量子产率测定装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103229043B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201180057407.2

    申请日:2011-08-31

    Inventor: 井口和也

    CPC classification number: G01N21/645 G01N2201/065

    Abstract: 量子产率测定装置(1),通过将激发光(L1)照射在用于容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3),检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一方所放出的被测定光(L2),来测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1)具有:暗箱(5),其在内部配置有试料容纳部(3);光产生部,其具有连接于暗箱(5)的光出射部(7),并产生激发光(L1);光检测部,其具有连接于暗箱(5)的光入射部(11),并检测被测定光(L2);积分球(14),其具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16),且配置于暗箱(5)内;及移动机构(30),以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式,使积分球(14)在暗箱(5)内移动,在第1状态,使光入射开口(15)与光出射部(7)相对,并使光出射开口(16)与光入射部(11)相对。

    用于测定颜色标准的表面光泽度的方法

    公开(公告)号:CN104094101A

    公开(公告)日:2014-10-08

    申请号:CN201280068181.0

    申请日:2012-11-14

    CPC classification number: G01N21/57 G01J3/0251 G01J3/504 G01N2201/065

    Abstract: 本发明涉及用于测定颜色标准的光泽度的方法,该方法包括以下步骤:A)用积分球颜色测量仪器实验测定该颜色标准的反射光谱R(exp),其包括第一反射光谱和第二反射光谱,其中该第一反射光谱是在(A1)包括镜面反射分量的d/8-几何参数处得到的,该第二反射光谱是在(A2)不包括镜面反射分量的d/8-几何参数处得到的;和B)通过以下步骤将实验测得的该颜色标准的反射光谱R(exp)的反射光谱数据转化为光泽度值:B1)获取实验测得的包括镜面反射分量(A1)的反射光谱R(exp)和不包括镜面反射分量(A2)的反射光谱R(exp)的反射光谱差ΔR;和B2)借助于之前事先制成的校正曲线确定对应于该反射光谱差ΔR的光泽度值,该校正曲线表示反射光谱差ΔR与在一个或多个光泽度角度测得的光泽度值之间的函数关系。

    分光测定方法
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102187203B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN200980140897.5

    申请日:2009-09-08

    Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部,根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0,并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ,并由φ=βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此,实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

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