中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

1496 records (took 0.028 seconds)

    小型紅外線光譜儀及應用於其之元件之組合及製造之系統與方法 COMPACT INFRARED SPECTROMETER, AND METHODS AND SYSTEM FOR MANUFACTURE AND ASSEMBLY OF COMPONENTS USED IN SAME
    211.
    发明专利
    小型紅外線光譜儀及應用於其之元件之組合及製造之系統與方法 COMPACT INFRARED SPECTROMETER, AND METHODS AND SYSTEM FOR MANUFACTURE AND ASSEMBLY OF COMPONENTS USED IN SAME 审中-公开
    小型红外线光谱仪及应用于其之组件之组合及制造之系统与方法 COMPACT INFRARED SPECTROMETER, AND METHODS AND SYSTEM FOR MANUFACTURE AND ASSEMBLY OF COMPONENTS USED IN SAME

    公开(公告)号：TW200600761A

    公开(公告)日：2006-01-01

    申请号：TW094112545

    申请日：2005-04-20

    Applicant: 曹美為 TSAO, MEI WEI

    Inventor： 曹美為 TSAO, MEI WEI

    IPC: G01J

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/35

    Abstract: 一種可操作於波長範圍為4.5微米或4.5微米以上的小型光譜儀，其包括一入射狹縫、一準直鏡、一光柵、一聚焦鏡以及一第一聚焦面。通過此狹縫的部分輻射會沿著一光徑行進，在此光徑中，此通過狹縫的部分輻射會被準直鏡反射到光柵上，按著此光柵反射部分輻射到聚焦鏡，而後該聚焦鏡便會反射與聚焦部分輻射在第一聚焦面及二維陣列偵測器之上。二維陣列偵測器中每一行均對應到波長範圍為4.5微米或4.5微米以上的某個波長，此二維陣列包括複數行，其全部會對應到橫跨波長範圍為4.5微米或4.5微米以上的複數個波長，且在此二維陣列偵測器上每一對相鄰的行均對應到波長差相等的兩波長。此入射狹縫、準直鏡、光柵、聚焦鏡以及第一聚焦面係置放於一大小等於或小於192立方英吋的體積內。

    Abstract in simplified Chinese: 一种可操作于波长范围为4.5微米或4.5微米以上的小型光谱仪，其包括一入射狭缝、一准直镜、一光栅、一聚焦镜以及一第一聚焦面。通过此狭缝的部分辐射会沿着一光径行进，在此光径中，此通过狭缝的部分辐射会被准直镜反射到光栅上，按着此光栅反射部分辐射到聚焦镜，而后该聚焦镜便会反射与聚焦部分辐射在第一聚焦面及二维数组侦测器之上。二维数组侦测器中每一行均对应到波长范围为4.5微米或4.5微米以上的某个波长，此二维数组包括复数行，其全部会对应到横跨波长范围为4.5微米或4.5微米以上的复数个波长，且在此二维数组侦测器上每一对相邻的行均对应到波长差相等的两波长。此入射狭缝、准直镜、光栅、聚焦镜以及第一聚焦面系置放于一大小等于或小于192立方英吋的体积内。

    SPECTROMETER WITH ABSOLUTE TRANSMISSION ACCESSORY
    215.
    发明公开
    SPECTROMETER WITH ABSOLUTE TRANSMISSION ACCESSORY 审中-公开

    公开(公告)号：EP4390341A1

    公开(公告)日：2024-06-26

    申请号：EP23215456.7

    申请日：2023-12-11

    Applicant: Thermo Fisher Scientific Instruments LLC,

    Inventor： BRADLEY, Michael ,  YAN, Min

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/453 ,  G01N21/03

    CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01J3/021 ,  G01J3/453 ,  G01J3/0275 ,  G01J3/0291 ,  G01N2021/359520130101 ,  G01N21/552 ,  G01N21/01 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/3563

    Abstract: An absolute transmission accessory for a spectrometer. One example spectrometer system includes a base plate, a light source configured to transmit light, and an interferometer mounted to the base plate. The interferometer receives the light from the light source and output modulated light. The spectrometer system includes a first optical element configured to receive the modulated light and direct the modulated light, and a second optical element configured to receive the modulated light and focus the modulated light to a sample compartment. The spectrometer system includes a detector compartment including one or more detectors, the detector compartment configured to receive light from the sample compartment. The spectrometer system includes a sample holder coupled to the base plate. The modulated light is directed to the sample holder, and light exiting the sample holder is directed through the sample compartment and to the detector compartment via the second optical element.

    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERMITTLUNG ZUMINDEST EINER PRÜFEIGENSCHAFT EINES PRÜFGEGENSTANDS
    216.
    发明公开
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERMITTLUNG ZUMINDEST EINER PRÜFEIGENSCHAFT EINES PRÜFGEGENSTANDS 审中-公开
    确定检查对象的至少一个测试属性的方法和设备

    公开(公告)号：EP3246677A3

    公开(公告)日：2018-02-07

    申请号：EP17171896.8

    申请日：2017-05-19

    Applicant: H & P Trading GmbH

    Inventor： Hochwarter, Erwin ,  Hochwarter, Michael ,  Hochwarter, Markus ,  Größwang, Heinz

    IPC: G01J3/50 ,  G01J3/52 ,  G01N21/47 ,  G01J3/02 ,  G06K9/00

    CPC classification number: G01J3/501 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/50 ,  G01J3/504 ,  G01J3/524 ,  G01N21/474 ,  G01N21/4785 ,  G01N2021/4711 ,  G06K2009/0059

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung zumindest einer Prüfeigenschaft eines Prüfgegenstands und eine Messvorrichtung, welche geeignet ist, ein Messfeld (3) unter einer Vielzahl an Anstrahlungskombinationen aus Einstrahlungswinkel (α) und/oder Wellenlängenbereich (A) mit elektromagnetischer Strahlung (5) anzustrahlen und die Intensität der jeweils von dem Messfeld unter zumindest einem Abstrahlungswinkel (β) remittierten elektromagnetischen Strahlung (5) zu messen. Die Prüfeigenschaft weist zumindest ein definiertes messbares Einzelmerkmal auf, wobei das Einzelmerkmal oder eine definierte Merkmalskombination mehrerer solcher Einzelmerkmale die Herkunft und/oder Identität des Prüfgegenstandes (1) belegt, wobei das Einzelmerkmal oder die Merkmalskombination messbar ist, wenn sie durch die elektromagnetische Strahlung (5) auf eine durch eine Auswahl an Anstrahlungkombinationen definierte Art und Weise optisch angeregt wird. Das Einzelmerkmal oder die Merkmalskombination wird mit der Messvorrichtung (4) in dieser Art und Weise angeregt und gemessen.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于确定至少一个Prüfeigenschaft一个测试对象和一个测量装置，其能够测量区域（3）的用电磁辐射的多个照射角度（α）和/或波长范围（A）的Anstrahlungskombinationen中照亮的（5）和 以在至少一个发射角（β）减少的电磁辐射（5）下测量每个测量场的强度。 所述Prüfeigenschaft具有至少一个定义的可测量的单独的特征，其中，所述单独的特征或几个这样的个人特征的定义的特性组合是测试对象（1），其中，所述的单独特征或特征的组合是可测量的，如果它（通过电磁辐射5的起点和/或身份 ）以选择的辐射组合所限定的方式被光学激励。 以这种方式用测量装置（4）激励和测量单个特征或特征组合。

    LIGHT PIPE FOR SPECTROSCOPY
    218.
    发明公开
    LIGHT PIPE FOR SPECTROSCOPY 审中-公开
    用于光谱学的光管

    公开(公告)号：EP3228999A2

    公开(公告)日：2017-10-11

    申请号：EP17164864.5

    申请日：2017-04-04

    Applicant: Viavi Solutions Inc.

    Inventor： HRUSKA, Curtis R ,  ZOU, Peng ,  CATCHING, Benjamin F ,  VON GUNTEN, Marc K ,  SMITH, Valton

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/06 ,  G01J3/42 ,  G01N21/03 ,  G02B27/09

    CPC classification number: G01N21/255 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/06 ,  G01J3/42 ,  G01N21/01 ,  G01N21/05 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/0118 ,  G01N2021/8514 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/08 ,  G01N2201/0813 ,  G02B27/0994

    Abstract: A spectroscopic assembly (165) may include a spectrometer (110). The spectrometer may include an illumination source to generate a light to illuminate a sample. The spectrometer may include a sensor to obtain a spectroscopic measurement based on light, reflected by the sample, from the light illuminating the sample. The spectroscopic assembly may include a light pipe (120) to transfer the light reflected from the sample. The light pipe may include a first opening (146) to receive the spectrometer. The light pipe may include a second opening (148) to receive the sample, such that the sample is enclosed by the light pipe and a base surface when the sample is received at the second opening. The light pipe may be associated with aligning the illumination source and the sensor with the sample.

    Abstract translation: 光谱组件（165）可以包括光谱仪（110）。 光谱仪可以包括照明源以产生照亮样品的光。 分光计可以包括传感器，以从照射样品的光中基于由样品反射的光获得分光测量。 分光镜组件可以包括光管（120）以传输从样品反射的光。 光管可以包括第一开口（146）以接收光谱仪。 光管可以包括用于接收样品的第二开口（148），使得当样品在第二开口处被接收时样品被光管和基座表面包围。 光管可以与照射源和传感器与样品对准相关联。

    SPECTROSCOPY MODULE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
    220.
    发明授权
    SPECTROSCOPY MODULE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR 有权
    SPEKTROSKOPIEMODUL UND HERSTELLUNGSVERFAHRENDAFÜR

    公开(公告)号：EP2469252B1

    公开(公告)日：2017-03-22

    申请号：EP10809902.9

    申请日：2010-08-11

    Applicant: Hamamatsu Photonics K.K.

    Inventor： SHIBAYAMA Katsumi ,  YOKINO Takafumi

    IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G02B5/10 ,  G02B5/18 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/2803 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1852 ,  G02B5/1861

    Abstract: In a spectroscopic module 1, a flange 7 is formed integrally with a diffraction layer 6 along a periphery thereof so as to become thicker than the diffraction layer 6. As a consequence, at the time of releasing a master mold used for forming the diffraction layer 6 and flange 7, the diffraction layer 6 formed along a convex curved surface 3a of a main unit 3 can be prevented from peeling off from the curved surface 3 a together with the master mold. A diffraction grating pattern 9 is formed so as to be eccentric with respect to the center of the diffraction layer 6 toward a predetermined side. Therefore, releasing the mold earlier from the opposite side of the diffraction layer 6 than the predetermined side thereof can prevent the diffraction layer 6 from peeling off and the diffraction grating pattern 9 from being damaged.

    Abstract translation: 在分光模块1中，凸缘7沿着其周边与衍射层6一体地形成为比衍射层6厚。因此，在释放用于形成衍射层的母模时， 6和凸缘7，可以防止沿着主单元3的凸曲面3a形成的衍射层6与母模一起从弯曲表面3a剥离。 衍射光栅图案9形成为相对于衍射层6的中心偏向预定侧。 因此，从衍射层6的与其规定侧相反的相反侧较早地剥离模具可以防止衍射层6剥离，衍射光栅图案9受损。

Patent Agency Ranking