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公开(公告)号：CN107941339A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711375593.X
申请日：2017-12-19
Applicant: 湖南宏动光电有限公司
Inventor： 唐文江
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0205 , G01J3/0294 , G01J2003/2826
Abstract: 一种基于周期性干涉膜系FP腔扫描的高光谱成像装置及方法，包括带通滤光片、衬底、上层周期性干涉膜系、FP腔、下层周期性干涉膜系、成像探测器、压电陶瓷芯片和用于封装的外壳；所述上层周期性干涉膜系制备在衬底上，所述下层周期性干涉膜系制备在成像探测器像元表面，衬底上有膜的一面和成像探测器上有膜的一面相对，与外壳相连构成一个封闭的空腔，即FP腔；成像探测器无膜的另一面与压电陶瓷芯片连接，或者衬底无膜的另一面与压电陶瓷芯片连接，或者衬底无膜的另一面与中间通孔的压电陶瓷芯片连接。本发明通过压电陶瓷芯片驱动，扫描FP腔腔长来实现高光谱成像，便于集成，制造成本较低，不会随着空间及光谱分辨率提高而提高，实用价值高。
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公开(公告)号：CN106918393A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201710201146.6
申请日：2017-03-30
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0294
Abstract: 本发明公开了一种双通道空间外差光谱仪，包括有前置准直系统，准直系统的前方光路上设置有分光束元件，分光束元件的反射和透射光路上分别依次设有反射镜组件、第一扩视场棱镜、透射光栅、第二扩视场棱镜、集光束元件、滤光片、成像组件、焦面组件，所述分光束元件和集光束元件的分光/集光面上均为50：50半反半透的消偏振分光膜。本发明相比传统的空间外差光谱仪可保证其光谱分辨率和不变的前提下，有效利用输入能量，将传统空间外差光谱仪中50%反射至前置准直系统内的杂散光有效利用。本发明在空间外差光谱仪高稳定性、高光谱分辨率的基础上，利用双通道输出可以进行波段扩展或信噪比提升。
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公开(公告)号：CN105676305A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201511026696.6
申请日：2015-12-31
Applicant: 南京华图信息技术有限公司
Inventor： 张天序
IPC: G01V8/10
CPC classification number: H04N5/33 , G01J3/0289 , G01J3/0294 , G01J3/06 , G01J3/2823 , G02B17/0808 , G06K9/2018 , G06K9/3241 , G06K9/6267 , H04N5/2258 , H04N5/265 , G01V8/10
Abstract: 本发明公开了一种共口径多视场图谱协同探测系统，所述系统包括红外光学窗口、大视场二维扫描转镜、共口径多视场主光学系统、大视场扫描探测器、凝视红外探测器、红外非成像宽光谱测谱单元、数据处理单元、控制单元及伺服系统。相应地，本发明还提出了基于该系统的方法。本发明通过大视场扫描对目标区域进行搜索，然后由中视场凝视红外检测识别目标，最后对该区域进行小视场精细探测，结合光谱数据分析，识别目标，探测灵敏度更高，捕获跟踪动目标更精确、更稳定，解决了常规遥感探测不可能对动目标和动态现象的运动变化进行研究及对于小尺度对象的搜索和跟踪无法奏效的技术问题，因而具有较高的可实施性及实用推广价值。
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公开(公告)号：CN102661791B
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201210102000.3
申请日：2009-04-03
Applicant: 朗姆研究公司
Inventor： 维贾雅库马尔·C·韦努戈帕尔 , 埃里克·佩普 , 吉恩保罗·布思
CPC classification number: G01N21/274 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/443 , G01N21/68
Abstract: 本发明提供了一种具有用于等离子发射原位光学解调，用以定量测量归一化光学发射光谱的室的处理系统。该处理室包括限制环组件，闪光灯和一组石英窗。该处理室还包括多个准直光学组件，该准直光学组件与该组石英窗光学耦合。该处理室进一步包括多个光纤维束，该处理室更进一步包括多通道光谱仪，其至少配置有信号通道和参考通道。该信号通道至少与该闪光灯、该组石英窗、该组准直光学组件、该照明光纤维束以及收集光纤维束光学耦合，用以测量第一信号。
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公开(公告)号：CN103827644A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201380003180.2
申请日：2013-05-23
Applicant: 住友电气工业株式会社
IPC: G01J3/36
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/0297 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/36
Abstract: 本发明提供了一种调整分光成像装置的方法，其能够容易地对所述分光成像装置中各部件之间的相对布置关系进行调整。分光成像装置（30）包括：准直透镜（32）、衍射光栅（33）、聚光透镜（34）、阵列式光接收单元（35）、以及用于调整这些部件之间的相对布置关系的调整装置。对所述部件之间的相对布置关系进行调整，以使得标准具滤光器被布置在光输入至准直透镜（32）的光路上，并且由聚光透镜（34）聚集的各种波长的光的焦点均位于阵列式光接收单元（35）的特定路线上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102449449B
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN200980159509.8
申请日：2009-05-29
Applicant: 丰田自动车株式会社
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/0229 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0235 , G01J3/0294 , G01J3/04 , G01J3/32 , G01J3/36
Abstract: 本发明提供一种针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象，能够缩短测定来自各测定部分的光的光谱测定所需的测定时间的光谱测定装置。光谱测定装置具备：具有两条以上的狭缝(12b)的狭缝组(12G)；分光器(14)，该分光器按照各条狭缝(12b)对由狭缝组(12G)提取出的光进行分光；以及测定器(15)，该测定器测定由分光器(14)分光后的各条狭缝(12b)的光的各成分的强度。针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象(20)，各狭缝(12b)从来自该测定对象(20)的光中提取来自各测定部分的光。
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公开(公告)号：CN102661791A
公开(公告)日：2012-09-12
申请号：CN201210102000.3
申请日：2009-04-03
Applicant: 朗姆研究公司
Inventor： 维贾雅库马尔·C·韦努戈帕尔 , 埃里克·佩普 , 吉恩保罗·布思
CPC classification number: G01N21/274 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/443 , G01N21/68
Abstract: 本发明提供了一种具有用于等离子发射原位光学解调，用以定量测量归一化光学发射光谱的室的处理系统。该处理室包括限制环组件，闪光灯和一组石英窗。该处理室还包括多个准直光学组件，该准直光学组件与该组石英窗光学耦合。该处理室进一步包括多个光纤维束，该处理室更进一步包括多通道光谱仪，其至少配置有信号通道和参考通道。该信号通道至少与该闪光灯、该组石英窗、该组准直光学组件、该照明光纤维束以及收集光纤维束光学耦合，用以测量第一信号。
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公开(公告)号：CN102564980A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110390752.X
申请日：2011-11-30
Applicant: 索尼公司
Inventor： 岩崎正则
CPC classification number: G01J3/0294 , G01J3/0205 , G01J3/0248 , G01J3/0256 , G01J3/1804 , G02B27/108 , G02B27/1086
Abstract: 一种光学设备，包括：图像形成光学系统，形成来自被摄体的光的图像；成像单元，接收由图像形成光学系统形成的图像的光；反射分光器件，覆盖成像单元的成像区域中的给定区域；以及光谱检测单元，检测由反射分光器件反射的光的分光光谱。
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公开(公告)号：CN102165337A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200980134850.8
申请日：2009-10-19
Applicant: 宁波源禄光电有限公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0294 , G01J3/18 , G02B5/1861
Abstract: 本发明涉及光谱仪和其中使用的光学系统。特别是，本发明所涉的光学系统和装置改进了光谱仪的功能，增加了设计上的灵活性和设计方案的选择性。例如，本发明的光学系统具有像差校正凹面衍射光栅和一个或多个的透射像差校正器。
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公开(公告)号：CN101990704A
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：CN200980112878.1
申请日：2009-04-03
Applicant: 朗姆研究公司
Inventor： 维贾雅库马尔·C·韦努戈帕尔 , 埃里克·佩普 , 吉恩保罗·布思
IPC: H01L21/3065 , H05H1/34
CPC classification number: G01N21/274 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/443 , G01N21/68
Abstract: 本发明提供一种用于等离子发射原位光学解调，用以定量测量等离子室内的归一化光学发射光谱的装置。该装置包括闪光灯和一组石英窗。该装置还包括多个准直光学组件，该准直光学组件与该组石英窗光学耦合。该装置进一步包括多个光纤维束，其至少包括照明光纤维束、收集光纤维束以及参考光纤维束。该装置更进一步包括多通道光谱仪，其至少配置有信号通道和参考通道。该信号通道至少与该闪光灯、该组石英窗、该组准直光学组件、该照明光纤维束以及收集光纤维束光学耦合，用以测量第一信号。
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