Abstract:
L'invention concerne une puce électronique comprenant : un substrat semiconducteur (102) dopé d'un premier type de conductivité ; des caissons (104) du deuxième type de conductivité du côté de la face avant de la puce, dans et sur lesquels sont formés des éléments de circuits ; une ou plusieurs dalles (110) d'un deuxième type de conductivité enterrées sous les caissons et séparées des caissons ; pour chaque dalle enterrée, un puits (114) du deuxième type de conductivité, polarisable, qui s'étend de la face avant du substrat à la dalle enterrée ; en partie supérieure de chaque puits, un premier transistor MOS à canal du premier type de conductivité, le premier transistor étant un élément d'une bascule ; et un circuit de détection d'un changement de niveau logique d'une des bascules.
Abstract:
Dispositif électronique (CI) comprenant au moins un circuit logique (CL) qui comporte une première borne (B1) destinée à recevoir une tension d'alimentation (Vdd), une deuxième borne (B2) destinée à recevoir une tension de référence (GND), et au moins une borne de sortie (S), la borne de sortie (S) étant configurée pour délivrer un signal pouvant être dans un état haut ou un état bas, au moins un circuit auxiliaire (AUX) couplé entre la première borne (B1) et la deuxième borne (B2) et configuré pour générer ou non de façon aléatoire un courant supplémentaire entre la première borne (B1) et la deuxième borne (B2) à chaque changement d'état du signal sur la borne de sortie (S).
Abstract:
L'invention concerne un dispositif de détection de fautes comprenant un registre à décalage (2) adapté à décaler, au rythme d'une horloge, un signal binaire alternant entre deux niveaux logiques, dans des cellules successives du registre à décalage ; et un premier circuit logique (4) adapté à comparer des valeurs contenues dans au moins un couple de cellules du registre (2).
Abstract:
Circuit électronique intégré comportant un dispositif de protection (DIS) comprenant un bouclier métallique (BCL) réalisé dans sa partie d'interconnexion (INT), et des moyens de détection (3) comprenant le bouclier métallique (BCL) et configurés pour détecter une présence d'un rayonnement électromagnétique externe représentatif d'une attaque par injection de fautes.
Abstract:
Dispositif de brouillage d'un rayonnement électromagnétique susceptible d'être émis par au moins une partie d'une région d'interconnexion située au dessus d'au moins une zone d'un circuit électronique intégré réalisé dans et/ou sur un substrat semi-conducteur comprenant au moins une antenne (5) située au dessus de ladite au moins une zone du circuit, et des moyens de génération (4) configurés pour générer un signal électrique (SE) comportant au moins une caractéristique pseudo-aléatoire et couplés à ladite au moins une antenne (5).