公开(公告)号：CN101258415B

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN200680013950.1

申请日：2006-10-04

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐川慎

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2886 ,  G01R31/2893

Abstract: 一种电子部件试验装置，用于使IC器件(IC)电接触于测试头的接触部，对IC器件(IC)进行试验；该电子部件试验装置具有器件输送装置(310)，该器件输送装置(310)从位于装载部的孔部的用户托盘(800)将IC器件(IC)转移到测试托盘；该器件输送装置(310)具有保持IC器件(IC)的保持头(340)，保持头(340)从非接触的状态拉近收容于用户托盘(800)的IC器件(IC)，对IC器件(IC)进行保持。

公开(公告)号：CN101258415A

公开(公告)日：2008-09-03

申请号：CN200680013950.1

申请日：2006-10-04

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐川慎

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2886 ,  G01R31/2893

Abstract: 一种电子部件试验装置，用于使IC器件(IC)电接触于测试头的接触部，对IC器件(IC)进行试验；该电子部件试验装置具有器件输送装置(310)，该器件输送装置(310)从位于装载部的孔部的用户托盘(800)将IC器件(IC)转移到测试托盘；该器件输送装置(310)具有保持IC器件(IC)的保持头(340)，保持头(340)从非接触的状态拉近收容于用户托盘(800)的IC器件(IC)，对IC器件(IC)进行保持。

公开(公告)号：CN1997902A

公开(公告)日：2007-07-11

申请号：CN200480043728.7

申请日：2004-07-09

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 叶山久夫 ,  齐藤登 ,  佐川慎

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2887 ,  G01R31/2891 ,  Y10T29/49218 ,  Y10T29/53209 ,  Y10T29/53213

Abstract: 推压器(30)由推压器座(31)和可拆装地安装在推压器座(31)上的推压子(32)构成。具体的是，在推压子(32)的基部设置凸缘部(321)，在推压器座(31)设置平面视为コ字形的板(33)。然后，通过由板(33)支承推压子(32)的凸缘部(321)同时使推压子(32)相对推压器座(31)滑动，从而不需要工具就可以使推压子(32)相对于推压器(30)拆装。

公开(公告)号：CN1103453C

公开(公告)日：2003-03-19

申请号：CN95115349.8

申请日：1995-08-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村浩人 ,  小林义仁 ,  佐川慎

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种可以减少待测IC器件传送时间的IC测试系统中自动输送装置，该装置将IC器件由供应区传送至测试头区，再送至排出区。通过制动器的独特设置及于测盘上开凹槽的方法，在不提高输送速度的情况下，可减少IC器件的平均换位时间。

公开(公告)号：CN118837584A

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202310445746.2

申请日：2023-04-24

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 高本智行 ,  佐川慎 ,  川岛敬史 ,  福士正行 ,  柴田大

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/00

Abstract: 提供能够抑制加强框的强度降低和损坏并抑制老化板的挠曲的老化板和老化装置。老化板(20)具备：多个插座(30)；安装有插座(30)的老化板主体(40)；底板(60)；外框(50)；以及加强框(70)，其设置于外框(50)的内部且老化板主体(40)与底板(60)之间，加强框(70)具有：在第一方向上延伸的多个基杆(80)；以及以与基杆(80)交叉的方式配置并在第二方向上延伸的多个横杆(90)，横杆(90)在与基杆(80)交叉的部位与基杆(80)嵌合，与老化板主体(40)的下表面(42)和底板(60)的上表面(61)接触，并能够从基杆(80)拆卸。

公开(公告)号：CN100526896C

公开(公告)日：2009-08-12

申请号：CN200480043728.7

申请日：2004-07-09

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 叶山久夫 ,  齐藤登 ,  佐川慎

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2887 ,  G01R31/2891 ,  Y10T29/49218 ,  Y10T29/53209 ,  Y10T29/53213

Abstract: 推压器(30)由推压器座(31)和可拆装地安装在推压器座(31)上的推压子(32)构成。具体的是，在推压子(32)的基部设置凸缘部(321)，在推压器座(31)设置平面视为コ字形的板(33)。然后，通过由板(33)支承推压子(32)的凸缘部(321)同时使推压子(32)相对推压器座(31)滑动，从而不需要工具就可以使推压子(32)相对于推压器(30)拆装。

公开(公告)号：CN1162997A

公开(公告)日：1997-10-22

申请号：CN95194271.9

申请日：1995-11-24

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 渡边丰 ,  奥田广 ,  山下和之 ,  佐川慎 ,  中嶋治希 ,  河野重德

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种半导体元件的搬送装置及半导体元件姿势变换装置，这种装置构成料盒·托盘兼用型半导体元件试验装置用的半导体元件搬送处理装置。料盒倾斜地被支承着，由于料盒倾斜而使半导体元件靠自重滑出来，在将料盒滑出的半导体元件往水平姿势的试验用托盘上装的时候，所使用的半导体元件搬送装置及半导体元件姿势交换装置，可采用以下几种装置把从料盒滑出的呈倾斜姿势的半导体元件改变成水平姿势，这几种装置是：使用倾斜度逐渐减小、终端部成为水平状态的姿势变换导轨；或采用可动导轨，该导轨在接受倾斜姿势的半导体元件之后，再回转到水平方向，将半导体元件的姿势改变为水平姿势；或采用回转臂，该回转臂在接受倾斜姿势的半导体元件之后回转180°，将半导体元件的姿势改变为水平姿势。

公开(公告)号：CN1143190A

公开(公告)日：1997-02-19

申请号：CN95115349.8

申请日：1995-08-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村浩人 ,  小林义仁 ,  佐川慎

IPC: G01R31/28 ,  B65G49/00

Abstract: 一种可以减少待测IC器件传送时间的IC测试系统中自动输送装置，该装置将IC器件由供应区传送至测试头区，再送至排出区。通过制动器的独特设置及于测盘上开凹槽的方法，在不提高输送速度的情况下，可减少IC器件的平均换位时间。