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公开(公告)号：KR1020130119594A
公开(公告)日：2013-11-01
申请号：KR1020120042508
申请日：2012-04-24
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: The present invention provides a levitation apparatus and a levitation method. The levitation apparatus comprises: an upper electrode and a lower electrode, which are arranged while being separated each other; a main power source for levitating an object, which is charged by applying a voltage to the upper electrode and the lower electrode, against gravity with an electrostatic force, which is generated by the voltage; a laser for heating the charged object; and a spherical mirror for re-reflecting a reflection light, which is reflected from the charged object, to the charged object. The reflection light is generated since the charged object reflects an output light of the laser passing through a through-hole, which is formed in the center area of a surface of the spherical mirror.
Abstract translation: 本发明提供悬浮装置和悬浮法。 悬浮装置包括：上部电极和下部电极，它们彼此分离布置; 用于通过由电压产生的静电力而对上部电极和下部电极施加电压而被充电的用于悬浮物体的主电源; 用于加热带电物体的激光器; 以及用于将从带电物体反射的反射光重新反射到带电物体的球面镜。 产生反射光，因为带电物体反映激光穿过通孔的输出光，该通孔形成在球面镜的表面的中心区域中。
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公开(公告)号：KR101211650B1
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：KR1020100117206
申请日：2010-11-24
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은그래핀제조방법, 그래핀제조장치, 및그래핀을제공한다. 이그래핀제조방법은처리용기내에시료를제공하는단계, 시료를공중부양하는단계, 및공중부양된시료의모든표면에그래핀을성장시키는단계를포함한다.
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公开(公告)号：KR1020120032362A
公开(公告)日：2012-04-05
申请号：KR1020100093965
申请日：2010-09-28
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01N25/00
CPC classification number: G01N25/20 , G01N21/59 , G01N2021/558
Abstract: PURPOSE: A method for simultaneously measuring the infrared properties of samples is provided to enable the measurement of infrared properties of translucent or transparent samples using a contact heating method. CONSTITUTION: A method for simultaneously measuring the infrared properties of samples comprises the following steps. The sensitivity of a device is calculated by measuring the radiance of a black body(S31). The first emissivity of a first substrate and the second emissivity of a second substrate are calculated(S32). The first substrate having the first emissivity is positioned between a heater and a sample to calculate the first radiance of the sample(S33). The second substrate having the second emissivity is positioned between the heater and the object sample to calculate the second radiance of the sample at the prescribed temperature(S34).
Abstract translation: 目的：提供用于同时测量样品的红外特性的方法，以使用接触加热法测量半透明或透明样品的红外特性。 构成：同时测量样品的红外特性的方法包括以下步骤。 通过测量黑体的辐射度来计算装置的灵敏度（S31）。 计算第一基板的第一发射率和第二基板的第二发射率（S32）。 具有第一发射率的第一衬底位于加热器和样品之间以计算样品的第一辐射度（S33）。 具有第二发射率的第二基板位于加热器和物体样品之间，以计算样品在规定温度下的第二辐射度（S34）。
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公开(公告)号：KR101102414B1
公开(公告)日：2012-01-05
申请号：KR1020100050241
申请日：2010-05-28
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 열전 소자 특성 측정 장치 및 그 측정 방법을 제공한다. 이 열전 소자 특성 측정 장치는 냉각 구조체, 냉각 구조체와 정렬되어 배치되는 가열 구조체, 및 냉각 구조체와 가열 구조체 사이에 개재되는 피측정 열전 소자의 전류-전압을 측정하는 전류전압 측정부를 포함한다. 냉각 구조체는 피측정 열전소자의 일면을 냉각하고, 가열 구조체는 상기 피측정 열전소자의 타면을 가열한다.
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公开(公告)号：KR1020150119765A
公开(公告)日：2015-10-26
申请号：KR1020140045606
申请日：2014-04-16
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은입자분석방법및 입자분석장치를제공한다. 이입자분석방법은제1 광펄스와상기제1 광펄스와지연시간을가지는제2 광펄스를포함하는이중펄스레이저빔을샘플에제공하는단계; 상기샘플에서산란된이중펄스레이저빔을수신하여강도이미지를검출하는단계; 및상기강도이미지로부터공간강도분포의규격화된분산을이용하여샘플입자의병진확산계수(translational diffusion coefficient)를추출하는단계를포함한다.
Abstract translation: 本发明提供一种粒子分析方法和粒子分析装置。 粒子分析方法包括以下步骤：将具有延迟时间的第一光脉冲和第二光脉冲的双脉冲激光束和第一光脉冲提供给样品; 通过接收散射在样品中的双脉冲激光束来检测强度图像; 以及通过使用来自强度图像的空间强度分布的归一化方差来提取样本粒子的平移扩散系数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101501506B1
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：KR1020130026531
申请日：2013-03-13
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명의 정전기 부양 장치 및 그 동작 방법을 제공한다. 이 정전기 부양 장치는 상부 전극, 그 중심에 하부 전극 관통홀을 포함하고 상부 전극에 수직으로 이격되어 배치된 하부 전극, 및 상부 전극과 하부 전극 사이에 시료를 이송하기 위한 표준 로딩 팁과 실험용 팁을 수납하고 일렬로 정렬된 복수의 로딩 팁 수납 관통홀들을 가지는 로딩 팁 수납부를 포함한다. 로딩 팁 수납부는 로딩 팁 수납 관통홀들이 정렬된 방향으로 선형 운동을 수행한다.
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公开(公告)号：KR101237958B1
公开(公告)日：2013-03-26
申请号：KR1020100093965
申请日：2010-09-28
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01N25/00
Abstract: 본 발명은 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법에 관한 것으로, ⅰ) 흑체의 복사량(L
b )을 측정하여 장치의 민감도(R(λ))를 산출하는 단계, ⅱ) 제1기판의 제1복사율(ε
sub1 ) 및 제2기판의 제2복사율(ε
sub2 )을 산출하는 단계, ⅲ) 상기 제1복사율을 갖는 상기 제1기판을 히터 및 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 소정 온도에서 상기 시료의 제1복사량을 산출하는 단계, ⅳ) 상기 제2복사율을 갖는 상기 제2기판을 상기 히터 및 상기 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 상기 소정 온도에서 상기 시료의 제2복사량을 산출하는 단계, ⅴ) 상기 제1기판의 제1 겉보기 복사율(ε
*
1 ) 및 상기 제2기판의 제2 겉보기 복사율(ε
*
2 )을 산출하는 단계 및 ⅶ) 상기 제1복사율(ε
sub1 ), 상기 제2복사율(ε
sub2 ), 상기 제1 겉보기 복사(ε
*
1 )율 및 상기 제2 겉보기 복사율(ε
*
2 )을 이� �하여 상기 시료의 복사율(ε
s ), 투과율(T
s ) 및 반사율(r
s )을 산출하는 단계를 포함한다.-
公开(公告)号：KR1020110130760A
公开(公告)日：2011-12-06
申请号：KR1020100050241
申请日：2010-05-28
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: PURPOSE: A thermoelectric element property measuring apparatus and method are provided to accurately calculate generation efficiency and thermal conductivity using an absorbed radiant flux output and a current voltage property. CONSTITUTION: A heating construction body(130) is arranged with a cooling structure body. An under test thermoelectric element(140) is located between the heating construction body and the cooling structure body. A current and voltage measuring part(150) measures a current and voltage of the under test thermoelectric element. The cooling structure body cools one side of the under test thermoelectric element. The heating construction body heat the other side of the under test thermoelectric element.
Abstract translation: 目的：提供一种使用吸收的辐射通量输出和电流电压特性精确地计算发电效率和热导率的热电元件性质测量装置和方法。 构成：加热结构体（130）配有冷却结构体。 被测试的热电元件（140）位于加热结构体和冷却结构体之间。 电流和电压测量部件（150）测量待测热电元件的电流和电压。 冷却结构体冷却被测热电元件的一侧。 加热结构体加热被测热电元件的另一侧。
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公开(公告)号：KR1020110062230A
公开(公告)日：2011-06-10
申请号：KR1020090118888
申请日：2009-12-03
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J5/08
Abstract: PURPOSE: A method of simultaneously measuring the emissivity, transmittance and reflectivity of high-temperature semi-transparent or transparent sample is provided to calculate the emmisivity, transmittance and reflectivity of high-temperature semi-transparent or transparent sample using a high-emissitvity substrate material and a low-emissivity substrate material. CONSTITUTION: A method of simultaneously measuring the emissivity, transmittance and reflectivity of high-temperature semi-transparent or transparent sample is as follows. The sensitivity of an experiment device is calculated(110). The emissivity of a high-emissivity substrate material and the emissivity of a low-emissivity substrate material are calculated(120). The radiation of sample to the high-emissivity substrate material is calculated at a given temperature(130). The radiation of sample to the low-emissivity substrate material is calculated at a given temperature(140). The transmittance of the sample is calculated(150). The emissivity of the sample is calculated(160). The reflectivity of the sample is calculated(170).
Abstract translation: 目的：提供同时测量高温半透明或透明样品的发射率，透射率和反射率的方法，以计算使用高发射性衬底材料的高温半透明或透明样品的透射率，透射率和反射率 和低发射率衬底材料。 构成：同时测量高温半透明或透明样品的发射率，透射率和反射率的方法如下。 计算实验装置的灵敏度（110）。 计算高发射率衬底材料的发射率和低辐射率衬底材料的发射率（120）。 在给定的温度下计算样品对高发射率衬底材料的辐射（130）。 在给定的温度（140）下计算样品对低辐射率衬底材料的辐射。 计算样品的透射率（150）。 计算样品的发射率（160）。 计算样品的反射率（170）。
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公开(公告)号：KR1020100069783A
公开(公告)日：2010-06-25
申请号：KR1020080128306
申请日：2008-12-17
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J3/02
Abstract: PURPOSE: An object built-in type measuring case for measuring a spectral emissivity is provided to fix multiple objects to a holder, and to selectively locate the objects in a position for measuring. CONSTITUTION: An object built-in type measuring case for measuring a spectral emissivity comprises a case body(10), a black body forming member(20), a cover(30), a holder(40), a measuring hole blocking member(50), a vacuum unit(60), and a temperature setting unit(70). An object putting space(11) is formed in the case body. A black body mounting hole is formed in the case body. A black body(21) is formed in the black body forming member. The cover can be separated from the case body. The holder has a clamp for fixing an object(1). The measuring hole blocking member measures heat of the object and the black body located in a measuring hole(31). The temperature setting unit heats the case body and the black body forming member to have the same temperature.
Abstract translation: 目的：提供用于测量光谱发射率的物体内置型测量箱，用于将多个物体固定到支架上，并将物体选择性地定位在测量位置。 构成：用于测量光谱发射率的物体内置型测量箱包括壳体（10），黑体形成构件（20），盖（30），保持器（40），测量孔阻挡构件 50），真空单元（60）和温度设定单元（70）。 物体放置空间（11）形成在壳体中。 在壳体中形成黑体安装孔。 黑体（21）形成在黑体形成部件中。 盖可以从壳体分离。 保持器具有用于固定物体（1）的夹具。 测量孔阻挡构件测量物体和位于测量孔（31）中的黑体的热量。 温度设定单元将壳体和黑体形成构件加热以具有相同的温度。
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