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公开(公告)号：CN1138984C
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN99117943.9
申请日：1999-08-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 小林义仁
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R31/2893
Abstract: 本发明是一种将测试信号输入到要测试的电子元件里，根据其响应输出信号，判断电子元件好坏的电子元件的测试方法，在第一测试里，对多个电子元件组成的电子元件群的各电子元件A1、A2，输入共同的测试信号，根据其响应信号，判断该测试的电子元件群全体好坏。在第二测试(再检测)里，对于由第一测试工序判断为不合格的各测试电子元件，分别输入互相独立的测试信号，根据其响应信号，判断该测试的单个电子元件A1、A2的好坏。
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公开(公告)号：CN100590443C
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200580024691.8
申请日：2005-07-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/31718 , G01R31/2865 , G01R31/2868 , G01R31/2893 , G01R31/31905
Abstract: 一种电子器件试验装置，具有：多个测试单元(520)；搬入移载单元(510)，在多个被试验电子器件被搬入测试单元之前从客户托盘(4C)向测试托盘(4T)进行移载；以及分类移载单元(530)，依照多个被试验电子器件的测试结果从测试托盘向客户托盘一边进行分类一边进行移载，其中，搬入移载单元被设置在多个测试单元中的至少最前级，并且分类移载单元被设置在多个测试单元中的至少最后级，测试托盘从多个测试单元的最前级到最后级以搭载了被试验电子器件的状态顺次进行搬运，并从最后级的测试单元返回到最前级的测试单元。
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公开(公告)号：CN1063849C
公开(公告)日：2001-03-28
申请号：CN95119921.8
申请日：1995-10-11
CPC classification number: H01L23/32 , B25J15/04 , G01R1/0433 , G01R31/2851 , G01R31/2893 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种集成电路(IC)运送器，其卡闩31、32铰接于IC槽19中的IC器件18的相对两侧，其连接臂31b、32b插入由弹簧48、49向上偏压的致动件39、41上形成的啮合孔中，IC运送器的顶面除了IC槽以外均由致动板51覆盖，IC放置/取出机构61的定位销64插入IC运送器的孔22中，以使固定着销64的安装板65把致动板51向下压在IC运送器的顶面上，使致动件39、41转动卡闩31、32，使其下压凸头31a、32a从正待由吸盘24提取的IC器件18的顶部缩回。
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公开(公告)号：CN1237245A
公开(公告)日：1999-12-01
申请号：CN98801238.3
申请日：1998-07-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/01 , G01R31/2851 , G01R31/2867
Abstract: 一种IC测试器,能够减少完成对所有要测试的IC的测试需要的时间。恒温室(4)和退出室(5)的深度(在Y轴方向的长度),扩充了大致对应于矩形测试盘(3)的横边的长度(短边的长度),在从恒温室(4)中的保温室(41)经恒温室(4)中的测试部分(42)伸展到退出室(5)的通道的部分中,提供了两条基本平行的测试盘输送通道或者加宽的测试盘输送通道,能够沿着两条输送通道或加宽的测试盘输送通道同时输送两个测试盘,这两个测试盘在横过两条平行的测试盘输送通道的方向上并列安排。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN1130257A
公开(公告)日：1996-09-04
申请号：CN95119921.8
申请日：1995-10-11
IPC: G01R31/28
CPC classification number: H01L23/32 , B25J15/04 , G01R1/0433 , G01R31/2851 , G01R31/2893 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种集成电路(IC)运送器，其卡闩31、32铰接于IC槽19中的IC器件18的相对两侧，其连接臂31b、32b插入由弹簧48、49向上偏压的致动件39、41上形成的啮合孔中，IC运送器的顶面除了IC槽以外均由致动板51覆盖，IC放置/取出机构61的定位销64插入IC运送器的孔22中，以使固定着销64的安装板65把致动板51向下压在IC运送器的顶面上，使致动件39、41转动卡闩31、32，使其下压凸头31a、32a从正待由吸盘24提取的IC器件18的顶部缩回。
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公开(公告)号：CN1226635C
公开(公告)日：2005-11-09
申请号：CN98801238.3
申请日：1998-07-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/01 , G01R31/2851 , G01R31/2867
Abstract: 一种IC测试器，能够减少完成对所有要测试的IC的测试需要的时间。恒温室(4)和退出室(5)的深度(在Y轴方向的长度)，扩充了大致对应于矩形测试盘(3)的横边的长度(短边的长度)，在从恒温室(4)中的保温室(41)经恒温室(4)中的测试部分(42)伸展到退出室(5)的通道的部分中，提供了两条基本平行的测试盘输送通道或者加宽的测试盘输送通道，能够沿着两条输送通道或加宽的测试盘输送通道同时输送两个测试盘，这两个测试盘在横过两条平行的测试盘输送通道的方向上并列安排。
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公开(公告)号：CN1137508C
公开(公告)日：2004-02-04
申请号：CN99104731.1
申请日：1996-07-29
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/31907 , G01R31/2834 , G01R31/2887 , G01R31/31912
Abstract: 一种半导体器件试验系统，可有效利用多台半导体器件试验装置。包括管理、控制多台半导体器件试验装置的主计算机、分类专用机，在主计算机内还设置有存储分配给试验完的半导体器件的序号及试验结果等器件收纳信息的收纳信息存储装置。在各试验装置的搬运器部不进行分类或只分两类即移送至通用托盘，试验完了后，根据收纳信息存储装置内的信息在分类专用机内进行器件的分类。
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公开(公告)号：CN1245899A
公开(公告)日：2000-03-01
申请号：CN99117943.9
申请日：1999-08-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 小林义仁
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R31/2893
Abstract: 本发明是一种将测试信号输入到要测试的电子元件里,根据其响应输出信号,判断电子元件好坏的电子元件的测试方法,在第一测试里,对多个电子元件组成的电子元件群的各电子元件A1、A2,输入共同的测试信号,根据其响应信号,判断该测试的电子元件群全体好坏。在第二测试(再检测)里,对于由第一测试工序判断为不合格的各测试电子元件,分别输入互相独立的测试信号,根据其响应信号,判断该测试的单个电子元件A1、A2的好坏。
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