13.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:AT542240T

    公开(公告)日:2012-02-15

    申请号:AT09777658

    申请日:2009-08-05

    Inventor: PAGANI ALBERTO

    Abstract: A circuit architecture provides for the parallel supplying of power during electric or electromagnetic testing of electronic devices integrated on a same semiconductor wafer and bounded by scribe lines. The circuit architecture comprises a conductive grid interconnecting the electronic devices and having a portion external to the devices and a portion internal to the devices. The external portion extends along the scribe lines; and the internal portion extends within at least a part of the devices. The circuit architecture includes interconnection pads between the external portion and the internal portion of the conductive grid and provided on at least a part of the devices, the interconnection pads forming, along with the internal and external portions, power supply lines which are common to different electronic devices of the group.

    Integrierte optoelektronische Vorrichtung mit Wellenleiter und Herstellungsverfahren derselben

    公开(公告)号:DE112013003336T5

    公开(公告)日:2015-04-02

    申请号:DE112013003336

    申请日:2013-07-02

    Abstract: Eine integrierte optoelektronische Vorrichtung, die von einer ersten Oberfläche (S1) und einer zweiten Oberfläche (S2) begrenzt ist und Folgendes aufweist: einen Körper (2) aus Halbleitermaterial, in dessen Innerem mindestens eine optoelektronische Komponente gebildet ist, die aus einem Detektor (30) und einem Emitter (130) ausgewählt ist; sowie einen optischen Pfad (OP), der zumindest teilweise vom geführten Typ ist und sich zwischen der ersten Oberfläche und der zweiten Oberfläche erstreckt, wobei der optische Pfad den Körper durchläuft. Die optoelektronische Komponente ist durch den optischen Pfad mit einem ersten Bereich eines freien Raums und einem zweiten Bereich eines freien Raums optisch gekoppelt, die über bzw. unter der ersten und der zweiten Oberfläche angeordnet sind.

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