公开(公告)号：DE10043992B4

公开(公告)日：2013-12-24

申请号：DE10043992

申请日：2000-09-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  HOFFMANN JUERGEN DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Verfahren zur Untersuchung einer Probe (11) mittels eines konfokalen Scan-Mikroskops mit mindestens einer Lichtquelle (1), vorzugsweise einem Laser, zur Erzeugung eines Beleuchtungslichtstrahls (4) für die Probe (11) und einer Strahlablenkeinrichtung (9) zur Führung des Beleuchtungslichtstrahls (4) über die Probe (11), mit den folgenden Verfahrensschritten: – Aufnehmen eines Voransichtsbilds (19, 30); – Markieren mehrerer interessierender Bereiche (16, 17; 27, 28) im Voransichtsbild (19, 30); – Zuordnen individueller Beleuchtungslichtstrahl-Wellenlängen und/oder Beleuchtungslichtstrahl-Leistungen zu den Bereichen (16, 17; 27, 28); – Beleuchten der Bereiche (24, 25) der Probe (11) gemäß der Zuordnung; – Detektieren des von der Probe (11) ausgehenden Reflexions- und/oder Fluoreszenzlichts, wobei der Beleuchtungslichtstrahl (4) derart geführt wird, dass im Wesentlichen nur die markierten Bereiche (24, 25) der Probe (11) beleuchtet werden, und wobei die Strahlablenkung zwischen zwei oder den Bereichen (24, 25) im Wesentlichen in direkter Linie von einem Bereich (24, 25) zu einem anderen Bereich (25, 24) erfolgt.

公开(公告)号：DE50115765D1

公开(公告)日：2011-02-17

申请号：DE50115765

申请日：2001-01-24

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR

IPC: G02B21/26 ,  G02B7/00 ,  G02B21/00

公开(公告)号：DE50208836D1

公开(公告)日：2007-01-11

申请号：DE50208836

申请日：2002-10-30

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR

IPC: G02B21/00 ,  G01J3/04

Abstract: The scanning microscope (11) has a light source (13). A mouse pointer (75) selects a lower and upper limit wavelength that defines an upper and lower limit of a lower and upper extrusion region respectively. Two adjustable stops (53, 55) blocks light components of the lower and the upper exclusion region of the detection light. A detector receives the unblocked component of the detection light. An Independent claim is also included method for scanning microscopy.

公开(公告)号：DE10042114A1

公开(公告)日：2002-03-14

申请号：DE10042114

申请日：2000-08-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B26/06 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02F1/01 ,  H01S3/00

Abstract: The object of the patent is to reduce the coherence length of the light beam. For this purpose the phase position of the light field is varied with a demodulator e.g. an electro-optical modulator placed in the path of the light beam, to widen the spectral line width of the laser beam achieved by applying a periodic or statistical signal to the modulator.

公开(公告)号：DE19901219B4

公开(公告)日：2017-10-19

申请号：DE19901219

申请日：1999-01-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  HOPPE MARTIN DR ,  ULRICH HEINRICH DR

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00 ,  G02B21/08

Abstract: Optische Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang (1) eines Auflichtmikroskops, wobei eine im Beleuchtungsstrahlengang (1) angeordnete Beleuchtungsoptik (6) zur Veränderung des Beleuchtungsdurchmessers (7) vorgesehen ist, wobei die Beleuchtungsoptik (6) als Anordnung auswechselbarer fester Optiken ausgeführt ist, wobei die Beleuchtung des Objekts durch ein Objektiv (9) erfolgt, und wobei Lichtverluste an der Eintrittspupille (8) des Objektivs zumindest weitgehend dadurch vermeidbar sind, dass der Beleuchtungsdurchmesser (7) auf die Eintrittspupillen (8) vorgegebener Objektive (9) abstimmbar ist.

公开(公告)号：DE10111824B4

公开(公告)日：2017-04-06

申请号：DE10111824

申请日：2001-03-13

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B26/08 ,  G02B7/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/24

Abstract: Verfahren zum Justieren von mindestens einem Abschnitt eines Lichtstrahls (1) in einem Mikroskop (15), wobei der Abschnitt durch ein justierbares optisches Bauteil (76) und einer Position, an der eine Einrichtung (70) zum Justieren angebracht ist, definiert ist, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte: – Anbringen der Einrichtung (70) zum Justieren an dem Mikroskop (15) an eine von mehreren möglichen Positionen (160, 161, 162, 163) für die Einrichtung (70) zum Justieren; – Einkoppeln des Lichtstrahls (1) des Mikroskops (15) an der Position, an der die Einrichtung (70) zum Justieren angebracht ist, in die Einrichtung (70) zum Justieren des Lichtstrahls (1), wobei ein Einkoppellichtstrahl (9) in der Einrichtung (70) erzeugt wird; – Lenken des Einkoppellichtstahls (9) auf mindestens zwei Photodetektoren (10, 22), wobei die Photodetektoren (10, 22) jeweils unterschiedlich von der Position beabstandet sind; – Ermitteln der Abweichung des Einkoppellichtstahls (9) von einer Soll-Position (72) aus den elektrischen Signalen der Photodetektoren (10, 22) und – Verstellen des optischen Bauteils (76) über mindestens ein Stellelement (78), um den Einkoppellichtstahl (9) in die Soll-Position (72) zu bringen.

公开(公告)号：DE19820575B4

公开(公告)日：2012-03-29

申请号：DE19820575

申请日：1998-05-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  ZAPF THOMAS DR ,  HUG WILLIAM

IPC: H01S3/097 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  H01S3/10

Abstract: Verfahren zum Betrieb einer pulsierenden Laserlichtquelle zum Scannen in einem konfokalen Laserscanmikroskop, wobei die Laserlichtquelle über ein Netzteil mit Strom versorgt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle einen Duty-Cycle von 50% bis hin zu wenigen Prozenten bei geringer Repetitionsrate hat und dass die Strahlnutzzeit, nämlich die Datenaufnahme, im Wesentlichen mit dem Emissionszyklus der Laserlichtquelle derart synchronisiert ist, dass unter vollständiger Nutzung des Emissionszyklus der Laserlichtquelle die Datenaufnahme in jeder n-ten Zeile erfolgt.

公开(公告)号：DE60132280D1

公开(公告)日：2008-02-21

申请号：DE60132280

申请日：2001-08-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  STORZ RAFAEL DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/24 ,  F16F15/02

公开(公告)号：AT313096T

公开(公告)日：2005-12-15

申请号：AT01114039

申请日：2001-06-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR

IPC: G02B6/02 ,  G02B6/122 ,  G02B6/255 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B27/00 ,  H01S3/00 ,  H01S3/16

Abstract: The arrangement for studying microscopic preparations with a scanning microscope consists of a laser (1) and an objective (12), which focuses the light produced by the laser (1) onto a sample (13) to be studied, an optical waveguide element (3), which transports the light produced by the laser (1), being provided between the laser (1) and the objective (12). The optical waveguide element is constructed from a plurality of micro-optical structure elements which have at least two different optical densities. It is particularly advantageous if the optical waveguide element (3) consists of photonic band gap material and is configured as an optical fiber.

公开(公告)号：DE10111825B4

公开(公告)日：2019-03-07

申请号：DE10111825

申请日：2001-03-13

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR

IPC: G02B27/62 ,  G02B7/00 ,  G02B27/32

Abstract: Anordnung (70) zum Justieren eines Lichtstrahls (1) in einem optischen System (100), das eine erste optische Achse (60) definiert, wobei ein Mittel zum Einkoppeln (3) des Lichtstrahls in ein Gehäuseteil (80) der Anordnung (70) vorgesehen ist und das Mittel zum Einkoppeln (3) eine Einkoppelstelle (3a) und einen Einkoppellichtstrahl (9) definiert, wobei das Gehäuseteil (80) der Anordnung (70) eine zweite optische Achse (40) definiert, wobei ein erster und ein zweiter Photodetektor (10, 22) in jeweils unterschiedlichen Abständen zur Einkoppelstelle (3a) an dem Gehäuseteil (80) angeordnet sind, wobei im Einkoppellichtstrahl (9) mindestens ein Umlenkmittel (36) vorgesehen ist, das den Einkoppellichtstrahl (9) auf den ersten Photodetektor (10) richtet und wobei der zweite Photodetektor (22) in Richtung der zweiten optischen Achse (40) angeordnet ist.