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    Halterung für einen Objektträger, Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops
    11.
    发明专利
    Halterung für einen Objektträger, Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops 未知

    公开(公告)号：DE102016125691B4

    公开(公告)日：2018-10-25

    申请号：DE102016125691

    申请日：2016-12-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SIECKMANN FRANK

    IPC: G02B21/34 ,  G02B21/00

    Abstract: Halterung (2) für einen Objektträger (12), mit einem Aufnahmebereich, der eine erste Auflagefläche (14) und eine der ersten Auflagefläche (14) gegenüber angeordnete zweite Auflagefläche (14), eine erste Gegenfläche (18), die zu der ersten Auflagefläche (14) feststehend angeordnet ist und diese zumindest teilweise überspannt, und eine zweite Gegenfläche (18), die zu der zweiten Auflagefläche (14) feststehend angeordnet ist und diese zumindest teilweise überspannt, aufweist, wobei eine Ausdehnung der Auflageflächen (14) in einer ersten Richtung, die der Einschubrichtung des Objektträgers entspricht, zumindest doppelt so groß ist wie eine Ausdehnung der Gegenflächen (18), wobei der Aufnahmebereich an drei Seiten von Seitenelementen (16, 34) begrenzt wird und an einer Seite eine Öffnung zum Einführen eines Objektträgers (12) aufweist,wobei die erste Auflagefläche (14) und die erste Gegenfläche (18) einen ersten Schlitz und die zweite Auflagefläche (14) und die zweite Gegenfläche (18) einen dem ersten Schlitz gegenüberliegend angeordneten zweiten Schlitz derart definieren, dass der Objektträger (12) in die Schlitze einschiebbar ist, wobei der Objektträger (12) vor dem Einschieben in die Schlitze auf den Auflageflächen (14) vollflächig aufliegt,und wobei innerhalb des Aufnahmebereichs zumindest ein Andruckelement (20) angeordnet ist, das eine zum Inneren des Aufnahmebereichs hin gerichtete Rückstellkraft ausüben kann.

    Halterung für einen Objektträger, Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops
    12.
    发明专利
    Halterung für einen Objektträger, Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops 未知

    公开(公告)号：DE102016125691A1

    公开(公告)日：2018-06-28

    申请号：DE102016125691

    申请日：2016-12-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SIECKMANN FRANK

    IPC: G02B21/34 ,  G02B21/00

    Abstract: Es wird eine Halterung (2) für einen Objektträger (12) vorgeschlagen, die eine schlitzförmige Aufnahme für den Objektträger (12) aufweist, in welcher der Objektträger (12) beim Einlegen mit Hilfe eines Andruckelements (20) automatisch festgeklemmt wird. Weiterhin wird ein Verfahren zum Steuern eines Mikroskops vorgeschlagen, bei dem automatisch detektiert wird, ob ein Objektträger (12) eingelegt ist und ggf. ob ein Kontakt zwischen Objektträger (12) und dem Objektiv (50) des Mikroskops besteht und eine Zerstörung des Objektträgers (12) und/oder des Objektivs (50) droht.

    Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben
    13.
    发明专利
    Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben 未知

    公开(公告)号：DE102013211426A1

    公开(公告)日：2014-12-18

    申请号：DE102013211426

    申请日：2013-06-18

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER ,  SIECKMANN FRANK ,  FOUQUET WERNHER

    IPC: G02B21/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben. Das Verfahren beinhaltet den Schritt des Anordnens der Proben in einem, insbesondere motorisch und/oder automatisch, relativ zu einer Probenbeleuchtungsposition bewegbaren Probenhalter derart, dass sukzessive jeweils zumindest eine der Proben in der Probenbeleuchtungsposition positionierbar ist, wobei jeweils angrenzend an die Probe, die sich gerade in der Probenbeleuchtungsposition befindet, ein Freiraum für ein Umlenkmittel, verbleibt, den Schritt des Fokussierens eines Lichtstreifens mit einem Beleuchtungsobjektiv, den Schritt des Umlenkens des Lichtstreifens nachdem dieser das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat mit dem Umlenkmittel derart, dass sich der Lichtstreifen unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet und in der Probenbeleuchtungsposition einen Fokus aufweist, und den Schritt des sukzessiven Positionierens der mit dem Probenhalter gehalterten Proben in der Probenbeleuchtungsposition und Detektierens des von der jeweils in der Probenbeleuchtungsposition befindlichen Probe ausgehenden Detektionslichtes. Die Erfindung betrifft außerdem eine optische Vorrichtung mit einem Probenhalter, der eine Vielzahl von Proben hält und der, insbesondere motorisch und/oder automatisch, relativ zu einer Probenbeleuchtungsposition derat bewegbar gelagert ist, dass sukzessive jeweils zumindest eine der Proben in der Probenbeleuchtungsposition positionierbar ist.

    Mikroskop mit kabelloser Funkschnittstelle und Mikroskopsystem
    14.
    发明专利
    Mikroskop mit kabelloser Funkschnittstelle und Mikroskopsystem 未知

    公开(公告)号：DE102013201555A1

    公开(公告)日：2013-08-01

    申请号：DE102013201555

    申请日：2013-01-30

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SIECKMANN FRANK

    IPC: G02B21/00 ,  H04W4/80

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop mit einer Mikroskopsteuereinheit, die ein Funksystem mit kabelloser Funkschnittstelle aufweist, wobei die Mikroskopsteuereinheit mindestens ein erstes Funksystem (1) zur Bereitstellung mindestens einer ersten Funkcharakteristik und mindestens ein zweites Funksystem (2) zur Bereitstellung mindestens einer zweiten Funkcharakteristik aufweist und/oder mindestens ein Funksystem aufweist, das derart eingerichtet ist, dass es in einem vorbestimmten zeitlichen Takt mindestens eine erste und zweite Funkcharakteristik bereitstellt.

    Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
    15.
    发明专利
    Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe 未知

    公开(公告)号：DE102011054914A1

    公开(公告)日：2013-05-02

    申请号：DE102011054914

    申请日：2011-10-28

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER ,  SIECKMANN FRANK

    IPC: G02B21/06 ,  G01B11/24 ,  G01B11/25

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Beleuchten einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie mit einer Lichtquelle zum Erzeugen eines Lichtbündels, mit Mitteln zum Erzeugen eines Lichtstreifens aus dem Lichtbündel, insbesondere zum im Wesentlichen flächenartigen Beleuchten einer Probe in einer Beleuchtungsebene aus wenigstens einer Richtung, mit wenigstens einem Objektiv, das eine Optik aufweist, die dazu ausgebildet und bestimmt ist, von der Probe ausgehendes Detektionslicht direkt oder indirekt einem Detektor zuzuführen, wobei die Optik des Objektivs mit dem Lichtstreifen in Wechselwirkung tritt, und mit einer der Optik des Objektivs nachgeschalteten Umlenkvorrichtung zum Umlenken des Lichtstreifens, wobei sich der Lichtstreifen nach dem Umlenken zum Beleuchten einer Probe in einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Objektivs ausbreitet und/oder in einer optischen Achse des Objektivs nicht parallelen Ebene angeordnet ist. Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zum Beleuchten einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie.

    Verfahren und Mikroskopiersystem zum Scannen einer Probe
    16.
    发明专利
    Verfahren und Mikroskopiersystem zum Scannen einer Probe 未知

    公开(公告)号：DE102006042157B4

    公开(公告)日：2013-03-21

    申请号：DE102006042157

    申请日：2006-09-06

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS ,  EUROP LAB MOLEKULARBIOLOG

    Inventor： SIECKMANN FRANK ,  LIEBEL URBAN

    IPC: G01B11/24 ,  G01B9/04 ,  G01N21/17 ,  G02B21/36 ,  G06K9/60

    Abstract: Verfahren zum Scannen einer Probe mittels eines elektrisch und/oder elektronisch steuerbaren Mikroskops, wobei eine Vielzahl von Bildern, insbesondere digitalen Bildern, an unterschiedlichen Stellen der Probe und/oder zu unterschiedlichen Zeiten erzeugt wird und wobei das Mikroskop während des Scanvorgangs durch einen Steuerrechner gesteuert wird, dadurch gekennzeichnet, dass ein von dem Mikroskop erzeugtes Bild an mindestens einen von mehreren weiteren Rechnern übertragen wird, die untereinander und mit dem Steuerrechner über ein Netzwerk oder Teile eines Netzwerks verbunden sind, dass eine automatische Analyse übertragener Bilder durchgeführt wird, dass bedarfsgerecht zur Laufzeit des Scanvorgangs weitere Rechner zugeschaltet oder getrennt werden, so dass die erzeugten Bilder parallel und im Wesentlichen zeitgleich oder zeitnah zum Scanvorgang analysiert werden, und dass basierend auf den Ergebnissen der Analyse eine Klassifikation der Bilder vorgenommen und der Scanvorgang beeinflusst wird.

    18.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE102006042157A1

    公开(公告)日：2008-03-27

    申请号：DE102006042157

    申请日：2006-09-06

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS ,  EUROP LAB MOLEKULARBIOLOG

    Inventor： SIECKMANN FRANK ,  LIEBEL URBAN

    IPC: G01B11/24 ,  G01B9/04 ,  G01N21/17

    Abstract: A microscopy system provides for scanning a sample by a microscope, which is at least in part electrically or electronically controllable and in which a plurality of images or digital images are generatable in a scanning operation at different times and/or different locations of the sample. The microscopy system includes a control computer configured to control the microscope, as well as further computers that are integratable into the microscopy system such that an adaptation of the microscopy system is possible dynamically and/or during the scanning operation using at least one of the further computers.

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