Abstract:
L'invention concerne une puce électronique comprenant une pluralité de barres dopées enterrées (9) et un circuit de détection d'une anomalie d'une caractéristique électrique des barres.
Abstract:
Procédé de détection d'une atteinte à l'intégrité d'un substrat semi-conducteur (P) d'un circuit intégré (CI) protégé par un enrobage, le substrat comprenant une face avant (FV) et une face arrière (FR), cette atteinte étant susceptible d'être effectuée depuis la face arrière (FR) du substrat, le procédé comprenant une détection d'une ouverture de l'enrobage en regard de la face arrière du substrat.
Abstract:
L'invention concerne une puce électronique comprenant : un substrat semiconducteur (102) dopé d'un premier type de conductivité ; des caissons (104) du deuxième type de conductivité du côté de la face avant de la puce, dans et sur lesquels sont formés des éléments de circuits ; une ou plusieurs dalles (110) d'un deuxième type de conductivité enterrées sous les caissons et séparées des caissons ; pour chaque dalle enterrée, un puits (114) du deuxième type de conductivité, polarisable, qui s'étend de la face avant du substrat à la dalle enterrée ; en partie supérieure de chaque puits, un premier transistor MOS à canal du premier type de conductivité, le premier transistor étant un élément d'une bascule ; et un circuit de détection d'un changement de niveau logique d'une des bascules.
Abstract:
Dispositif électronique (CI) comprenant au moins un circuit logique (CL) qui comporte une première borne (B1) destinée à recevoir une tension d'alimentation (Vdd), une deuxième borne (B2) destinée à recevoir une tension de référence (GND), et au moins une borne de sortie (S), la borne de sortie (S) étant configurée pour délivrer un signal pouvant être dans un état haut ou un état bas, au moins un circuit auxiliaire (AUX) couplé entre la première borne (B1) et la deuxième borne (B2) et configuré pour générer ou non de façon aléatoire un courant supplémentaire entre la première borne (B1) et la deuxième borne (B2) à chaque changement d'état du signal sur la borne de sortie (S).
Abstract:
The invention concerns a laser detection device for protecting an integrated circuit, the device comprising: a detection cell (200) having: a buried channel (202) of a first conductivity type extending in a substrate (203) of the integrated circuit, the substrate being of a second conductivity type; a first electrical connection (204, 206) coupling a first point in the buried channel to a supply voltage rail (VDD); and a second electrical connection (208, 210) coupled to a second point in the buried channel; and a detection circuit coupled to the second point in the buried channel via the second electrical connection and adapted to detect a fall in the voltage at the second point.
Abstract:
L'invention concerne un dispositif de protection d'un circuit intégré, comportant : des groupes d'éléments de détection d'un rayonnement (42) répartis dans un arrangement matriciel ; des portes logiques (44, 46) combinant des sorties des éléments de détection par ligne et par colonne, chaque sortie d'élément de détection étant reliée à une porte combinant une ligne et à une porte combinant une colonne ; et un circuit d'interprétation des signaux fournis par lesdites portes logiques et comportant un compteur d'événements et un élément de temporisation.
Abstract:
Circuit électronique comportant une borne d'alimentation (BV) et une borne de référence (BR), comprenant au moins un module (M) comportant au moins un circuit logique (CL) couplé entre la borne d'alimentation (BV) et la borne de référence (BR) et comportant une borne de sortie (BS), et au moins un circuit auxiliaire (Cx) couplé entre la borne d'alimentation (BV) et la borne de référence (BR), et couplé à la borne de sortie (BS), ledit au moins un circuit auxiliaire (Cx) étant configuré pour réaliser au moins une action prise dans le groupe formé par - une atténuation du courant circulant entre la borne d'alimentation (BV) et la borne de référence (BR), - une augmentation du courant circulant entre la borne d'alimentation (BV) et la borne de référence (BR), - une circulation d'un courant supplémentaire sur un chemin ne passant pas par la borne d'alimentation (BV), ou pour ne réaliser aucune action.
Abstract:
L'invention concerne une puce électronique comprenant : une pluralité de premières barres semiconductrices d'un premier type de conductivité et de deuxièmes barres semiconductrices d'un deuxième type de conductivité disposées de manière alternée et contiguë sur une région (3) du premier type de conductivité ; deux contacts de détection (17) disposés aux extrémités de chaque deuxième barre ; un circuit de détection (19) de la résistance entre les contacts de détection de chaque deuxième barre ; des tranchées d'isolement (11) s'étendant dans les deuxièmes barres sur une première profondeur entre des éléments de circuit ; et des murs d'isolement (32) s'étendant sur toute la largeur de chaque deuxième barre sur une deuxième profondeur supérieure à la première profondeur.