公开(公告)号：KR1020100098765A

公开(公告)日：2010-09-10

申请号：KR1020090017416

申请日：2009-03-02

Applicant: 한국과학기술원

Inventor： 박효준 ,  유장우 ,  김수현

IPC: H05B37/02

CPC classification number: F21V14/04 ,  F21V14/06 ,  H05B37/02

Abstract: PURPOSE: An active type three dimensional multi-spot illuminating apparatus and a method for illuminating light are provided to realize three dimensional multi spots by generating three dimensional multi-spot shape lamp without a prism or a diffracting grid. CONSTITUTION: Light source(100) generates and magnifies incident light. An incident light controller(200) separates incident light generated from the light source into a plurality of multi-lights and actively controls the multi-lights based on a feedback controlling signal. A multi-spot generator(300) generates a three dimensional multi-spot shape lamp using the interference of the multi-lights from the incident light controller.

Abstract translation: 目的：提供一种主动式三维多点照明装置和照明光的方法，通过生成不带棱镜或衍射网格的三维多点形状灯来实现三维多点。 构成：光源（100）产生并放大入射光。 入射光控制器（200）将从光源产生的入射光分离成多个多光源，并且基于反馈控制信号主动地控制多光。 多点发生器（300）使用来自入射光控制器的多光的干涉来产生三维多点形灯。

公开(公告)号：KR100870131B1

公开(公告)日：2008-11-25

申请号：KR1020070033442

申请日：2007-04-04

Applicant: 한국과학기술원

Inventor： 오세백 ,  홍영주 ,  박효준 ,  김수현

IPC: G01N21/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/27

Abstract: 본 발명은 특정 성분의 굴절률(농도) 변화와 시료 전체의 평균 굴절률(농도) 변화를 동시에 측정하여 보다 정확한 측정이 가능하고, 금속 박막에 고정화된 물질의 굴절률이 전반사 유도 매질의 굴절률에 비해 매우 클 경우에도 두 가지 변수를 모두 측정 가능토록 한 임계각 및 표면 플라스몬 공명각의 동시 측정 장치 및 방법을 제공하기 위한 것으로, 일실시예로서 광원(20)과; 상기 광원(20)에서 나온 빛(7)을 측정 범위에 따른 일정 각도 및 편광 상태로 변환시키는 광학장치(21)와; 상기 광학장치(21)를 통과한 입사광을 전반사 반응시키는 전반사 유도 매질(40)과; 상기 전반사 유도 매질(40) 밑면에 일정한 패턴을 갖고 도포되어 상기 측정시료와 접촉하여 SPR 현상을 발생시키는 얇은 금속 박막(41)과; 상기 전반사 유도 매질(40)의 밑면, 금속 박막(41)의 각기 굴절률에 따른 전반사 및 SPR 현상에 따라 반사광(8)의 광량 변화를 광학 장치(51)를 통과시켜 검출 하는 검출 장치(50)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
농도, 임계각, 플라스몬 공명각, SPR, 금속 박막

公开(公告)号：KR100814279B1

公开(公告)日：2008-03-18

申请号：KR1020070001878

申请日：2007-01-08

Applicant: 한국과학기술원 ,  한국기계연구원

Inventor： 김수현 ,  박효준 ,  고우석 ,  최재성 ,  임동현 ,  송준엽 ,  이창우

IPC: G01M11/00

Abstract: A measurement device for alignment of a lens assembly is provided to omit an unnecessary assembly process by measuring the tilting angle of a lens in real time to exclude the inferior lens assembly from the assembly process. A measurement device(100) for alignment of a lens assembly includes a laser beam source(110), two collimation lenses(120,130), an iris(140), a holder(150), a CCD(Charge Coupled Device) lens(160), a CCD(170), and a computer(180). The laser beam source irradiates laser beam to at least one lens in a barrel(10) along the optical axis of the lens assembly. The iris is placed between the two collimation lenses. The holder clamps the barrel. The CCD lens condenses the laser beam passed through the lens. The CCD takes an image of the laser beam condensed by the CCD lens. The computer analyses the image acquired by the CCD.

Abstract translation: 提供了用于对准透镜组件的测量装置，以通过实时测量透镜的倾斜角度来省略不必要的组装过程，以将下部透镜组件排除在组装过程之外。 用于对准透镜组件的测量装置（100）包括激光束源（110），两个准直透镜（120,130），光圈（140），保持器（150），CCD（电荷耦合器件）透镜 ），CCD（170）和计算机（180）。 激光束源沿着透镜组件的光轴将激光束照射到镜筒（10）中的至少一个透镜。 虹膜放置在两个准直透镜之间。 支架夹住桶。 CCD镜头会凝结透过透镜的激光束。 CCD拍摄由CCD透镜聚光的激光束的图像。 计算机分析由CCD获取的图像。