Abstract:
L'invention concerne un circuit intégré comprenant une mémoire non-volatile comportant des cellules mémoire (CEL) comprenant chacune un point mémoire (P) et un transistor de sélection (TS) ayant une borne de contrôle connectée à une ligne de mot (WL), un décodeur de ligne (RDEC) pour fournir des signaux (SWL) de sélection de lignes de mot, et au moins un générateur (LTC) pour fournir à des cellules mémoire une tension (Vp) ou un courant (Ip) d'effacement ou de programmation. Selon l'invention des pilotes de ligne de mot (DRV) sont interposés entre le décodeur de ligne et les lignes de mot, et sont agencés pour appliquer à une ligne de mot sélectionnée par le décodeur de ligne des impulsions de contrôle (VPULSEi) dont le profil correspond à un profil d'impulsion de tension ou de courant d'effacement ou de programmation. Application notamment aux mémoires à changement de phase.
Abstract:
L'invention concerne un circuit intégré comprenant une mémoire non-volatile comportant des cellules mémoire (CEL) comprenant chacune un point mémoire (P) et un transistor de sélection (TS) ayant une borne de contrôle connectée à une ligne de mot (WL), un décodeur de ligne (RDEC) pour fournir des signaux (SWL) de sélection de lignes de mot, et au moins un générateur (LTC) pour fournir à des cellules mémoire une tension (Vp) ou un courant (Ip) d'effacement ou de programmation. Selon l'invention des pilotes de ligne de mot (DRV) sont interposés entre le décodeur de ligne et les lignes de mot, et sont agencés pour appliquer à une ligne de mot sélectionnée par le décodeur de ligne des impulsions de contrôle (VPULSEi) dont le profil correspond à un profil d'impulsion de tension ou de courant d'effacement ou de programmation. Application notamment aux mémoires à changement de phase.
Abstract:
L'invention concerne une mémoire effaçable et programmable électriquement dans laquelle on a supprimé des transistors de contrôle de grille, chaque ligne de cellules étant connectée à un décodeur (RDEC) de lignes de mot par une ligne de sélection (SEL(i)) connectée aux grilles des transistors d'accès (AT) de la ligne de cellules, et une ligne (CGL(i)) de contrôle de grille connectée aux grilles de contrôle des transistors à grille flottante (FGT) de la ligne de cellules. De cette manière la tension applicable aux grilles des transistors à grille flottante n'est plus limitée par la tension susceptible d'être obtenue sur la source des transistors de contrôle de grille.
Abstract:
La présente invention concerne une mémoire effaçable et programmable électriquement, comprenant des cellules mémoire comprenant chacune un transistor à grille flottante et un transistor d'accès, et des lignes de bit (BL j ) connectées aux transistors d'accès pour la programmation ou la lecture des cellules mémoire. Selon l'invention, la mémoire comprend des moyens (ICC, LPI j , TP2) pour limiter un courant de programmation (Iprog) circulant dans au moins une ligne de bit pendant la programmation d'au moins une cellule mémoire, quand le courant de programmation atteint une valeur déterminée (Imax), de manière à empêcher le courant de programmation de dépasser la valeur déterminée.