Verfahren und optische Anordnung zum Manipulieren und Abbilden einer mikroskopischen Probe

    公开(公告)号:DE102013213781A1

    公开(公告)日:2014-09-25

    申请号:DE102013213781

    申请日:2013-07-15

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren, bei dem eine Probe mit Manipulationslicht manipuliert wird und bei dem die Probe mittels SPIM-Technik unter Beleuchtung mit Beleuchtungslicht, insbesondere Anregungslicht zur Fluoreszenzanregung, in Form eines Beleuchtungslichtblatts abgebildet wird. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass sowohl das Manipulationslicht, als auch das Beleuchtungslicht durch dasselbe Objektiv, das in einer Objektivarbeitsposition angeordnet ist, oder durch unterschiedliche Objektive, die nacheinander in eine Objektivarbeitsposition gebracht werden, fokussiert wird und dass das Manipulationslicht und/oder das Beleuchtungslicht nach dem Durchlaufen des Objektivs mittels einer Umlenkeinrichtung derart umgelenkt wird, dass es sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Objektivs ausbreitet.

    Optische Vorrichtung, optisches Modul und Mikroskop zum Abtasten großer Proben

    公开(公告)号:DE102018203247A1

    公开(公告)日:2019-09-05

    申请号:DE102018203247

    申请日:2018-03-05

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine optische Vorrichtung (1) zur Beleuchtung einer in einem Probenvolumen (23) angeordneten Probe (25) mit Beleuchtungslicht (15) und zur Detektion von Streu- und/oder Fluoreszenzlicht (27) von der Probe (25), die Vorrichtung (1) umfasst eine Beleuchtungsanordnung (3) zur Transmission des Beleuchtungslichts (15) entlang eines Beleuchtungspfades (21) ins Probenvolumen (23) und eine Detektionsanordnung (5) zum Aufsammeln und Weiterleiten des Streu- und/oder Fluoreszenzlichts (27) entlang eines Detektionspfades (29). Ferner betrifft die Erfindung ein optisches Modul (95) und ein Mikroskop (37), insbesondere ein Konfokalmikroskop (39), umfassend eine mechanische Aufnahmevorrichtung (97) für optische Module (95). Lösungen aus dem Stand der Technik sind bezüglich der Anordnung der Beleuchtungsanordnung (3) und der Detektionsanordnung (5) geometrisch limitiert, bieten eine geringe Eintauchtiefe und haben den Nachteil häufiger Kollisionen mit der Probe (25). Die erfindungsgemäße optische Vorrichtung (1) verbessert die Lösungen aus dem Stand der Technik dadurch, dass ein Vorsatzelement (7) vorgesehen ist, in welchem der Beleuchtungspfad (21) und/oder der Detektionspfad (29) zumindest abschnittsweise verläuft.

    Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe mittels optischer Projektionstomografie

    公开(公告)号:DE102013226277A1

    公开(公告)日:2015-06-18

    申请号:DE102013226277

    申请日:2013-12-17

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum tomografischen Untersuchen einer Probe (9), bei dem eine Probe (9) mit einem Beleuchtungslichtbündel (3) beleuchtet wird und bei dem ein Transmissionslichtbündel (10), das das durch die Probe (9) hindurch transmittierte Licht des Beleuchtungslichtbündels (3) beinhaltet, mit einem Transmissionsdetektor (13) detektiert wird. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zum tomografischen Untersuchen einer Probe (9). Es ist vorgesehen, dass das Beleuchtungslichtbündel (3) und das Transmissionslichtbündel (10) mit entgegengesetzten Ausbreitungsrichtungen durch dasselbe Objektiv (7) verlaufen.

    Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben

    公开(公告)号:DE102013211426A1

    公开(公告)日:2014-12-18

    申请号:DE102013211426

    申请日:2013-06-18

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben. Das Verfahren beinhaltet den Schritt des Anordnens der Proben in einem, insbesondere motorisch und/oder automatisch, relativ zu einer Probenbeleuchtungsposition bewegbaren Probenhalter derart, dass sukzessive jeweils zumindest eine der Proben in der Probenbeleuchtungsposition positionierbar ist, wobei jeweils angrenzend an die Probe, die sich gerade in der Probenbeleuchtungsposition befindet, ein Freiraum für ein Umlenkmittel, verbleibt, den Schritt des Fokussierens eines Lichtstreifens mit einem Beleuchtungsobjektiv, den Schritt des Umlenkens des Lichtstreifens nachdem dieser das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat mit dem Umlenkmittel derart, dass sich der Lichtstreifen unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet und in der Probenbeleuchtungsposition einen Fokus aufweist, und den Schritt des sukzessiven Positionierens der mit dem Probenhalter gehalterten Proben in der Probenbeleuchtungsposition und Detektierens des von der jeweils in der Probenbeleuchtungsposition befindlichen Probe ausgehenden Detektionslichtes. Die Erfindung betrifft außerdem eine optische Vorrichtung mit einem Probenhalter, der eine Vielzahl von Proben hält und der, insbesondere motorisch und/oder automatisch, relativ zu einer Probenbeleuchtungsposition derat bewegbar gelagert ist, dass sukzessive jeweils zumindest eine der Proben in der Probenbeleuchtungsposition positionierbar ist.

    Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe

    公开(公告)号:DE102012009780A1

    公开(公告)日:2013-11-21

    申请号:DE102012009780

    申请日:2012-05-18

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe in Bezug auf die Lebensdauer eines angeregten Zustandes, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, und/oder in Bezug auf einen mit einer Lebensdauer eines angeregten Zustandes, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, korrelierten Eigenschaft einer Probe, wobei ein Probenbereich mit einer Folge von Anregungslichtpulsen beleuchtet wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass zeitlich zwischen den Anregungslichtpulsen jeweils ausschließlich innerhalb eines Detektionszeitfensters jeweils die Lichtmenge und/oder die Anzahl der Photonen des von dem Probenbereich ausgehenden Detektionslichtes, insbesondere Fluoreszenzlichtes, gemessen wird, wobei wenigstens zwei Detektionszeitfenster zeitlich unterschiedlich lang sind.

    Arrangement for use in the illumination of a specimen in spim microscopy

    公开(公告)号:GB2509664A

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:GB201407406

    申请日:2012-10-22

    Abstract: The invention relates to an arrangement for use in the illumination of a specimen in SPIM microscopy with an illumination lens that receives and focuses a light strip or a quasi light strip, which consists of a beam of light that moves continuously back and forth in the plane of a light strip. The arrangement is characterized in that it has a deflecting means that deflects the light strip or quasi light strip after having passed through the illumination lens such that it propagates at an angle different from zero, in particular at a right angle, to the optical axis of the illumination lens wherein the illumination lens and the deflection device are arranged so that they can move relative to each other.

    Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie

    公开(公告)号:DE102012109577A1

    公开(公告)日:2013-05-02

    申请号:DE102012109577

    申请日:2012-10-09

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie, mit einem Beleuchtungsobjektiv, das einen Lichtstreifen oder einen Quasi-Lichtstreifen, der aus einem in einer Lichtstreifenebene kontinuierlich hin- und her bewegtem Lichtbündel besteht, empfängt und fokussiert. Die Anordnung zeichnet sich dadurch aus, dass ein Umlenkmittel vorhanden ist, das den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen nachdem er das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat derart umlenkt, dass er sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere unter einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet, wobei das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung relativ zueinander beweglich angeordnet sind.

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