薄膜晶体管
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101567392B

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN200910141769.4

    申请日:2005-04-25

    CPC classification number: H01L29/66757 H01L29/4908

    Abstract: 本发明提供一种在确保良好的生产性同时又具有优良特性和高可靠性的栅绝缘层的薄膜晶体管。本发明提供的薄膜晶体管,包括:在基板(9)上含有源区(17)、沟道区(18)、漏区(19)的有源层(11),栅电极层(16),以及在有源层(11)和栅电极层(16)之间所形成的栅绝缘层(15)的薄膜晶体管,栅绝缘层(15)由在有源层(11)一侧形成的第1氧化硅膜(12)、在栅电极层(16)一侧形成的第2氧化硅膜(14),和在第1氧化硅膜(12)与第2氧化硅膜(14)之间形成的氮化硅膜(13)而形成。

    成膜装置及成膜方法
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108149226B

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN201711278236.1

    申请日:2017-12-06

    Abstract: 本发明提供一种成膜装置及成膜方法。将成膜对象物设置为具有立体形状并且在成膜对象物的外表面凹陷地设置有沿着一个方向延伸的凹孔,在成膜对象物的至少凹孔的内表面形成高分子膜,所述成膜装置具有:向配置有成膜对象物的真空室内导入原料单体的原料单体导入单元;以及具有电极和交流电源且通过向电极施加交流电力而在真空室内使等离子体产生的等离子体产生单元;使由等离子体使原料单体分解并聚合而生成的离子以及自由基附着并堆积来形成高分子膜;所述电极由有底的筒状体构成,凹孔的孔轴设置为与有底筒状体的底壁正交的姿势,在使成膜对象物被底壁支撑而容纳在筒状体内的状态下使等离子体产生时,在等离子体与凹孔的内表面之间形成离子鞘层。

    薄膜形成装置
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107429387B

    公开(公告)日:2019-09-03

    申请号:CN201680015597.4

    申请日:2016-01-29

    Abstract: 提供一种低成本且量产性较高的薄膜形成装置。在成膜室(11)的内部配置由转台构成的旋转装置(21),在对准场所(16)上进行了成膜对象物(5a、5b)的对准之后,在设于旋转装置(21)的基板支架(34a、34b)上配置进行了与掩模(4a、4b)之间的对准的成膜对象物(5a、5b),使旋转装置(21)旋转而移动到成膜场所(15)上。接着,使成膜源(22)一边释放成膜材料的微小粒子一边移动,在成膜场所(15)上的成膜对象物(5a、5b)上形成薄膜。此时,能够在对准场所(16)上配置未成膜的成膜对象物(5a、5b)并进行对位。因此,在本薄膜形成装置(10)中,有一个成膜源(22)和一个对准所需的装置即可。

    真空蒸镀装置
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109415800A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201780039108.3

    申请日:2017-07-19

    Abstract: 本发明提供一种可尽量减少粒子的影响的所谓向下沉积方式的真空蒸镀装置。其具有配置在真空室(1)内的蒸镀源(3),蒸镀源具有容置蒸镀物质(Vm)的容置箱(31)和加热蒸镀物质使其升华或气化的加热装置(33);容置箱中设置有升华或气化了的蒸镀物质的喷出部(32),喷出部相对于真空室内的被成膜物(S)位于垂直方向上方,喷出部具有相对于垂直方向斜向下的喷出口(32b),从该喷出口向被成膜物喷出蒸镀物质,容置箱偏移设置在远离被成膜物的端部的位置上。

    薄膜晶体管及其制造方法
    19.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100550426C

    公开(公告)日:2009-10-14

    申请号:CN200580000956.0

    申请日:2005-04-25

    CPC classification number: H01L29/66757 H01L29/4908

    Abstract: 本发明提供一种在确保良好的生产性同时又具有优良特性和高可靠性的栅绝缘层的薄膜晶体管及其制造方法。本发明提供的薄膜晶体管,包括:在基板9上含有源区17、沟道区18、漏区19的有源层11,栅电极层16,以及在有源层11和栅电极层16之间所形成的栅绝缘层15的薄膜晶体管,栅绝缘层15由在有源层11一侧形成的第1氧化硅膜12、在栅电极层16一侧形成的第2氧化硅膜14,和在第1氧化硅膜12与第2氧化硅膜14之间形成的氮化硅膜13而形成。

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