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公开(公告)号：KR101067348B1
公开(公告)日：2011-09-23
申请号：KR1020090018612
申请日：2009-03-04
Applicant: 한국과학기술원
CPC classification number: G01N21/648
Abstract: 본 발명은 편광각 투과 유도 프리즘 및 이를 이용한 신호 대 잡음비 향상을 위한 형광검출장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 시료면에 도포된 형광물질에 빛을 임계각 이상으로 입사시킬 때 발생하는 에바네슨트파를 형광의 여기광으로 사용하여 내부전반사된 빛이 편광각을 가지고 프리즘을 투과함으로써, 재반사된 빛이 시료면에 미치는 영향을 제거함과 동시에 신호 대 잡음비(SNR)를 향상 시키고, 프리즘을 소형화하며, 패턴화를 통해 프리즘의 부피를 줄이며, 시료면적의 사용과 광량 효율을 증대시킨 편광각 투과 유도 프리즘 및 이를 이용한 신호 대 잡음비 향상을 위한 형광검출장치에 관한 것이다.
프리즘, 에바네슨트파, 편광각, 투과, 유도, 신호, 잡음비-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020080090208A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：KR1020070033442
申请日：2007-04-04
Applicant: 한국과학기술원
Abstract: An apparatus and a method for simultaneously measuring a critical angle and a surface plasmon resonance angle are provided to simultaneously measure a standard refractive index of a sample and a refractive index of a specific component of the sample. An apparatus for simultaneously measuring a critical angle and a surface plasmon resonance angle comprises a light source(20), an optical device(21), a total-reflection induction medium(40), a metal thin layer(41), and a detector(50). The optical device converts light(7) from the light source into a predetermined angle and polarizing condition according to the measurement range. The total-reflection induction medium causes total-reflection of incident light passing through the optical device. The metal thin layer performs SPR(Surface Plasmon Resonance) by being connected with the measurement sample. The detector detects changes in amount of reflection light through an optical device(51) according to the total-reflection and the SPR due to a refractive index of the metal thin layer.
Abstract translation: 提供用于同时测量临界角和表面等离子体共振角的装置和方法，以同时测量样品的标准折射率和样品的特定组分的折射率。 用于同时测量临界角和表面等离子体共振角的装置包括光源（20），光学装置（21），全反射感应介质（40），金属薄层（41）和检测器 （50）。 光学装置根据测量范围将来自光源的光（7）转换成预定角度和极化状态。 全反射感应介质通过光学装置的入射光全反射。 金属薄层通过与测量样品连接来执行SPR（表面等离子体共振）。 检测器根据由金属薄层的折射率引起的全反射和SPR检测通过光学装置（51）的反射光量的变化。
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公开(公告)号：KR101036619B1
公开(公告)日：2011-05-24
申请号：KR1020090018613
申请日：2009-03-04
Applicant: 한국과학기술원
Abstract: 본 발명은 프리즘의 소산파를 이용한 바이오 시편 측정 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프리즘 내부 전반사를 2회 이상 발생하게 하는 효과에 의해 발생하는 복수의 소산파를 바이오 시편의 형광 검출에 이용하여 보다 고민감도의 형광 검출을 제공함과 동시에, 서로 다른 투과율과 반사율의 면을 갖는 프리즘을 이용하여 형광 검출 과정에서 에너지 손실을 최소화하는 소산파를 이용함으로써, 고효율로 바이오 시편의 형광 검출이 가능한 프리즘의 소산파를 이용한 바이오 시편 측정 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
프리즘, 소산파, 바이오칩, 측정, 형광, 검출-
公开(公告)号：KR1020100099990A
公开(公告)日：2010-09-15
申请号：KR1020090018613
申请日：2009-03-04
Applicant: 한국과학기술원
Abstract: PURPOSE: Bio specimen measuring device and method using the evanescent wave of a prism are provided to enable an uniform and highly sensitive fluorescence signal to be measured on wider measuring region by the construction of exiting fluorescent material using a specially manufactured prism to be able to make total internal reflection. CONSTITUTION: A bio specimen measuring device using the evanescent wave of a prism comprises a light source(2), a prism(3), a specimen(4), a detector(5) and a controller(6). The light source supplies the excited light. The prism is formed around the light source and receives the excited light(7). The specimen is formed around the prism. The specimen comprises a bio specimen receiving the evanescent wave(8) from the prism. The detector is formed around the specimen and detects the fluorescent light(9) generated from the specimen. The controller is formed around the detector.
Abstract translation: 目的：提供使用棱镜的ev逝波的生物样本测量装置和方法，以便通过使用专门制造的棱镜构造出现的荧光材料，在较宽的测量区域上测量均匀和高灵敏度的荧光信号，以使其能够 全内反射。 构成：使用棱镜的消逝波的生物样本测量装置包括光源（2），棱镜（3），样本（4），检测器（5）和控制器（6）。 光源提供激发光。 棱镜形成在光源周围并接收激发光（7）。 样品围绕棱镜形成。 样本包括从棱镜接收ev逝波（8）的生物样本。 检测器形成在样本周围，并检测从样品产生的荧光（9）。 控制器形成在检测器周围。
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5.发明公开
公开(公告)号：KR1020100099989A
公开(公告)日：2010-09-15
申请号：KR1020090018612
申请日：2009-03-04
Applicant: 한국과학기술원
CPC classification number: G01N21/648
Abstract: PURPOSE: A prism inducing a polarizing angle and apparatus for detection are provided to detect fluorescent light by using an evanescent wave of the prism inducing a polarizing angle. CONSTITUTION: A linear polarization light enters a prism(30). An evanescent wave is generated through total internal reflection. The evanescent wave has a polarization angle and is passed. The evanescent wave is re-reflected to inside. The prism does not have a component transmitting a sample surface(43). The prism forms an incident surface(31a) a transmission side(31b). The entrance surface and the transmission side are vertical to the transmission side.
Abstract translation: 目的：提供一种引起偏振角的棱镜和用于检测的装置，以通过使用引起偏振角的棱镜的ev逝波来检测荧光。 构成：线偏振光进入棱镜（30）。 通过全内反射产生ev逝波。 ev逝波具有偏振角并通过。 消逝的波浪被反射回内部。 棱镜不具有透射样品表面的部件（43）。 棱镜形成发射侧（31b）的入射面（31a）。 入射面和透射面垂直于透射面。
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公开(公告)号：KR100870131B1
公开(公告)日：2008-11-25
申请号：KR1020070033442
申请日：2007-04-04
Applicant: 한국과학기술원
Abstract: 본 발명은 특정 성분의 굴절률(농도) 변화와 시료 전체의 평균 굴절률(농도) 변화를 동시에 측정하여 보다 정확한 측정이 가능하고, 금속 박막에 고정화된 물질의 굴절률이 전반사 유도 매질의 굴절률에 비해 매우 클 경우에도 두 가지 변수를 모두 측정 가능토록 한 임계각 및 표면 플라스몬 공명각의 동시 측정 장치 및 방법을 제공하기 위한 것으로, 일실시예로서 광원(20)과; 상기 광원(20)에서 나온 빛(7)을 측정 범위에 따른 일정 각도 및 편광 상태로 변환시키는 광학장치(21)와; 상기 광학장치(21)를 통과한 입사광을 전반사 반응시키는 전반사 유도 매질(40)과; 상기 전반사 유도 매질(40) 밑면에 일정한 패턴을 갖고 도포되어 상기 측정시료와 접촉하여 SPR 현상을 발생시키는 얇은 금속 박막(41)과; 상기 전반사 유도 매질(40)의 밑면, 금속 박막(41)의 각기 굴절률에 따른 전반사 및 SPR 현상에 따라 반사광(8)의 광량 변화를 광학 장치(51)를 통과시켜 검출 하는 검출 장치(50)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
농도, 임계각, 플라스몬 공명각, SPR, 금속 박막
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