Abstract:
A spectroscopic ellipsometer using an acoustic-optic tunable filter and an ellipsometric method using the same are provided to implement a spectroscopic ellipsometer including a spectral imaging ellipsometer more conveniently by using an acoustic-optic tunable filter(40) as both spectral and polarization devices. A spectroscopic ellipsometer includes a light source(2) emitting homogeneous light; a specimen part(3) in which the homogeneous light emitted from the light source is reflected; a polarization and modulation part(4) which includes an acoustic-optic tunable filter(40) having a wavelength bandwidth determined according to the homogeneous light reflected from the specimen part and an RF signal(63) from an acoustic-optic tunable filter driver(61), and generates two diffracted lights whose wave fronts are perpendicular to each other; a detection unit(5) measuring the two diffracted lights from the acoustic-optic tunable filter(40) to a two-dimensional imaging device at the same time and compensating for the polarized light confusion error generated in the acoustic-optic tunable filter; and a signal processing control part(6) synchronizing and controlling the two-dimensional imaging device to compensate for the polarized light confusion error and calculating the refractive index and thickness of specimen.
Abstract:
본 발명은 특정 성분의 굴절률(농도) 변화와 시료 전체의 평균 굴절률(농도) 변화를 동시에 측정하여 보다 정확한 측정이 가능하고, 금속 박막에 고정화된 물질의 굴절률이 전반사 유도 매질의 굴절률에 비해 매우 클 경우에도 두 가지 변수를 모두 측정 가능토록 한 임계각 및 표면 플라스몬 공명각의 동시 측정 장치 및 방법을 제공하기 위한 것으로, 일실시예로서 광원(20)과; 상기 광원(20)에서 나온 빛(7)을 측정 범위에 따른 일정 각도 및 편광 상태로 변환시키는 광학장치(21)와; 상기 광학장치(21)를 통과한 입사광을 전반사 반응시키는 전반사 유도 매질(40)과; 상기 전반사 유도 매질(40) 밑면에 일정한 패턴을 갖고 도포되어 상기 측정시료와 접촉하여 SPR 현상을 발생시키는 얇은 금속 박막(41)과; 상기 전반사 유도 매질(40)의 밑면, 금속 박막(41)의 각기 굴절률에 따른 전반사 및 SPR 현상에 따라 반사광(8)의 광량 변화를 광학 장치(51)를 통과시켜 검출 하는 검출 장치(50)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다. 농도, 임계각, 플라스몬 공명각, SPR, 금속 박막
Abstract:
PURPOSE: A spectrophotometer and method for measuring light intensity is provided to achieve improved resolution by measuring light intensity in a real time basis, while improving accuracy of measurement with a low cost. CONSTITUTION: A spectrophotometer comprises a light source(110) for emitting light of a predetermined wavelength; a transmitting unit for transmitting the light to a sample(130); a head unit(140) including a spectroscope element, a reflector element for reflecting the spectral light; a measuring element for receiving the reflected light incident to the measuring element, and measuring intensity of the light, a driving unit(180) for moving the measuring element, and a stop element for restricting movement range of the measuring element; and a signal processing unit(200) for reproducing the distribution of intensity of the light measured by the measuring element.
Abstract:
A spectrophotometer and spectrophotometry, using a precision drive means at the photodiode array, is disclosed. The drive means precisely moves the photodiode array by a distance equal to the physical interval between the photodiodes of the photodiode array. Therefore, the spectrophotometer and spectrophotometry of this invention primarily measures light intensities of incident light by the photodiode array, and precisely moves the photodiode array using the drive means by the distance equal to the physical interval between photodiodes of the photodiode array, and measures the light intensities of the incident light at desired positions corresponding to the intervals.
Abstract:
A 3D refractive index distribution measuring device and method of a phase object utilizing the white beam spectral characteristics can measure the 3D refractive index distribution with the minimum rotational motion by making the light of the different wave length which is split by using first and second diffraction gratings incident to the specimen at various angles. A 3D refractive index distribution measuring device of a phase object utilizing the white beam spectral characteristics comprises a light source(2) which emits incident beam(24a) and reference beam(24b); a first diffraction grating(3) diffracting the incident beam emitted from the light source into the light of multiple orders; a specimen part(4) generating the phase delay about the diffracted light passing through the first diffraction grating; a second diffraction grating(5) focusing the light of each wavelength generated from the specimen part and dispersed; a spectrum part(6) collecting spot beam(53) focused by the second diffraction grating and the reference beam to produce white beam again and radiating measurement beam(63) of specific wavelength; a detection part(7) detecting interference signal about the specific wavelength from the measurement beam; and a signal processing and control part(8) storing the interference signal detected by the detection part as data and controlling the first diffraction grating, the specimen part, and the spectrum part.
Abstract:
본 발명은 음향광학변조필터를 이용한 듀얼모드 분광 이미징 방법, 그 시스템 및 이것을 이용한 광학기기에 관한 것으로, 음향광학변조필터의 분광 및 편광 특성을 이용하여 정상파와 비정상파로 분광되어 서로 다른 정보가 담긴 2개의 회절광을 듀얼모드로 측정함으로써, 다층 박막을 포함한 반도체 박막의 굴절률이나 두께 또는 그 형상 및 세포의 굴절률 및 분광 물성치 등을 고속으로 정밀하게 측정할 수 있는 음향광학변조필터를 이용한 듀얼모드 분광 이미징 방법, 그 시스템 및 이것을 이용한 광학기기를 제공하는데 그 목적이 있다. 이를 해결하기 위한 수단으로서 본 발명에 따른 음향광학변조필터를 이용한 듀얼모드 분광 이미징 시스템은, 광원으로부터 생성된 광을 측정광과 기준광으로 분광시켜 조사해 주는 광원부; 측정광을 시편에 조사하여 반사된 측정광을 얻는 시편부; 기준광을 편광시켜 주는 기준부; 반사된 측정광과 편광된 기준광을 편광시켜 얻은 간섭광으로부터 편광 상태가 다른 2개의 회절광으로 분광시켜 주는 음향광학변조필터; 각 회절광을 검출하는 검출부; 및 검출된 회절광을 이용하여 결상처리 및 음향광학변조필터를 제어하는 신호처리 및 제어부;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다. 또한, 본 발명은 이러한 이미징 시스템을 이용하여 이미징하는 방법 및 이미징 방법을 수행하는 광학부재를 포함하는 광학기기를 제공한다. 음향광학변조필터, 복굴절, 편광, 듀얼모드, 편광 및 분광
Abstract:
본 발명은 음향광학변조필터를 이용한 듀얼모드 분광 이미징 방법, 그 시스템 및 이것을 이용한 광학기기에 관한 것으로, 음향광학변조필터의 분광 및 편광 특성을 이용하여 정상파와 비정상파로 분광되어 서로 다른 정보가 담긴 2개의 회절광을 듀얼모드로 측정함으로써, 다층 박막을 포함한 반도체 박막의 굴절률이나 두께 또는 그 형상 및 세포의 굴절률 및 분광 물성치 등을 고속으로 정밀하게 측정할 수 있는 음향광학변조필터를 이용한 듀얼모드 분광 이미징 방법, 그 시스템 및 이것을 이용한 광학기기를 제공하는데 그 목적이 있다. 이를 해결하기 위한 수단으로서 본 발명에 따른 음향광학변조필터를 이용한 듀얼모드 분광 이미징 시스템은, 광원으로부터 생성된 광을 측정광과 기준광으로 분광시켜 조사해 주는 광원부; 측정광을 시편에 조사하여 반사된 측정광을 얻는 시편부; 기준광을 편광시켜 주는 기준부; 반사된 측정광과 편광된 기준광을 편광시켜 얻은 간섭광으로부터 편광 상태가 다른 2개의 회절광으로 분광시켜 주는 음향광학변조필터; 각 회절광을 검출하는 검출부; 및 검출된 회절광을 이용하여 결상처리 및 음향광학변조필터를 제어하는 신호처리 및 제어부;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다. 또한, 본 발명은 이러한 이미징 시스템을 이용하여 이미징하는 방법 및 이미징 방법을 수행하는 광학부재를 포함하는 광학기기를 제공한다. 음향광학변조필터, 복굴절, 편광, 듀얼모드, 편광 및 분광
Abstract:
Disclosed herewith is an optical triangulation displacement sensor using a diffraction grating. The optical triangulation displacement sensor includes a light source element, a condenser, a light-receiving element, an image formation lens, a transmission grating and a light-receiving element. The light source element generates light of certain intensity. The condenser receives the light from the light source element and transmits the light to the surface of measurement. The image formation lens receives the light reflected by the surface of measurement. The transmission grating converts the reflected light having passed through the image formation lens into a plurality of diffracted light rays. In the light-receiving element, an image is formed by the diffracted light rays incident from the transmission grating.
Abstract:
PURPOSE: A fluorescence spectrometer is provided to analyze a spectrum of light having a wide wavelength band by substituting a monochromatic device having a diffractive grate for a monochromatic device having an acoustic optical turntable filter. CONSTITUTION: A fluorescence spectrometer includes an acoustic optical turntable filter(8). The acoustic optical turntable filter(8) has an optical device(8a) formed with a predetermined structural crystalline, an RF signal generator(81) attached to one end of the optical device(8a), and an RF signal absorber(82) attached to the other end of the optical device(8a) so as to absorb an RF signal propagating wave generated from the RF signal generator(81). An input slit is installed on a light incident side of the acoustic optical turntable filter(8) and an output slit is installed on a light output side of the acoustic optical turntable filter(8).
Abstract:
PURPOSE: An optical triangulation displacement sensor using diffraction grating is provided to average error due to noise of light receiving element. CONSTITUTION: A sensor includes a light source element(100); a condenser lens(200); an imaging lens(300); a penetrating type diffraction grating(400); and a light receiving element(500). The condenser lens receives light from the light source element to transmit to a measured surface(10). The imaging lens receives light reflected by the measured surface. The penetrating type diffraction grating converts the reflected light transmitted by the imaging lens into a plurality of diffraction rays. The light receiving element is where image of the diffraction rays is formed.