。
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公开(公告)号：CN117039395A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311017034.7
申请日：2023-08-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了天线支撑方法及装置，解决了更换不同型号天线时会改变天线口面位置的问题。一种天线支撑方法，包含步骤：确定天线支架中轴线与天线前端的天线口面的距离为第一距离；所述第一距离固定不变；确定天线尾端距离天线口面平面的距离为第二距离；对比第一距离和第二距离；第一距离大于第二距离，天线支架上端设置的天线工装向天线口面方向探出第一距离与第二距离的差值；或，第一距离小于第二距离，天线支架上端设置的天线工装向远离天线口面方向探出第一距离与第二距离的差值。本申请可以保证针对不同规格的标准增益天线安装时天线口面位置均在同一参考面，更换天线时无需复测口面位置，满足不同场测试场景的需求。
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公开(公告)号：CN113804315B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202110904239.1
申请日：2021-08-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种激光扫描频率带宽标定装置和标定方法，所述激光扫描频率带宽标定装置包括激光分束组件、光学延时组件、合束干涉组件和光学干涉探测组件；所述激光分束组件用于将光源激光分成待延时光束和原始光束两路激光光束；所述光学延时组件用于将所述待延时光束进行光学延时形成延时光束；所述合束干涉组件用于将所述延时光束与所述原始光束合束且干涉；所述光学干涉探测用于根据光学探测得到的干涉条纹，推得激光扫描频率范围；其依据马赫曾德尔光学干涉原理，通过干涉的高分辨能力将激光的扫描频率转换为激光的强度信息，在时域上即可测量激光的频率调谐范围；且由于干涉条纹与激光扫描频率严格呈正比关系，则使得测试稳定性强。
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公开(公告)号：CN113804295B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202110904231.5
申请日：2021-08-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种激光光谱频率分裂间隔测定方法和测定装置，所述测定方法包括步骤：将激光光束取样分束；将分束后的两束所述激光光束折返合束，且进行光学干涉；探测两束所述激光光束干涉产生的迈克尔逊干涉条纹；根据所述干涉条纹的峰峰时域差值范围，标定所述激光光束扫描时的频率；其能实现低于30MHz的高精度激光频率调谐范围测量，并且使其可适用的激光波长范围极广，能够实现较大的激光波长调谐范围、更宽调谐带宽、更高的测量精度。
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公开(公告)号：CN113804413A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202110905981.4
申请日：2021-08-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本申请公开了一种全光纤式的激光调谐频率测量方法和测量装置，所述测量方法包括步骤：被测取样分束、单臂延时、双光束合束光学干涉、马赫曾德尔干涉条纹探测，以及根据干涉条纹的时域内峰峰值信号反推激光频率调谐范围；其根据激光干涉的强度随时间变化特征，通过干涉的高分辨能力将激光的频率调谐范围转换为双光束激光干涉信号的强度信息，提取干涉极强值和极弱值条纹间距，结合干涉仪中的两臂等效光程差，换算成被测激光频率移动差值，在时域上即可得到被测激光的频率调谐范围；能实现较大可测激光频率范围、更宽调谐带宽、更高的测量精度。
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