公开(公告)号：WO03100445A2

公开(公告)日：2003-12-04

申请号：PCT/US0316322

申请日：2003-05-23

Applicant: CASCADE MICROTECH INC ,  GLEASON K REED

Inventor： LESHER TIM ,  ANDREWS MIKE ,  MARTIN JOHN ,  DUNKLEE JOHN ,  HAYDEN LEONARD ,  SAFWAT AMR M E ,  STRID ERIC

IPC: G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R3/00

CPC classification number: G01R1/06772 ,  G01R1/06711 ,  G01R1/06755 ,  G01R1/06777

Abstract: A probe measurement system (40-43, 90, 80, 85, 90, 94) for measuring the electrical characteristics of integrated circuits or other microelectronic devices at high frequencies.

Abstract translation: 用于测量高频下集成电路或其他微电子器件的电气特性的探针测量系统（40-43,90,80,85,90,94）。

公开(公告)号：AU2003286669A1

公开(公告)日：2004-06-18

申请号：AU2003286669

申请日：2003-10-24

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： DUNKLEE JOHN ,  COWAN CLARENCE E

IPC: G01R31/28

Abstract: A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device.

公开(公告)号：DE10143175A1

公开(公告)日：2002-04-18

申请号：DE10143175

申请日：2001-09-04

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： DUNKLEE JOHN

IPC: G01R31/26 ,  G01R1/06 ,  G01R31/28 ,  H01L21/66 ,  H01L21/68 ,  H01L21/683 ,  G12B21/20

Abstract: A chuck for a probe station.

公开(公告)号：AU2003285022A1

公开(公告)日：2004-07-09

申请号：AU2003285022

申请日：2003-10-27

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： DUNKLEE JOHN ,  NORGDEN GREG ,  COWAN CLARENCE E

IPC: G01R1/18 ,  G01R31/28 ,  G01R31/02 ,  G01R27/28

Abstract: A probe station with an improved guarding structure.

公开(公告)号：AU2003233659A1

公开(公告)日：2003-12-12

申请号：AU2003233659

申请日：2003-05-23

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： STRID ERIC ,  LESHER TIM ,  ANDREWS MIKE ,  MARTIN JOHN ,  DUNKLEE JOHN ,  HAYDEN LEONARD ,  SAFWAT AMR M E

IPC: G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R3/00

Abstract: A probe measurement system for measuring the electrical characteristics of integrated circuits or other microelectronic devices at high frequencies.

公开(公告)号：EP1567871A4

公开(公告)日：2006-05-17

申请号：EP03777879

申请日：2003-10-24

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： DUNKLEE JOHN ,  COWAN CLARENCE E

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/02

CPC classification number: G01R31/2851 ,  G01R31/2886 ,  G01R31/2887

Abstract: A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device.

Abstract translation: 适用于电气设备的高电流测量的探头组件。

公开(公告)号：EP1509776A4

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：EP03729099

申请日：2003-05-23

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： LESHER TIM ,  ANDREWS MIKE ,  MARTIN JOHN ,  DUNKLEE JOHN ,  HAYDEN LEONARD ,  SAFWAT AMR M E ,  STRID ERIC

IPC: G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R3/00

CPC classification number: G01R1/06772 ,  G01R1/06711 ,  G01R1/06755 ,  G01R1/06777

公开(公告)号：EP1570279A4

公开(公告)日：2006-11-08

申请号：EP03779339

申请日：2003-10-27

Applicant: CASCADE MICROTECH INC

Inventor： DUNKLEE JOHN ,  NORGDEN GREG ,  COWAN CLARENCE E

IPC: G01R1/18 ,  G01R31/28 ,  G01R31/02 ,  G01R27/28

CPC classification number: G01R31/2862 ,  G01R1/18 ,  G01R31/2865 ,  G01R31/2886

Abstract: A probe station with an improved guarding structure.

Abstract translation: 具有改进的防护结构（130）的探测台（110）。