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    Method for high spatial resolution examination of sample, involves providing optical signal in the form of focal line with cross-sectional profile having intensity zero point with laterally neighboring intensity maxima
    11.
    发明专利
    Method for high spatial resolution examination of sample, involves providing optical signal in the form of focal line with cross-sectional profile having intensity zero point with laterally neighboring intensity maxima 未知

    公开(公告)号：DE102006009831A1

    公开(公告)日：2007-09-13

    申请号：DE102006009831

    申请日：2006-03-01

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： DYBA MARCUS ,  GUGEL HILMAR

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

    Abstract: A method for high spatial resolution examination of samples (1), involves bringing a substance in the sample region (P) into a first state (e.g. fluorescence-capable state) (Z1, A); inducing a second state (e.g. non-fluorescence-capable state) (Z2, B) using an optical signal (4) that is provided in the form of a focal line with a cross-sectional profile having at least one intensity zero point (5) with laterally neighboring intensity maxima (9) ; and recording spatially delimited sub-regions specifically excluded within the sample region. A method for high spatial resolution examination of samples (1), involves bringing a substance in the sample region (P) into a first state (e.g. fluorescence-capable state) (Z1, A); inducing a second state (e.g. non-fluorescence-capable state) (Z2, B) that is differ from the first state in at least one optical property using an optical signal (4); and recording spatially delimited sub-regions specifically excluded within the sample region. The optical signal is provided in the form of a focal line with a cross-sectional profile having at least one intensity zero point (5) with laterally neighboring intensity maxima (9). The focal line is produced using a linear illumination in a pupil plane conjugate with the pupil of the objective-pupil line and by suitable phase modulation along the pupil line. The phase modulation is undertaken in such a way that phase jumps are introduced along the pupil line. The phase jump is introduced at the pupil midpoint. The phase modulation along the pupil line is implemented using a spatial liquid-based phase modulator in an intermediate image of the pupil. The pupil line is produced by focusing an illuminating light beam of an illuminating light source with a cylindrical lens or a Powell lens; by imaging a split diaphragm into the pupil plane; or using holographic elements. The pupil line is coupled into the beam path using an Achrogate filter. The method uses a laser is used as an illuminating light source for providing the optical signal. The pulsed light sources are synchronized. An independent claim is included for a microscope, in particular a laser scanning fluorescence microscope, for high spatial resolution examination of samples comprising an optical signal that can be provided in the form of a focal line with a cross-sectional profile having at least one intensity zero point with laterally neighboring intensity maxima.

    12.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE102006009830A1

    公开(公告)日：2007-09-06

    申请号：DE102006009830

    申请日：2006-03-01

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GUGEL HILMAR ,  DYBA MARCUS ,  SEYFRIED VOLKER

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

    Abstract: A method for high spatial resolution examination of a sample, the sample to be examined including a substance that can be repeatedly converted from a first state into a second state, the first and the second states differing from one another in at least one optical property. The method includes: a) bringing the substance into the first state by means of a switching signal in a sample region to be recorded, b)inducing the second state by means of an optical signal, spatially delimited subregions being specifically excluded within the sample region to be recorded, c) reading out the remaining first states, and d) steps a) to c) are repeated, the optical signal being displaced upon each repetition in order to scan the sample, wherein the individual steps a) to d) are carried out in a sequence adapted to the respective measuring situation.

    Mikroskopische Einrichtung und mikroskopisches Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten
    13.
    发明专利
    Mikroskopische Einrichtung und mikroskopisches Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten 未知

    公开(公告)号：DE102011053232B4

    公开(公告)日：2020-08-06

    申请号：DE102011053232

    申请日：2011-09-02

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： DYBA MARCUS

    IPC: G02B21/18 ,  G02B21/00

    Abstract: Mikroskopische Einrichtung (10) zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten (14, 16), umfassend:zwei Abbildungsoptiken (12, 26, 26'), die ein und dasselbe in einem Objektraum (18) angeordnete punktförmige Objekt (14, 16) jeweils in Form einer Fokuslichtverteilung (40, 40', 42, 42') in zwei separate Bildräume (34) abbilden,zwei Detektoreinheiten (28, 28'), die jeweils einer der beiden Abbildungsoptiken (12, 26, 26') zugeordnet sind und in Detektionspunkten einer in dem jeweiligen Bildraum (34) liegenden Detektionsfläche (27, 27') einen auswertbaren Lichtfleck (54, 54') erfassen, der einen ebenen Schnitt durch die jeweilige Fokuslichtverteilung (40, 40', 42, 42') darstellt, undeine Auswerteeinheit (60), welche die Detektionspunkte der beiden Detektionsflächen (27, 27') paarweise in Korrespondenz zueinander setzt und durch Auswerten der beiden Lichtflecke (54, 54') unter Berücksichtigung dieser Detektionspunktkorrespondenz eine laterale x-y-Position des punktförmigen Objektes (14, 16) innerhalb einer in dem Objektraum (18) liegenden Objektebene und eine axiale z-Position des punktförmigen Objektes (14, 16) in Richtung einer senkrecht zu der Objekteebene liegenden optischen Achse (O1) ermittelt,dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Abbildungsoptiken (12, 26, 26') jeweils ein optisches Mittel (26, 26') aufweisen, das die jeweilige Fokuslichtverteilung (40, 40', 42, 42') schräg zu einer in der jeweiligen Abbildungsoptik (12, 26, 26') vorgesehenen Detektionsachse (36) ausrichtet, die senkrecht zur Detektionsfläche (27, 27') der jeweiligen Detektionseinheit (26, 26') liegt,die durch die optischen Mittel (26, 26') bewirkten Schrägstellungen der beiden Fokuslichtverteilungen (40, 40', 42, 42') einander derart entgegengesetzt sind, dass sich die beiden Lichtflecke (54, 54') mit einer Änderung der z-Position des punktförmigen Objektes (14, 16) in ihren jeweiligen Detektionsflächen (27, 27') unter Berücksichtigung der Detektionspunktkorrespondenz gegenläufig verschieben, unddie Auswerteeinheit (60) die axiale z-Position des punktförmigen Objektes (14, 16) an Hand der relativen Lage der beiden Lichtflecke (54, 54') ermittelt.

    Abtastvorrichtung zum Abtasten eines Objekts für den Einsatz in einem Rastermikroskop
    14.
    发明专利
    Abtastvorrichtung zum Abtasten eines Objekts für den Einsatz in einem Rastermikroskop 未知

    公开(公告)号：LU92924A1

    公开(公告)日：2017-07-21

    申请号：LU92924

    申请日：2015-12-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： DYBA MARCUS

    IPC: G02B21/00 ,  G02B26/08 ,  G02B26/10

    Abstract: Eine Abtastvorrichtung (10) zum Abtasten eines Objekts (122) für den Einsatz in einem Rastermikroskop (100) umfasst mindestens eine Abtasteinheit (12) zum zweidimensionalen Abtasten des Objekts (122) mit Hilfe eines Lichtstrahls (104) und mindestens eine Rotationsvorrichtung (14) zum Drehen der Abtasteinheit (12) um eine Rotationsachse (16), um eine Bildfeldrotation zu erzeugen. Dabei umfasst die Abtasteinheit (12) mindestens ein Ablenkelement (18) zum Ablenken eines auf das Ablenkelement (18) auftreffenden Lichtstrahls (110). Ferner hat das Ablenkelement (18) eine rotationssymmetrische Form. (Figur 1a) 92924

    Verfahren zur Verbesserung des Dynamikbereichs einer Vorrichtung zum Detektieren von Licht und Vorrichtung
    15.
    发明专利
    Verfahren zur Verbesserung des Dynamikbereichs einer Vorrichtung zum Detektieren von Licht und Vorrichtung 未知

    公开(公告)号：DE102015102632A1

    公开(公告)日：2016-08-25

    申请号：DE102015102632

    申请日：2015-02-24

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： DYBA MARCUS

    IPC: G01J1/18 ,  G01N21/64 ,  G01N21/65 ,  G02B21/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verbesserung des Dynamikbereichs einer Vorrichtung zum Detektieren von Licht, vorzugsweise zur Anwendung in einem Mikroskop, mit mindestens zwei Detektionsbereichen (8, 9), wobei die Detektionsbereiche (8, 9) jeweils aus einer Anordnung (Array) (8, 9) aus mehreren Single-Photon-Avalanche-Dioden (SPAD) gebildet werden und wobei die Detektionsbereiche (8, 9) jeweils zumindest einen Signal-Ausgang (10, 11) aufweisen, wobei für jeden der Detektionsbereiche (8, 9) eine Kennkurve (12, 13) ermittelt wird und wobei die Kennkurven (12, 13) zum Erhalt einer Korrekturkurve (15) und/oder eines Korrekturfaktors (17) miteinander kombiniert und/oder verrechnet werden. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Detektieren von Licht, insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop. Ferner betrifft die Erfindung ein entsprechendes Mikroskop.

    Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Licht
    16.
    发明专利
    Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Licht 未知

    公开(公告)号：DE102015102631A1

    公开(公告)日：2016-08-25

    申请号：DE102015102631

    申请日：2015-02-24

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： DYBA MARCUS ,  KREMER MANUEL

    IPC: G01J1/18 ,  G01J1/42 ,  G01N21/64 ,  G01N21/65 ,  G02B21/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Detektieren von Licht (16, 16b, 16c), insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop, mit mindestens einem Silicium-Photomultiplier (SiPM) und einer Optik (23), wobei der SiPM eine aus einer Anordnung (Array) (4) mehrerer Single-Photon-Avalanche-Dioden (SPAD) (3) gebildete Detektionsfläche (22) aufweist und wobei die Optik (23) das Licht (16, 16b, 16c) derart formt, dass die Detektionsfläche (22) mit einem Lichtstrahlbereich nahezu konstanter Intensität möglichst vollständig bedeckt ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Mikroskop umfassend eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Detektion von Licht (16, 16b, 16c). Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Detektieren von Licht (16, 16b, 16c).

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