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公开(公告)号:DE102004044628A1
公开(公告)日:2006-03-16
申请号:DE102004044628
申请日:2004-09-13
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SIECKMANN FRANK
IPC: G02B21/06
Abstract: An illumination apparatus for an optical system, in particular for a microscope, having a light source ( 2 ) emitting preferably broad-band light in order to furnish an output light beam ( 3 ), and having a filter device ( 5 ), is characterized, in the interest of economical, low-maintenance, and vibration-free generation of an illuminating light beam encompassing multiple wavelengths or wavelength regions, and a high degree of flexibility in terms of the spectral light shaping of the illuminating light beam, in that the filter device ( 5 ) encompasses at least one means ( 7 ) for spatial splitting of the output light beam ( 3 ) into light sub-beams ( 8, 9 ) and at least one means for spectral manipulation of at least one of the light sub-beams ( 8, 9 ); and that at least one beam combining means is provided with which definable light sub-beams ( 9 ) are combinable into one illuminating light beam ( 14 ) for the optical system.
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公开(公告)号:DE102004031570A1
公开(公告)日:2006-01-05
申请号:DE102004031570
申请日:2004-06-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SIECKMANN FRANK
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公开(公告)号:DE102004044629B4
公开(公告)日:2023-01-12
申请号:DE102004044629
申请日:2004-09-13
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SIECKMANN FRANK
Abstract: Verfahren zum simultanen Nachweis mehrerer Spektralbereiche eines Lichtstrahls, insbesondere zum simultanen Nachweis mehrerer Spektralbereiche eines Detektionslichtstrahls in einem vorzugsweise konfokalen Scanmikroskop, unter Verwendung einer Einrichtung (2) zur Manipulation des Lichtstrahls (1) sowie mehrerer Detektionsmittel (3),wobei aus dem Gesamtspektrum des Lichtstrahls (1) Teillichtstrahlen (6) räumlich abgespalten werden, dass aus dem Spektrum der Teillichtstrahlen (6) vorgebbare Wellenlängen und/oder Wellenlängenbereiche selektiert werden und dass nach der Selektion jeder der Teillichtstrahlen (6) jeweils einem der Detektionsmittel (3) zugeführt wird wobei die Mittel (5) zur räumlichen Abspaltung von Teillichtstrahlen (6) und die Mittel zur Selektion vorgebbarer Wellenlängen und/oder Wellenlängenbereiche in einen Filterwürfel (4) integriert werden und wobei ein Bildversatz beim Durchgang des Lichtstrahls (1) durch einen Filterwürfel (4) durch Verdrehung des Filterwürfels (4) um einen geeigneten Winkel gezielt herbeigeführt wird.
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公开(公告)号:DE102017116892B4
公开(公告)日:2022-01-05
申请号:DE102017116892
申请日:2017-07-26
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK
Abstract: Lichtquellenmodul zur Erzeugung einer Lichtblattebene mit einem Lichtquellenmodulgehäuse, einem innerhalb des Lichtquellenmodulgehäuses angeordneten Lichtblattebenengenerator zur Beeinflussung eines Lichtstrahls derart, dass außerhalb des Lichtquellenmodulgehäuses eine Lichtblattebene erzeugt wird, und einer Austrittsfläche des Lichtquellenmodulgehäuses, aus der der Lichtstrahl austritt, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine Lichtquelle innerhalb des Lichtquellenmoduls angeordnet ist.
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公开(公告)号:DE102019207873A1
公开(公告)日:2020-12-03
申请号:DE102019207873
申请日:2019-05-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SIECKMANN FRANK
Abstract: Ausgestaltungen der Erfindung betreffen einen optischen Aufbau (101-1101) für ein Mikroskop (103-1103), insbesondere für ein Weitfeldmikroskop (105-110), umfassend eine von einer ersten Seite (107-1107) eines Probenvolumens (109-1109) zum Probenvolumen (109-1109) weisende erste optische Anordnung (111-1111) mit einer ersten optischen Achse (113-1113) und eine von einer zweiten Seite (115-1115) des Probenvolumens (109-1109), zum Probenvolumen (109-1109) weisende zweite optische Anordnung (117-1117) mit einer zweiten optischen Achse (119-1119), wobei die erste Seite (107-1107) der zweiten Seite (115-1115) des Probenvolumens (109-1109) gegenüberliegt. Ferner betreffen Ausgestaltungen der Erfindung ein Mikroskop (103-1103), umfassend eine Objektivaufnahme (157-1157) für Mikroskopobjektive durch die hindurch sich ein Mikroskopstrahlengang erstreckt. Optische Aufbauten und Mikroskope aus dem Stand der Technik sind wenig flexibel. Erfindungsgemäß verbessert der optische Aufbau (101-1101) Lösungen aus dem Stand der Technik dadurch, dass die erste (113-1113) und die zweite optische Achse (119-1119) das Probenvolumen (109-1109) schneiden und dass die erste optische Achse (113-1113) und die zweite optische Achse (119-1119) im Probenvolumen (109-1109) nichtparallel zueinander angeordnet sind. Das erfindungsgemäße Mikroskop (103-1103) verbessert Lösungen aus dem Stand der Technik dadurch, dass das Mikroskop ferner einen optischen Aufbau (101-1101) gemäß der Erfindung umfasst, wobei die erste optische Anordnung (111-1111) oder die zweite optische Anordnung (117-1117) an der Objektivaufnahme (157-1157) befestigt ist.
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公开(公告)号:DE102018200923A1
公开(公告)日:2018-07-26
申请号:DE102018200923
申请日:2018-01-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SIECKMANN FRANK
Abstract: Es wird ein Verfahren zum sequentiellen Untersuchen einer Mehrzahl von Proben (10) mittels eines Lichtblattebenen-Mikroskops vorgeschlagen. Das Verfahren zeichnet sich durch eine Abfolge von Schritten aus, die es erlaubt, eine Mehrzahl von an vorgegebenen Positionen angeordneten Proben (10) nacheinander zu untersuchen. Weiterhin werden eine Probenträgereinheit (22) und eine Aufnahmeeinheit (34) vorgeschlagen, die insbesondere in Kombination besonders zur Durchführung des Verfahrens geeignet sind.
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27.
公开(公告)号:LU92696B1
公开(公告)日:2016-10-18
申请号:LU92696
申请日:2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
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28.
公开(公告)号:LU92696A1
公开(公告)日:2016-10-18
申请号:LU92696
申请日:2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
CPC classification number: G02B21/006 , G02B21/0032 , G02B21/18 , G02B21/248 , G02B21/367
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29.
公开(公告)号:DE102013226277A1
公开(公告)日:2015-06-18
申请号:DE102013226277
申请日:2013-12-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: FOUQUET WERNHER , KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum tomografischen Untersuchen einer Probe (9), bei dem eine Probe (9) mit einem Beleuchtungslichtbündel (3) beleuchtet wird und bei dem ein Transmissionslichtbündel (10), das das durch die Probe (9) hindurch transmittierte Licht des Beleuchtungslichtbündels (3) beinhaltet, mit einem Transmissionsdetektor (13) detektiert wird. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zum tomografischen Untersuchen einer Probe (9). Es ist vorgesehen, dass das Beleuchtungslichtbündel (3) und das Transmissionslichtbündel (10) mit entgegengesetzten Ausbreitungsrichtungen durch dasselbe Objektiv (7) verlaufen.
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公开(公告)号:GB2512793A
公开(公告)日:2014-10-08
申请号:GB201413557
申请日:2013-01-30
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SIECKMANN FRANK
Abstract: The present invention relates to a microscope having a microscope control unit which has a radio system with a wireless radio interface, wherein the microscope control unit has at least one first radio system (1) for providing at least one first radio characteristic and at least one second radio system (2) for providing at least one second radio characteristic and/or at least one radio system which is set up in such a manner that said system provides at least one first radio characteristic and one second radio characteristic in a predetermined timing cycle.
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