公开(公告)号：CN1075340C

公开(公告)日：2001-11-21

申请号：CN98114957.X

申请日：1998-04-17

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村浩人

IPC: H05K13/00

CPC classification number: H01L21/67748 ,  G01R31/2831 ,  G01R31/2887 ,  H05K13/0061

Abstract: 一种能够从托盘收存容器中自动地取出搭载有被试验IC的托盘并供给至IC试验装置还能够把托盘收存到托盘收存容器中的托盘取出兼收存装置。用第一连接钩支承托盘，把升降装置抵接于托盘底面并解除第一连接钩的接合，同时把第二连接钩移动到接合位置；使升降装置下降并用第二连接钩支承托盘，在该状态下使第一连接钩与倒数第二个托盘接合，同时把第二连接钩移动到非接合位置，且使升降装置下降而只取出最底层的一个托盘。

公开(公告)号：CN1232185A

公开(公告)日：1999-10-20

申请号：CN99105005.3

申请日：1999-04-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村浩人

IPC: G01R31/26

CPC classification number: H01L21/67236 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/2893 ,  H01L21/67333 ,  H01L21/67778 ,  Y10S209/909 ,  Y10S414/14

Abstract: 本发明目的在于减少托盘交换时的动作行程,提高生产率。在用于交换标准托盘的托盘传送臂205上沿着上下方向设置一对托盘收容单元205a、205b,还设置着使这些托盘收容单元相互独立地沿上下方向移动的液压缸36、37。

公开(公告)号：CN1159227A

公开(公告)日：1997-09-10

申请号：CN96190819.X

申请日：1996-07-29

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 根本真 ,  小林义仁 ,  中村浩人 ,  大西武士 ,  池田浩树

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/31907 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/2887 ,  G01R31/31912

Abstract: 一种半导体器件试验系统，可有效利用多台半导体器件试验装置。包括管理、控制多台半导体器件试验装置的主计算机、分类专用机，在主计算机内还设置有存储分配给试验完的半导体器件的序号及试验结果等器件收纳信息的收纳信息存储装置。在各试验装置的搬运器部不进行分类或只分两类即移送至通用托盘，试验完了后，根据收纳信息存储装置内的信息在分类专用机内进行器件的分类。

公开(公告)号：CN1143190A

公开(公告)日：1997-02-19

申请号：CN95115349.8

申请日：1995-08-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村浩人 ,  小林义仁 ,  佐川慎

IPC: G01R31/28 ,  B65G49/00

Abstract: 一种可以减少待测IC器件传送时间的IC测试系统中自动输送装置，该装置将IC器件由供应区传送至测试头区，再送至排出区。通过制动器的独特设置及于测盘上开凹槽的方法，在不提高输送速度的情况下，可减少IC器件的平均换位时间。