中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

27 records (took 0.022 seconds)

    3.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE50015213D1

    公开(公告)日：2008-07-31

    申请号：DE50015213

    申请日：2000-11-09

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR ,  BIRK HOLGER DR ,  BRADL JOACHIM DR

    IPC: G02B21/00 ,  G02B26/10

    Abstract: The invention concerns an apparatus for beam deflection, in particular for scanning microscopy, a light beam being deflectable by a mirror arrangement that is alternatingly rotatable by a rotary drive. The apparatus for beam deflection makes possible maximum variability in terms of frequency range and maximally achievable oscillation frequency, and is thus usable in flexible and versatile fashion. It moreover allows almost any desired angular offset from the zero point position to be established, and is characterized in that the rotary drive comprises two mutually independent drive units which rotate the mirror arrangement, together or mutually independently, about a rotation axis.

    4.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE50112477D1

    公开(公告)日：2007-06-21

    申请号：DE50112477

    申请日：2001-10-16

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  KNEBEL WERNER DR

    IPC: G02B21/00 ,  G02B21/26

    Abstract: A portion of a specimen region to be examined with scan field, is scanned. The specimen stage in the X-Y plane is moved to scan the remaining portions of the specimen region, such that the entire specimen region is located within the scan fields. The specimen data obtained from all the scan fields are combined. An Independent claim is included for microscopic specimen scanning arrangement.

    5.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DK1186929T3

    公开(公告)日：2006-03-13

    申请号：DK01114039

    申请日：2001-06-08

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR

    IPC: G02B21/00 ,  G02B6/02 ,  G02B6/122 ,  G02B6/255 ,  G02B21/06 ,  G02B27/00 ,  H01S3/00 ,  H01S3/16

    Abstract: The arrangement for studying microscopic preparations with a scanning microscope consists of a laser (1) and an objective (12), which focuses the light produced by the laser (1) onto a sample (13) to be studied, an optical waveguide element (3), which transports the light produced by the laser (1), being provided between the laser (1) and the objective (12). The optical waveguide element is constructed from a plurality of micro-optical structure elements which have at least two different optical densities. It is particularly advantageous if the optical waveguide element (3) consists of photonic band gap material and is configured as an optical fiber.

    Scanmikroskop
    6.
    发明专利
    Scanmikroskop 未知

    公开(公告)号：DE10115590B4

    公开(公告)日：2020-11-05

    申请号：DE10115590

    申请日：2001-03-29

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR ,  MÖLLMANN KYRA DR

    IPC: G02B6/00 ,  G02B21/06 ,  G02B5/00 ,  G02B5/04 ,  G02B5/18 ,  G02B5/22 ,  G02B6/02 ,  G02B6/12 ,  G02B6/122 ,  G02B6/255 ,  G02B21/00 ,  G02B27/00 ,  G02F1/35 ,  G02F1/39 ,  G02F2/02 ,  H01S3/00 ,  H01S3/16

    Abstract: Scanmikroskop (1) mit einem Laser (2), der einen Lichtstrahl einer ersten Wellenlänge (5, 43, 53) emittiert, der auf ein optisches Element (9) gerichtet ist, das die Wellenlänge des Lichtstrahles zumindest zum Teil verändert, und mit einem Mittel (16) zur Unterdrückung des Lichtes der ersten Wellenlänge in dem in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahl (15, 47, 57),wobei das optische Element (9) aus Photonic-Band-Gap-Material besteht und als Lichtleitfaser (11) ausgestaltet ist zur Veränderung der Wellenlänge derart, dass ein breites Spektrum entsteht, undwobei das Mittel (16) zur Unterdrückung ein Filter (17) ist, den der in der Wellenlänge veränderte Lichtstrahl durchläuft und der in dem in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahl die Leistung des Lichtanteils im Bereich der ersten Wellenlänge auf das Niveau der übrigen Wellenlängen des in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahls reduziert.

    7.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE50110790D1

    公开(公告)日：2006-10-05

    申请号：DE50110790

    申请日：2001-07-14

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR

    IPC: G01B21/00 ,  G02B21/00 ,  G02B26/10

    Abstract: Method for phase correction of position and detection signals for use in scanning microscopy has the following steps: (a) generation of a position signal from the position of a beam deflector (7) and production of a detection signal (21) from the light (17) originating from the object (15); (b) transfer of the position signal (25) and detection signal (21) to a processing unit (23); (c) determination of correction values and transfer of correction values to the processing unit for comparison of time differences between position and detection signals. Independent claims are included for the following: (1) a device for phase correction of position and detection signals from a scanning microscope; (2) a scanning microscope with phase correction.

    Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
    8.
    发明专利
    Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop 未知

    公开(公告)号：DE10043986B4

    公开(公告)日：2020-01-16

    申请号：DE10043986

    申请日：2000-09-05

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  HOFFMANN JÜRGEN DR ,  KNEBEL WERNER DR

    IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64 ,  G02B21/06

    Abstract: Verfahren zur Untersuchung einer Probe (11) mittels eines konfokalen Scan-Mikroskops mit mindestens einer Lichtquelle (1) zur Erzeugung eines Beleuchtungslichtstrahls (4) für die Probe (11) und einer Strahlablenkeinrichtung (9) zur Führung des Beleuchtungslichtstrahls (4) über die Probe (11), mit den folgenden Verfahrensschritten:- Aufnehmen eines Voransichtsbilds (19, 30);- Markieren mindestens eines interessierenden Bereichs (16, 17; 27, 28) im Voransichtsbild (19, 30);- Zuordnen individueller Beleuchtungslichtstrahl-Wellenlängen und/oder Beleuchtungslichtstrahl-Leistungen zu dem Bereich (16, 17; 27, 28) oder den Bereichen (16, 17; 27, 28);- Beleuchten des Bereichs (24, 25) oder der Bereiche (24, 25) der Probe (11) gemäß der Zuordnung, wobei durch das Beleuchten mindestens eine Manipulation in mindestens einem Bereich (25) durchgeführt wird,wobei der Beleuchtungslichtstrahl (4) derart geführt wird, dass im Wesentlichen nur der markierte Bereich (24, 25) oder die markierten Bereiche (24, 25) der Probe (11) beleuchtet werden, wobei die Strahlablenkung außerhalb des Bereichs (24, 25) oder der Bereiche (24, 25) oder zwischen den Bereichen (24, 25) von einer sägezahn-, sinus- oder mäanderförmigen Strahlablenkung abweicht undwobei während der Manipulation in mindestens einem Bereich (25) dieser Bereich (25) oder diese Bereiche (25) und/oder mindestens ein anderer Bereich (24) im Wesentlichen simultan beobachtet wird.

    Mikroskop-Aufbau
    9.
    发明专利
    Mikroskop-Aufbau 未知

    公开(公告)号：DE10029680B4

    公开(公告)日：2016-06-16

    申请号：DE10029680

    申请日：2000-06-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR

    IPC: G02B5/08 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/08 ,  G02B21/26 ,  G02B21/32

    Abstract: Ein Mikroskop-Aufbau, insbesondere ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop, umfasst eine einen Lichtstrahl (2) erzeugende Lichtquelle (1), insbesondere Laserlichtquelle, die ein zu untersuchendes Objekt (6) beleuchtet, ein Mittel (3), das den Lichtstrahl (2) in einen linienförmigen Beleuchtungslichtstrahl auffächert, einen Strahlteiler (4), der den Beleuchtungslichtstrahl auf ein Objektiv (5) lenkt, welches zur Führung des Beleuchtungslichtstrahls zu dem Objekt (6) dient, und eine Einrichtung, die eine Relativbewegung zwischen dem Beleuchtungslichtstrahl und dem Objekt (6) erzeugt, wobei die Einrichtung derart ausgebildet ist, dass der Beleuchtungslichtstrahl mittels der Einrichtung in der Objektivpupille (12) drehbar ist, und ist dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung durch den Strahlteiler (4) gebildet ist und ein Kippelement, das den Strahlteiler (4) verkippt, aufweist, wobei der Strahlteiler (4) auf dem Kippelement angeordnet ist.

    Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop
    10.
    发明专利
    Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop 未知

    公开(公告)号：DE10050529B4

    公开(公告)日：2016-06-09

    申请号：DE10050529

    申请日：2000-10-11

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  KNEBEL WERNER DR

    IPC: G02B21/00 ,  G02B26/10 ,  G02B21/06 ,  G02B21/24 ,  G02B21/36 ,  G06T1/00

    Abstract: Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop mit folgenden Schritten: • Aufnehmen eines Voransichtsbildes (7); • Markieren mindestens eines interessierenden Bereichs (27, 29) im Voransichtsbild (7); • Verschieben des Scanfeldes (31, 33) auf den interessierenden Bereich (27, 29) mittels einer ersten Strahlablenkeinrichtung (43, 67, 78); und • Aufnehmen eines Bildes durch mäanderförmiges Abtasten des interessierenden Bereichs (27, 29) mit einer zweiten Strahlablenkeinrichtung (49, 72, 82, 94), dadurch gekennzeichnet, dass die erste und die zweite Strahlablenkeinrichtung (72, 78, 82, 94) mit je zwei Strahlablenkmodulen (71 und 75, 81 und 83, 77 und 79, 93 und 95) ausgestaltet sind und dass die Strahlablenkmodule (71 und 75, 81 und 83, 77 und 79, 93 und 95) durch einen kardanisch aufgehängten Spiegel oder einen Mikrospiegel oder einen Akusto-Optischen-Deflektor oder einen Galvanometerspiegel oder ein resonant schwingendes Spiegelsystem gebildet sind.

Patent Agency Ranking