Patent search ap:("ST MICROELECTRONICS GRENOBLE" OR "ST MICROELECTRONICS SRL") AND inv:"PAGANI ALBERTO" Page 3

21.

发明专利
CIRCUITO INTEGRATO INCLUDENTE UN RESISTORE A SEMICONDUTTORI, CIRCUITO DI COMPENSAZIONE RESISTENZA E RELATIVI METODI 未知

公开(公告)号：ITUB20159190A1

公开(公告)日：2017-06-15

申请号：ITUB20159190

申请日：2015-12-15

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO , MOTTA ALESSANDRO

22.

发明专利
SENSORE DI PRESSIONE CON DISPOSITIVO DI TEST E RELATIVI METODI 未知

公开(公告)号：ITUB20154252A1

公开(公告)日：2017-04-09

申请号：ITUB20154252

申请日：2015-10-09

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

23.

发明专利
Integrierte optoelektronische Vorrichtung mit Wellenleiter und Herstellungsverfahren derselben 未知

公开(公告)号：DE112013003336T5

公开(公告)日：2015-04-02

申请号：DE112013003336

申请日：2013-07-02

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO , MOTTA ALESSANDRO , LOI SARA

IPC: G02B6/12 , G02B6/43

Abstract: Eine integrierte optoelektronische Vorrichtung, die von einer ersten Oberfläche (S1) und einer zweiten Oberfläche (S2) begrenzt ist und Folgendes aufweist: einen Körper (2) aus Halbleitermaterial, in dessen Innerem mindestens eine optoelektronische Komponente gebildet ist, die aus einem Detektor (30) und einem Emitter (130) ausgewählt ist; sowie einen optischen Pfad (OP), der zumindest teilweise vom geführten Typ ist und sich zwischen der ersten Oberfläche und der zweiten Oberfläche erstreckt, wobei der optische Pfad den Körper durchläuft. Die optoelektronische Komponente ist durch den optischen Pfad mit einem ersten Bereich eines freien Raums und einem zweiten Bereich eines freien Raums optisch gekoppelt, die über bzw. unter der ersten und der zweiten Oberfläche angeordnet sind.

24.

发明专利
SCHEDA ELETTRICA PIANA CON ALETTE PIEGABILI E SISTEMA DI RILEVAZIONE DELLE COMPONENTI LUNGO TRE ASSI COORDINATI DI FORZE INTERNE IN UN MANUFATTO DI MATERIALE DI COSTRUZIONE 未知

公开(公告)号：ITMI20121591A1

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：ITMI20121591

申请日：2012-09-25

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO , ZIGLIOLI FEDERICO GIOVANNI

25.

发明专利
STRUTTURA A SEMICONDUTTORE CON REGIONI CONDUTTIVE A BASSA TEMPERATURA DI FUSIONE E METODO PER RIPARARE UNA STRUTTURA A SEMICONDUTTORE 未知

公开(公告)号：ITTO20120374A1

公开(公告)日：2013-10-28

申请号：ITTO20120374

申请日：2012-04-27

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO , ZIGLIOLI FEDERICO GIOVANNI

26.

发明专利
SISTEMA PERFEZIONATO DI TEST ELETTRICO DI VIE PASSANTI NEL SILICIO (TSV-THROUGH SILICON VIAS) E RELATIVO PROCEDIMENTO DI FABBRICAZIONE 未知

公开(公告)号：ITTO20120294A1

公开(公告)日：2013-10-04

申请号：ITTO20120294

申请日：2012-04-03

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

27.

发明专利
METODO PER ESEGUIRE UN TESTING ELETTRICO DI DISPOSITIVI ELETTRONICI 未知

公开(公告)号：IT1398937B1

公开(公告)日：2013-03-28

申请号：ITMI20100238

申请日：2010-02-17

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

28.

发明专利
PROCESSO DI FABBRICAZIONE DI CIRCUITI ELETTRONICI INTEGRATI E CIRCUITI COSI OTTENUTI 未知

公开(公告)号：ITMI20100843A1

公开(公告)日：2011-11-13

申请号：ITMI20100843

申请日：2010-05-12

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

29.

发明专利
SISTEMA E METODO PER ESEGUIRE IL TEST ELETTRICO DI VIE PASSANTI NEL SILICIO (TSV - THROUGH SILICON VIAS) 未知

公开(公告)号：ITTO20100109A1

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：ITTO20100109

申请日：2010-02-16

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

30.

发明专利
DISPOSITIVO ELETTRONICO A SEMICONDUTTORI CON MIGLIORATE CARATTERISTICHE DI TESTABILITA' E RELATIVO METODO DI INCAPSULAMENTO 未知

公开(公告)号：ITUA20164724A1

公开(公告)日：2017-12-28

申请号：ITUA20164724

申请日：2016-06-28

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

IPC: H01L23/48 , H01L25/065

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