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公开(公告)号：CN103376367B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201310064113.3
申请日：2013-02-28
Applicant: 株式会社NOISE研究所
CPC classification number: G01J3/443 , G01B11/22 , G01J3/2803 , G01J2003/283 , G01K3/14 , G01K11/12 , G01K2213/00 , G01R29/0871 , G01R29/0892 , G06T17/20 , G06T2219/012 , G06T2219/2012
Abstract: 本发明提供一种放射信号可视化装置，包括：正面用摄像机(12)，其从正面拍摄被测量对象物；信号检测传感器(11)，其检测从被测量对象物产生的放射信号；侧面用摄像机(13)，其从侧面拍摄信号检测传感器；频谱分析仪(15)；以及分析主体部(100)，该放射信号可视化装置记录由信号检测传感器(11)检测出的信号的空间性分布的状况并进行分析。
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公开(公告)号：CN102221545B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201110068383.2
申请日：2011-03-17
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 本发明是有关于一种发光分光分析装置，其可抑制成分元素的光谱强度的不均一。该发光分光分析装置将蓄积在蓄放电单元中的能量供给至电极与试料之间的间隙中而产生脉冲发光，该发光分光分析装置包括：对在脉冲发光之前充电至所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元；以及对在脉冲发光之后残留于所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元。判定所检测的光是否为利用蓄积在蓄放电单元中的充分的能量来发出的光。
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公开(公告)号：CN103649723A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201280034171.5
申请日：2012-05-18
Applicant: OY斯巴莱克有限公司
IPC: G01N21/39
CPC classification number: G01N21/61 , G01B11/06 , G01J3/443 , G01N21/031 , G01N21/39 , G01N21/55 , G01N21/67 , G01N2021/0396
Abstract: 一种用于确定玻璃单元的间隙中所包含的气体混合物中的气体组分的浓度的非侵入式方法，该玻璃单元具有彼此间隔开的并且形成所述间隙的至少两个玻璃板。一个或多个光束以一定角度应用于所述玻璃单元的表面，其中所发射光束的波长在感兴趣的气体组分的至少一个吸收谱线周围或之上变化。透射至少一个表面或位于间隙的相对侧处的界面或从那里反射的光束被检测器所收集，并且随后确定处于感兴趣的气体组分的吸收谱线之上的所透射或反射的光束的强度的非线性变化。基于所述强度的非线性变化确定待测量的气体组分的浓度。
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公开(公告)号：CN103592025A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201310525282.2
申请日：2013-10-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/1804
Abstract: 本发明公开了一种光谱分析系统，包括：切尼-特纳光路结构；光电倍增管阵列，光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数；光纤阵列，光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在切尼-特纳光路结构的聚焦平面上，其中各组光纤的第一端收集不同波长单色光，N组光纤的第二端与N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管；多通道时间门控计数器；高压电源；和温度控制模块，温度控制模块与光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。该系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力，可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。
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公开(公告)号：CN103376158A
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201310111452.2
申请日：2013-04-01
Applicant: 安捷伦科技有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01J2003/1217
Abstract: 提供了一种包括二向色性光束组合器的光学发射系统。一种光学发射光谱仪系统(100，200)包括光源(101)和二向色性光束组合器(130)。光源在第一方向上发射第一光(115)并且在不同于所述第一方向的第二方向上发射第二光(125)。二向色性光束组合器经由第一光路(110)接收所述第一光并且经由第二光路(120)接收所述第二光，反射一部分所述第一光进入光检测及测量装置(140)的入口孔(145)，并且透射一部分所述第二光进入所述入口孔，使得能够同时分析并且测量第一光和第二光两者的特性。被反射进入所述入口孔的所述第一光的部分主要具有第一波长范围内的波长，并且被透射进入所述入口孔的所述第二光的部分主要具有不同于所述第一波长范围的第二波长范围内的波长。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102221545A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201110068383.2
申请日：2011-03-17
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 本发明是有关于一种发光分光分析装置，其可抑制成分元素的光谱强度的不均一。该发光分光分析装置将蓄积在蓄放电单元中的能量供给至电极与试料之间的间隙中而产生脉冲发光，该发光分光分析装置包括：对在脉冲发光之前充电至所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元；以及对在脉冲发光之后残留于所述蓄放电单元的能量进行检测的检测单元。判定所检测的光是否为利用蓄积在蓄放电单元中的充分的能量来发出的光。
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公开(公告)号：CN102121850A
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN201010586752.2
申请日：2010-11-30
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01J5/58
CPC classification number: G01J5/0014 , G01J3/02 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/443 , G01J5/0022 , G01J5/0044 , G01J5/0088 , G01J5/08 , G01J5/0815 , G01J5/0821 , G01J5/0846 , G01J5/0862 , G01J5/58
Abstract: 一种热测量系统(10)包括光收集装置(22)；和与该光收集装置(22)通信的检测系统(40、140、240、340)。该检测系统(40、140、240、340)配置成检测来自气体(80)的光(94)强度。本发明已经从特定实施例方面描述，并且认识到除那些明确陈述的之外的等同、备选和修改是可能的，并且在附上的权利要求的范围内。
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公开(公告)号：CN1648640B
公开(公告)日：2010-05-05
申请号：CN200510005692.X
申请日：2005-01-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H05K3/3463 , G01J3/443 , G01N21/71 , G01N2021/95646 , H05K1/0269 , H05K2203/095 , H05K2203/162
Abstract: 在本发明的成分分析方法和成分分析装置中，通过向靠近被分析对象物体配置的大气压等离子体源2供给氦气，同时由电源4提供高频电力而产生等离子体5，使被等离子体5照射的被分析对象物体发光。该光通过光学纤维6被导入滤光器7、光电二极管8而进行光电变换。进行了光电变换的信号再被送入控制装置9，由控制装置9判定被分析对象物体中是否含有特定元素。
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公开(公告)号：CN101689222A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200880015308.6
申请日：2008-05-06
Applicant: 真实仪器公司
Inventor： 麦克·威伦 , 安德鲁·威克斯·昆尼 , 凯尼斯·C·哈飞 , 约翰·道格拉斯·柯莱斯
IPC: G06F19/00
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/28 , G01J2003/2866
Abstract: 本发明涉及一种在故障检验和过程监测中使用的光谱设备辐射校准系统和方法。首先，将参考摄谱仪校准到本地基本标准(具有已知光谱强度和可追溯到参考标准的经校准的光源)。然后根据参考摄谱仪而非本地基本校准标准来校准其它摄谱仪。这通过用参考摄谱仪和待校准的摄谱仪两者观察光源来完成。来自待校准的摄谱仪的输出与参考摄谱仪的输出相比较，然后进行调整以与该输出一致。当前的校准过程能分两个阶段完成，第一阶段将摄谱仪校准到参考摄谱仪，然后在等离子腔室微调到窄带光源。作为替代，参考摄谱仪能校准到本地基本标准而光学耦合到等离子腔室。在此，本地基本标准校准光源临时定位在等离子腔室内、或者在沿着腔室内部布置的光腔室中，用于校准参考摄谱仪。当耦合到具有本地基本标准校准光源的等离子腔室时，其它摄谱仪能校准到参考摄谱仪，从而将整个光学路径中的每个组件校准到参考光源。
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公开(公告)号：CN1249424C
公开(公告)日：2006-04-05
申请号：CN200410035052.9
申请日：2004-04-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N21/31
Abstract: 一种原子吸收光谱仪，对一个试样进行测量时，在试样引入石墨管以前，信号电压预先储存在存储器中，该信号电压由一个光电倍增管进行检测，其与石墨管的原子化温度、分光仪中设有的输入和出口缝隙宽度及由衍射光栅分解的光线的波长所有可编程的组合有关。在对试样进行测量时，由负高压控制器按照测量要求控制光电倍增管的放大倍数，或通过控制从放大器输出的检测器信号的放大倍数设定最佳检测器信号电压后再进行检测。
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