公开(公告)号：CN106441567A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201611042320.9

申请日：2016-11-11

Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司

Inventor： 巫景铭

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01J3/0291

Abstract: 本发明提供一种红外窗片保护窗，包括一窗体，所述窗体设有相互联通的中空室和导入口。所述窗体安装于所述红外窗片外围，使所述红外窗片暴露于所述中空室中，所述导入口用于置入干燥物质，从而使红外窗片始终暴露于中空室的干燥环境中，避免红外窗片因直接暴露于空气中发生潮解而失效。本发明还提供一种具有上述红外窗片保护窗的红外装置。

公开(公告)号：CN106199795A

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201610561084.5

申请日：2012-02-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G02B5/08 ,  G02B5/18 ,  G02B5/00 ,  B29D11/00 ,  B29C43/02 ,  B29C43/36

CPC classification number: G02B5/0808 ,  B29C43/021 ,  B29C43/36 ,  B29D11/00769 ,  B29L2011/0016 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J2003/1852 ,  G02B5/00 ,  G02B5/10 ,  G02B5/18 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1852 ,  G02B5/1861 ,  Y10T428/24521

Abstract: 本发明的光学元件(1)具备于表面(2a)形成有凹部(3)的基材(2)，及配置于基材(2)上的成形层(4)。成形层(4)具有自凹部(3)的深度方向观察的情形下位于凹部(3)内的本体部(5)、及在与本体部(5)连接的状态下位于基材(2)的表面(2a)上的攀爬部(6)。于本体部(5)中在与凹部功能部(10)。(3)的底面(3b)对向的曲面(4b)上，设置有光学

公开(公告)号：CN106030289A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201480068347.8

申请日：2014-10-15

Applicant: TSI公司

Inventor： 弗雷德里克·匡特 ,  肯尼思·R·法默 ,  菲利普·V·坦 ,  克里斯托弗·B·斯蒂普 ,  史蒂文·G·巴克利 ,  埃里克·斯托金格 ,  丹尼尔·詹森

IPC: G01N21/71

CPC classification number: G01N21/718 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/443 ,  G01J2003/1861 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0697

Abstract: 公开了一种管理手持式结构中的LIBS激光器部件和光谱仪的散热问题的新型装置、方法和系统，以及使用包括裸光纤的简化的光信号收集装置收集测试材料附近（或接触测试材料）的发射光。在手持式LIBS装置的一个示例实施例中，使用频率为4 kHz的突发脉冲，产生脉冲之间的时间约250µs，这是现有技术中其他装置中的10倍以上的因数。在相关实施例中，主动调Q OPO激光器模块与使用透射光栅的紧凑型光谱仪模块一起使用，以改进LIBS测量，同时大幅减小手持式分析仪的尺寸。

公开(公告)号：CN105980820A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201580007241.1

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

Abstract: 分光器(1A)包括：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)、第1光检测部(22)及第2光检测部(26)；支撑体(30)，其以形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)内将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12A)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)内将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；及分光部(40A)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)内将由第2反射部(12A)反射的光(L1)相对于第1光检测部(22)分光并且反射。第2光检测部(26)在包围第2反射部(12A)的区域配置有多个。

公开(公告)号：CN105980819A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201580007227.1

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1838 ,  G01J3/24 ,  G01J3/2803

Abstract: 本发明的分光器(1A)具有分光单元(2A)、(2B)、(2C)。分光单元(2A)具有的光通过部(21A)、反射部(11A)、共通反射部(12)、分光部(40A)和光检测部(22A)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL1)排列。分光单元(2B)具有的光通过部(21B)、反射部(11B)、共通反射部(12)、分光部(40B)和光检测部(22B)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL2)排列。分光单元(2C)具有的光通过部(21C)、反射部(11C)、共通反射部(12)、分光部(40C)和光检测部(22C)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL3)排列。基准线(RL1)与基准线(RL2)、(RL3)交叉。

公开(公告)号：CN105960579A

公开(公告)日：2016-09-21

申请号：CN201580007240.7

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18

Abstract: 分光器(1A)具备：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)及光检测部(22)；支撑体(30)，其以在与光通过部(21)及光检测部(22)之间形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)中，将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；以及分光部(40)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将由第2反射部(12)反射的光(L1)相对于光检测部(22)进行分光并反射。

公开(公告)号：CN105652368A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201610201637.6

申请日：2016-04-01

Applicant: 深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 袁强 ,  马立霜 ,  蒋峰

IPC: G02B6/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B6/02114 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/425 ,  G02B6/02128 ,  G02B2006/02157

Abstract: 本发明公开了一种光纤刻写监测光路及光纤刻写系统，包括：光源，用于发射检测光；光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，第一环形端口与光源连接，第二环形端口用于连接第一待刻写光纤的一端；第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，第一开关端口与第三环形端口连接，第二开关端口用于与第一待刻写光纤的另一端连接；光谱仪，与第三开关端口连接；当第三开关端口与第一开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的反射谱，当第三开关端口与第二开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的透射谱。通过上述方式，本发明能够实现监测第一待刻写光纤的透射谱和反射谱的光路共用光源和光谱仪，节省成本。

公开(公告)号：CN104272070B

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201380023137.2

申请日：2013-05-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 笠原隆 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/36 ,  G01J3/45

Abstract: 分光传感器(1A)包括：具有腔层(21)以及第1和第2镜层(22、23)的干涉滤光部(20A)；以及具有透过了干涉滤光部(20A)的光进行入射的受光面(32a)的光检测基板(30)。干涉滤光部(20A)包括与受光面(32a)对应的第1滤光区域(24)和包围第1滤光区域(24)的环状的第2滤光区域(25)。第1滤光区域(24)中，第1镜层(22)和第2镜层(23)之间的距离变化，第2滤光区域(25)中，第1镜层(22)和第2镜层(23)之间的距离固定。

公开(公告)号：CN102628711B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201210091508.8

申请日：2008-06-10

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文 ,  铃木智史 ,  H·泰希曼 ,  D·希勒 ,  U·施塔克

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291

Abstract: 在与衍射层(8)一体地形成的周缘部(11)的平面(11a)形成有对准标记(12a、12b、12c、12d)，在将透镜部(7)安装于基板(2)时，通过相对于基板(2)对这些对准标记(12a、12b、12c、12d)进行对位，从而能够相对于光检测元件(4)的光检出部(4a)正确地对准衍射层(8)，不受例如透镜部(7)的曲率半径的误差等的影响。尤其是，通过在平面(11a)形成对准标记(12a、12b、12c、12d)，从而能够通过图像识别来正确地检测该对准标记(12a、12b、12c、12d)的位置，于是能够进行正确的对准。

公开(公告)号：CN102680097B

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201210063704.4

申请日：2012-03-12

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 佐野弘幸 ,  田口都一

IPC: G01J3/28 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/027 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 提供一种分光特性测量方法以及分光特性测量装置，用于更高精度地测量被测量光的分光特性。分光特性测量方法包括以下步骤：使波长范围为第二波长范围的光入射到在第一波长范围具有检测灵敏度的分光测量器，第二波长范围为上述第一波长范围的一部分；从与由分光测量器检测出的第一光谱中的第二波长范围以外的范围相对应的部分中获取表示杂散光成分的特性信息；以及对特性信息进行外插处理直至第一波长范围中的第二波长范围为止，来获取表示产生于上述分光测量器的杂散光成分的图案。