公开(公告)号：FR2968452A1

公开(公告)日：2012-06-08

申请号：FR1060040

申请日：2010-12-02

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： MARINET FABRICE ,  LISART MATHIEU

IPC: H01L21/66 ,  G01R33/42 ,  H05K9/00

Abstract: Procédé de diagnostic de la susceptibilité électromagnétique d'un circuit intégré (10), caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes : - création (E1) d'un champ électromagnétique au sein du circuit intégré (10) par un système de test ; - mesure (E2) d'au moins une grandeur représentant l'état du circuit intégré (10) ; - analyse (E3) de cette au moins une grandeur mesurée pour en déduire un diagnostic de la susceptibilité électromagnétique du circuit intégré (10).

公开(公告)号：FR2952256A1

公开(公告)日：2011-05-06

申请号：FR0957783

申请日：2009-11-04

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： LIARDET PIERRE-YVAN ,  MARINET FABRICE ,  TOURNEMILLE JEROME

IPC: H04L9/06 ,  G06F21/00

Abstract: L'invention concerne un procédé de protection d'une clé (K) mise en oeuvre, par un circuit électronique, dans un algorithme symétrique (A) de chiffrement ou de déchiffrement d'un message (T), comportant les étapes de : sélectionner (71) de façon non déterministe une paire de masques différents (Mj, Mj' ) dans un ensemble d'au moins quatre masques différents, les masques ayant la propriété de représenter des combinaisons de bits différentes, au moins par paire de bits ; exécuter deux fois (I, II) l'algorithme en appliquant, à la clé ou au message, l'un des masque de la paire sélectionnée à chaque exécution ; et vérifier (75, 7 6) la cohérence entre les deux exécutions.

公开(公告)号：FR2950997A1

公开(公告)日：2011-04-08

申请号：FR0956923

申请日：2009-10-05

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： FORNARA PASCAL ,  MARINET FABRICE

IPC: G06K19/073 ,  H01L23/58

Abstract: L'invention concerne une puce de circuit intégré (21) formée dans et sur un substrat semiconducteur (3) et comprenant : dans la partie supérieure du substrat, une partie active (5) dans laquelle sont formés des composants ; et sous la partie active (5) et à une profondeur comprise entre 5 et 50 µm de la face supérieure du substrat, une zone comprenant des sites de piégeage d'impuretés métalliques et contenant des atomes de métal à une concentration comprise entre 10 et 10 atomes/cm .

公开(公告)号：FR3097365A1

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：FR1906185

申请日：2019-06-11

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： MARINET FABRICE

IPC: H04L9/12 ,  G11C16/06 ,  H04L9/28

Abstract: Circuit électronique La présente description concerne un circuit électronique (20) intégrant une mémoire morte (24) dans laquelle sont stockées des données chiffrées, la clé de déchiffrement n'étant pas présente dans ledit circuit (20). Figure pour l'abrégé : Fig. 2

公开(公告)号：FR3096175A1

公开(公告)日：2020-11-20

申请号：FR1904942

申请日：2019-05-13

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： SARAFIANOS ALEXANDRE ,  MARINET FABRICE ,  DELALLEAU JULIEN

IPC: H01L23/64 ,  G06F21/00

Abstract: Circuit intégré comprenant un substrat semiconducteur (SB) ayant une face avant et une face arrière, au moins une première prise de contact (PC1), au moins une deuxième prise de contact (PC2), espacées situées au niveau de la face avant, et une plaque électriquement conductrice (PL) située sur la face arrière et des premiers moyens de détection (MS1) configurés pour détecter un amincissement éventuel du substrat à partir de la face arrière, lesdits premiers moyens de détection comportant des premiers moyens de mesure (MS1) configurés pour effectuer une première mesure d’une valeur résistive du substrat entre ladite au moins une première prise de contact (PC1), ladite au moins une deuxième prise de contact (PC2) et ladite plaque électriquement conductrice (PL). Figure pour l’abrégé : Fig 2

公开(公告)号：FR3094520A1

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：FR1903063

申请日：2019-03-25

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET ,  PROTON WORLD INT NV

Inventor： MARINET FABRICE ,  PEETERS MICHAEL

IPC: G06F21/60

Abstract: Clé de chiffrement et/ou de déchiffrement La présente description concerne un procédé de génération d'une clé de chiffrement et/ou de déchiffrement éphémère (RTKey) par application d'une fonction à un code stocké dans une mémoire non volatile (104, 106). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

公开(公告)号：FR3000815B1

公开(公告)日：2019-10-11

申请号：FR1350104

申请日：2013-01-07

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： FORT JIMMY ,  MARINET FABRICE

IPC: G06F1/26 ,  G06F21/72

Abstract: L'invention concerne un procédé et un circuit de masquage de la signature en courant d'une fonction électronique (16), dans lequel une première source de courant (3) d'alimentation de cette fonction est commandée pour fournir un courant variant dynamiquement.

公开(公告)号：FR3053503B1

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：FR1656233

申请日：2016-06-30

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： ORDAS THOMAS ,  SARAFIANOS ALEXANDRE ,  MARINET FABRICE ,  CHESNAIS STEPHANE

IPC: G06K19/073

Abstract: Circuit électronique intégré comportant un dispositif de protection (DIS) comprenant un bouclier métallique (BCL) réalisé dans sa partie d'interconnexion (INT), et des moyens de détection (3) comprenant le bouclier métallique (BCL) et configurés pour détecter une présence d'un rayonnement électromagnétique externe représentatif d'une attaque par injection de fautes.

公开(公告)号：FR3048296B1

公开(公告)日：2018-03-30

申请号：FR1651552

申请日：2016-02-25

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： ORDAS THOMAS ,  SARAFIANOS ALEXANDRE ,  CHESNAIS STEPHANE ,  MARINET FABRICE

IPC: G06F21/75 ,  G06F21/76 ,  H01L23/58 ,  H01Q1/22

公开(公告)号：FR2994020B1

公开(公告)日：2015-04-10

申请号：FR1257354

申请日：2012-07-30

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： MARINET FABRICE ,  FORNARA PASCAL

IPC: H01G17/00 ,  G04G99/00 ,  H01L27/00