公开(公告)号：CN105470224A

公开(公告)日：2016-04-06

申请号：CN201510623157.4

申请日：2015-09-25

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 武藤晃 ,  板东晃司 ,  佐藤幸弘 ,  御田村和宏

IPC: H01L23/48 ,  H01L21/60

Abstract: 半导体器件及其制造方法，提高半导体器件的可靠性。在引线框架(LF)设有一对悬吊部(HL)，并且夹具(CLP)由主体部(BDU)和一对延伸部(EXU)构成，以此为前提，一对延伸部(EXU)搭载于一对悬吊部(HL)上而被支承。由此，夹具(CLP)被搭载于引线(LD1)上(1点)和一对悬吊部(HL)上(2点)，夹具(CLP)被这些部件3点支承。

公开(公告)号：CN104282646A

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：CN201410306691.8

申请日：2014-06-30

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 船津胜彦 ,  佐藤幸弘 ,  谷藤雄一 ,  宇野友彰

IPC: H01L23/48

CPC classification number: H01L23/564 ,  H01L21/4825 ,  H01L21/4828 ,  H01L21/561 ,  H01L21/565 ,  H01L21/78 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/49503 ,  H01L23/4952 ,  H01L23/49524 ,  H01L23/49537 ,  H01L23/49541 ,  H01L23/49551 ,  H01L23/49562 ,  H01L23/49575 ,  H01L24/34 ,  H01L24/36 ,  H01L24/40 ,  H01L24/97 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2224/40095 ,  H01L2224/40245 ,  H01L2224/45124 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/45147 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/73221 ,  H01L2224/83801 ,  H01L2224/84801 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明公开了一种半导体器件，包括第一芯片安装部分、布置在第一芯片安装部分之上的第一半导体芯片、形成在第一半导体芯片的表面中的第一焊盘、用作外部耦合端子的第一引线、将第一焊盘和第一引线电耦合的第一传导构件以及密封体，该密封体密封第一芯片安装部分的一部分、第一半导体芯片、第一引线的一部分和第一传导构件。第一传导构件包括第一板状部分和与第一板状部分一体地形成的第一支撑部分。第一支撑部分的末端从密封体暴露，并且第一支撑部分形成有第一弯曲部分。

公开(公告)号：CN103681389A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310439966.0

申请日：2013-09-25

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 舩津胜彦 ,  宇野友彰 ,  植栗徹 ,  佐藤幸弘

IPC: H01L21/60 ,  H01L21/58 ,  H01L21/683

CPC classification number: H01L25/50 ,  H01L21/4835 ,  H01L21/4839 ,  H01L21/56 ,  H01L21/561 ,  H01L21/6836 ,  H01L21/78 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/495 ,  H01L23/49503 ,  H01L23/49537 ,  H01L23/49541 ,  H01L23/49548 ,  H01L23/49562 ,  H01L23/49575 ,  H01L24/34 ,  H01L24/36 ,  H01L24/37 ,  H01L24/40 ,  H01L24/83 ,  H01L24/97 ,  H01L25/18 ,  H01L2221/68327 ,  H01L2221/68331 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2224/29139 ,  H01L2224/37147 ,  H01L2224/40095 ,  H01L2224/40245 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/49171 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2224/73221 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/83801 ,  H01L2224/8385 ,  H01L2224/83851 ,  H01L2224/84801 ,  H01L2224/92247 ,  H01L2924/1306 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/30107 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00012

Abstract: 本发明涉及半导体器件的制造方法。本发明的目的是提高将带施加于基板的后表面时的可靠性，同时确保施加于基板的后表面的带的耐热性。在设置于支撑部件内的沟道的底表面与驱动器IC芯片的上表面之间存在间隙。另一方面，引线框的上表面侧由支撑部件支撑，使得沟道的底表面接触安装于低MOS芯片之上的低MOS夹片的上表面。因而，即使在驱动器IC芯片和低MOS芯片被安装于引线框的上表面侧之上的状态下，带也能够被可靠地施加于引线框的后表面，特别地，施加于产品区的后表面。

公开(公告)号：CN103035602A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210323243.X

申请日：2012-09-04

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 中村弘幸 ,  佐藤幸弘 ,  藤城敦 ,  关达弘

IPC: H01L23/488

CPC classification number: H01L27/088 ,  H01L23/49524 ,  H01L23/49562 ,  H01L23/49575 ,  H01L24/37 ,  H01L24/40 ,  H01L24/45 ,  H01L24/73 ,  H01L2224/32245 ,  H01L2224/37011 ,  H01L2224/371 ,  H01L2224/37124 ,  H01L2224/37147 ,  H01L2224/37599 ,  H01L2224/40095 ,  H01L2224/40245 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2224/45124 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/45147 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2224/73221 ,  H01L2224/73263 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/83801 ,  H01L2224/8385 ,  H01L2224/84801 ,  H01L2224/8485 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01047 ,  H01L2924/12036 ,  H01L2924/1306 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/351 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明公开了一种提高了可靠性的半导体器件。开关功率MOSFET以及用于感测在功率MOSFET中流动的电流的感测MOSFET（感测MOSFET的面积小于功率MOSFET的）形成于一个半导体芯片内。半导体芯片经由导电性接合材料安装于芯片安装部之上，并且以树脂来密封。在半导体芯片的主表面之上，金属板与功率MOSFET的源极焊盘电极接合。在平面图中，金属板与感测MOSFET没有形成于其内的感测MOSFET区不重叠。金属板与源极焊盘电极接合，以便包围感测MOSFET区的三个边。

公开(公告)号：CN205069623U

公开(公告)日：2016-03-02

申请号：CN201520754095.6

申请日：2015-09-25

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 武藤晃 ,  板东晃司 ,  佐藤幸弘 ,  御田村和宏

IPC: H01L23/492 ,  H01L23/04 ,  H01L23/49 ,  H01L23/13

CPC classification number: H01L23/49575 ,  B60L3/003 ,  B60L15/007 ,  B60L50/51 ,  B60L2220/12 ,  B60L2240/525 ,  H01L21/56 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/49513 ,  H01L23/49524 ,  H01L23/49537 ,  H01L23/49541 ,  H01L23/49555 ,  H01L23/49562 ,  H01L23/49565 ,  H01L23/544 ,  H01L23/564 ,  H01L24/32 ,  H01L24/33 ,  H01L24/37 ,  H01L24/40 ,  H01L24/41 ,  H01L24/48 ,  H01L24/73 ,  H01L24/78 ,  H01L24/83 ,  H01L24/84 ,  H01L24/85 ,  H01L24/92 ,  H01L2223/54406 ,  H01L2223/54433 ,  H01L2223/54486 ,  H01L2224/05553 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2224/29116 ,  H01L2224/2929 ,  H01L2224/29339 ,  H01L2224/32245 ,  H01L2224/37011 ,  H01L2224/37013 ,  H01L2224/37147 ,  H01L2224/40095 ,  H01L2224/40139 ,  H01L2224/40245 ,  H01L2224/40998 ,  H01L2224/45124 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/45147 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/73215 ,  H01L2224/73221 ,  H01L2224/73263 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/77704 ,  H01L2224/78704 ,  H01L2224/83192 ,  H01L2224/83447 ,  H01L2224/838 ,  H01L2224/83801 ,  H01L2224/83815 ,  H01L2224/8385 ,  H01L2224/83862 ,  H01L2224/84136 ,  H01L2224/84138 ,  H01L2224/84801 ,  H01L2224/84815 ,  H01L2224/8485 ,  H01L2224/84862 ,  H01L2224/8585 ,  H01L2224/92147 ,  H01L2224/92246 ,  H01L2224/92247 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/1203 ,  H01L2924/13055 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/15747 ,  H01L2924/181 ,  Y02T10/645 ,  Y02T10/7005 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/0665 ,  H01L2224/05559 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2924/207 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/85399

Abstract: 一种半导体器件，提高半导体器件的可靠性。在引线框架(LF)设有一对悬吊部(HL)，并且夹具(CLP)由主体部(BDU)和一对延伸部(EXU)构成，以此为前提，一对延伸部(EXU)搭载于一对悬吊部(HL)上而被支承。由此，夹具(CLP)被搭载于引线(LD1)上(1点)和一对悬吊部(HL)上(2点)，夹具(CLP)被这些部件3点支承。

公开(公告)号：CN205039141U

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201520764326.1

申请日：2015-09-29

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 佐藤幸弘 ,  舩津胜彦 ,  金泽孝光 ,  小井土雅宽 ,  田谷博美

IPC: H01L23/12 ,  H01L23/488

CPC classification number: H01L25/0655 ,  H01L21/4846 ,  H01L23/049 ,  H01L23/24 ,  H01L23/3735 ,  H01L23/49838 ,  H01L23/49844 ,  H01L23/49861 ,  H01L24/09 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L25/072 ,  H01L25/16 ,  H01L25/18 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2224/0905 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/45014 ,  H01L2224/45124 ,  H01L2224/45139 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/4846 ,  H01L2224/48472 ,  H01L2224/49111 ,  H01L2224/49113 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/92247 ,  H01L2924/13055 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/16151 ,  H01L2924/16251 ,  H01L2924/181 ,  H02M7/219 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本实用新型提供一种半导体器件，抑制半导体器件的可靠性降低。半导体器件具有形成于陶瓷衬底(CS1)上的多个金属图案(MP)以及搭载于多个金属图案(MP)的多个半导体芯片。另外，多个金属图案(MP)具有相互相对的金属图案(MPH)和金属图案(MPU)。另外，设置于金属图案(MPH)与金属图案(MPU)之间且从多个金属图案(MP)暴露的区域(EX1)沿着金属图案(MPH)的延伸方向以锯齿状延伸。

公开(公告)号：CN207938601U

公开(公告)日：2018-10-02

申请号：CN201820371520.7

申请日：2018-03-19

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 佐藤幸弘 ,  清原俊范

IPC: H01L23/49 ,  H01L23/495 ,  H01L23/485 ,  H01L21/60

Abstract: 本实用新型提供半导体器件，能提高半导体器件的性能。一实施方式的半导体器件具有导线(12)，其在形成于半导体芯片的绝缘膜上的开口部(13H1)处，在一个接合面(SEt1)的多个部位接合。另外，半导体器件具有以与接合面(SEt1)接触的方式封固上述半导体芯片及导线(12)的封固体。接合面(SEt1)具有供导线(12)的接合部(12B1)接合的区域(SER1)、供导线(12)的接合部(12B2)接合的区域(SER2)、以及位于区域(SER1)与区域(SER2)之间的区域(SER3)。区域(SER3)的宽度(WH3)比区域(SER1)的宽度(WH1)及区域(SER2)的宽度(WH2)小。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

公开(公告)号：CN205159307U

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201520987395.9

申请日：2015-12-03

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 御田村和宏 ,  板东晃司 ,  佐藤幸弘 ,  金泽孝光

IPC: H01L23/48 ,  H01L27/082

CPC classification number: H02M7/537 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/49551 ,  H01L23/49555 ,  H01L23/49562 ,  H01L23/49568 ,  H01L23/49575 ,  H01L24/06 ,  H01L24/29 ,  H01L24/32 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L24/73 ,  H01L27/0664 ,  H01L29/0615 ,  H01L29/0619 ,  H01L29/7397 ,  H01L29/861 ,  H01L29/8611 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2224/29101 ,  H01L2224/32245 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/48257 ,  H01L2224/49111 ,  H01L2224/49113 ,  H01L2224/49171 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/0781 ,  H01L2924/13055 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/1815 ,  H02M7/003 ,  H02P27/06 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2924/207 ,  H01L2924/014

Abstract: 本实用新型涉及半导体装置。本实用新型解决的一个问题是如何能够提高半导体装置的放热特性。本实用新型的半导体装置具有：具有第1部分与第2部分的第1芯片搭载部；第2芯片搭载部；第3芯片搭载部；第1半导体芯片；第2半导体芯片；第3半导体芯片；第4半导体芯片；第1引线；与所述第1芯片搭载部的所述第2部分连结的第2引线；第3引线；以及密封体，其中所述第1引线、所述第2引线与所述第3引线分别具有从所述密封体的所述第1侧面突出的突出部分。本实用新型的一个用途是适用于能够提高半导体装置的放热特性的半导体装置。

公开(公告)号：CN205081110U

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201520762772.9

申请日：2015-09-29

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 舩津胜彦 ,  佐藤幸弘 ,  金泽孝光 ,  小井土雅宽 ,  田谷博美

IPC: H01L23/12 ,  H01L23/13

CPC classification number: H01L23/49838 ,  H01L21/52 ,  H01L21/54 ,  H01L23/02 ,  H01L23/04 ,  H01L23/053 ,  H01L23/057 ,  H01L23/10 ,  H01L23/12 ,  H01L23/15 ,  H01L23/16 ,  H01L23/3735 ,  H01L23/495 ,  H01L23/49541 ,  H01L23/49548 ,  H01L23/498 ,  H01L23/49811 ,  H01L23/49844 ,  H01L24/06 ,  H01L24/29 ,  H01L24/32 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L24/73 ,  H01L24/83 ,  H01L24/85 ,  H01L24/92 ,  H01L25/071 ,  H01L25/072 ,  H01L29/41708 ,  H01L2224/05553 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2224/29101 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/45014 ,  H01L2224/45124 ,  H01L2224/45139 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48101 ,  H01L2224/48106 ,  H01L2224/4813 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/4846 ,  H01L2224/48472 ,  H01L2224/49111 ,  H01L2224/49113 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/92247 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/1304 ,  H01L2924/13055 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/181 ,  H02S40/32 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2924/014 ,  H01L2224/85399

Abstract: 本实用新型提供一种半导体器件，其目的在于，抑制半导体器件的可靠性降低。半导体器件具有：形成在陶瓷衬底(CS1)上的多个金属图案(MP)；和搭载在多个金属图案(MP)中的一部分上的半导体芯片(CP)。另外，在多个金属图案(MP)的周缘部形成有多个凹部(DP)。另外，在多个金属图案(MP)中的与半导体芯片(CP)重叠的区域不形成多个凹部(DP)。另外，在多个金属图案(MP)中的、配置在最靠近陶瓷衬底(CS1)的上表面(CSt)的周缘部的位置的多个金属图案(MPT)上设置有多个凹部(DP)。