公开(公告)号：CN1938621A

公开(公告)日：2007-03-28

申请号：CN200580010448.0

申请日：2005-02-02

Applicant: 佐勒技术公司

Inventor： B.·P.·马斯特森 ,  艾利克·C.·休尔森 ,  伊恩·S.·史密斯

IPC: G02B6/26

CPC classification number: G01N21/3504 ,  F23N5/082 ,  G01D5/35345 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/108 ,  G01J3/42 ,  G01J5/0014 ,  G01J5/0018 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/58 ,  G01K11/32 ,  G01N21/39 ,  G02B6/14

Abstract: 一种光模式噪声平均装置(304)，包括：多模光纤(302)和平均装置(308)，用于平均该多模光纤(302)内传播的光模式噪声诱发的信号强度变化。在一个选取的时间段内，通过周期性改变多模光纤(302)的折射率，扰乱多模光纤(302)内的光分布，或二者，平均装置可以平均模式噪声诱发的信号强度变化。通过周期性改变多模光纤(302)的温度，可以周期性改变该多模光纤的折射率。或者，通过周期性操作多模光纤(302)，可以改变折射率或可以扰乱该多模光纤内的光分布。

公开(公告)号：CN1768281A

公开(公告)日：2006-05-03

申请号：CN200480008733.4

申请日：2004-03-31

Applicant: 佐勒技术公司

Inventor： 安德鲁·D.·萨匹 ,  詹姆斯·豪厄尔 ,  亨里克·霍夫范德 ,  B.·P.·马斯特森

IPC: G02B6/00

CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/108 ,  G01J3/1809 ,  G01J5/601 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/423 ,  G01N21/359 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399 ,  G02B6/14

Abstract: 传感设备，包括多于一个具有选择激光频率的二极管激光器、与上述二极管激光器的输出光耦合的复用器而此复用器再光耦合投射侧光纤。复用的激光经此投射侧光纤传至与一可以是燃煤或燃气发电设备的燃烧室或锅炉的处理室有效结合的投射光学件。此投射光学件定向成将复用激光输出投射通过此处理室。此外，由此处理室有效定向的是一与该投射光学件光通信以接收投射通过此处理室的复用激光输出的捕集光学件。此捕集光学件光耦合一将此复用激光输出传给分用器的光纤。此分用器分用上述激光并将所选激光频率的光光耦合到一对此所选激光频率之一敏感的探测器。

公开(公告)号：CN109425296A

公开(公告)日：2019-03-05

申请号：CN201810970279.4

申请日：2018-08-23

Applicant: 株式会社拓普康

Inventor： 田中康司 ,  齐藤贵昭 ,  吉野健一郎 ,  鹿子木满

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01S7/4817 ,  G01J3/108 ,  G01N2201/0697 ,  G01S7/4813 ,  G01S7/497 ,  G01S17/10 ,  G01S17/42 ,  G01S17/89 ,  G01B11/00 ,  G01B11/002

Abstract: 本发明提供能避免挡板的切换动作并能确保相对广的测量范围的三维测量装置。三维测量装置(1)具备：光源部(31)，射出测距光(35)；投光光学部(33)，向测距光轴(32)上照射测距光(35)；扫描镜(7)，在相对于旋转轴(6)的轴心倾斜的状态下设置成以旋转轴(6)为中心能够旋转，在与旋转轴(6)交叉的面内旋转照射测距光(35)；受光光学部(41)，接收反射测距光(37)；参照光光学部(24)，设置在照射范围中测量范围以外的范围中，将在扫描镜(7)反射的测距光(35)作为内部参照光(36)接收并反射，能改变反射的内部参照光(36)的光量；受光元件(42)，接收反射测距光(37)和从参照光光学部(24)引导的内部参照光(36)。

公开(公告)号：CN108012357A

公开(公告)日：2018-05-08

申请号：CN201711017933.1

申请日：2017-10-26

Applicant: 芬兰国家技术研究中心股份公司

Inventor： M·布罗姆博格 ,  H·开特拉斯

IPC: H05B3/84 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/108 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0286 ,  G01J5/024 ,  G01J5/046 ,  G01J5/061 ,  G01J5/522 ,  G01J2005/063 ,  G01N21/35 ,  H01L51/529 ,  H05B3/20 ,  H05B3/84

Abstract: 本公开涉及具有分层结构的红外发射器。分层红外发射器结构仅包括半透明金属层(优选为一个半透明金属层(15))以及在半透明金属层(15)的两侧的一个或多个介电层(11、12、13、14、16、17)。此外，电加热布线(20)被布置在任何介电层(11)中或任何介电层(11)之间，以将半透明金属层(15)加热到所需的红外发射温度，优选为从400℃到1000℃的范围内的温度。

公开(公告)号：CN104769418B

公开(公告)日：2018-04-03

申请号：CN201380043374.5

申请日：2013-06-19

Applicant: 克莱因医学有限公司

Inventor： R·A·辛普金 ,  D·P·克劳塞 ,  B·J·史密斯

IPC: G01N21/62 ,  G01N21/17

CPC classification number: G01J3/108 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/28 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N2201/0691

Abstract: 一种用于识别或验证或以其它方式表征样本的方法和分析仪，所述方法和分析仪包括：使用或具有在样本发射至少一个光束中的电磁辐射的电磁辐射源，所述电磁辐射包括至少两个不同的波长；使用或具有检测因受所述样本影响的发射的电磁辐射导致的受影响电磁辐射并且提供代表检测的受影响辐射的输出的样本检测器；使用或具有用所述输出确定样本系数，并且使用所述样本系数和从训练样本确定的训练系数来识别或验证或以其它方式表征所述样本，其中所述系数降低了对样本保持器变化的敏感度和/或与浓度无关。

公开(公告)号：CN103998919B

公开(公告)日：2017-09-01

申请号：CN201280062584.4

申请日：2012-12-14

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： J·T·拉塞尔

IPC: G01N21/3504 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/108 ,  A61M2016/102 ,  G01J3/0216 ,  G01N21/3504

Abstract: 一种被配置为生成红外电磁辐射的源组件(48)，包括在发射立体角上发射电磁辐射的发射器(60)。所发射的电磁辐射的部分被用于检测。用户电磁辐射的所述部分围绕可用立体角中的光路。在所述可用立体角以外的电磁辐射被反射组件(64)聚焦回到所述发射器上，以提升所述发射器的效率。

公开(公告)号：CN104937386B

公开(公告)日：2017-07-04

申请号：CN201480004750.4

申请日：2014-03-12

Applicant: 松下电器(美国)知识产权公司

Inventor： 手塚忠则 ,  中村刚

IPC: G01J3/50 ,  G01J3/51 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01J3/027 ,  G01J3/108 ,  G01J3/46 ,  G01J3/501 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/466 ,  G01N21/25 ,  G01N21/27 ,  G01N21/3563 ,  G01N2021/1765

Abstract: 一种推断装置，使用红外光被物体反射后的反射光，包括：单一的输入部(201)，包括在红外光的波段具有第一分光灵敏度特性的第一像素、和在红外光的波段具有与第一分光灵敏度特性不同的第二分光灵敏度特性的第二像素；以及推断部(203)，基于反射光的第一像素的输出值即第一输出值、反射光的第二像素的输出值即第二输出值，对物体的颜色或者材料的至少一方进行推断。

公开(公告)号：CN106461462A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580026419.7

申请日：2015-03-20

Applicant: 海佩尔梅德影像有限公司

Inventor： M·A·达尔蒂 ,  D·喻多夫斯基 ,  M·蒂勒曼 ,  P·梅嫩

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/04

CPC classification number: H04N5/332 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0283 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/10 ,  G01J3/108 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/106 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/2826 ,  G06T2207/10016 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/2256 ,  H04N5/2354

Abstract: 本发明提供了用于在多个波长下同时成像的方法和系统。在一方面，一种高光谱/多光谱成像设备包括：透镜，所述透镜被配置成接收通过物体背向散射的光；多个光敏传感器；多个带通滤波器，所述多个带通滤波器覆盖相应光敏传感器，其中每个带通滤波器被配置成允许不同相应谱带从所述滤波器中穿过；以及多个分束器，所述多个分束器与所述透镜和所述光敏传感器光学通信，其中每个分束器将所述透镜接收的光分成多个光学路径，每个路径被配置成通过对应于相应光敏传感器的所述带通滤波器将光导向对应光敏传感器。

公开(公告)号：CN104181126B

公开(公告)日：2017-01-18

申请号：CN201410225603.1

申请日：2014-05-26

Applicant: 西门子公司

Inventor： 丹尼尔·德彭霍伊尔

IPC: G01N21/39 ,  G01J3/42 ,  G01J3/26

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/10 ,  G01J3/108 ,  G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N21/39 ,  G01N21/85

Abstract: 本发明涉及一种激光光谱仪和用于运行激光光谱仪的方法，在激光光谱仪中将可以调谐波长的半导体激光器的光穿过包括需要测量的气体成分的混合气体和标准器结构引导到探测器上。为了在调谐范围内通过气体成分的特定的吸收谱线调谐半导体激光器的波长，半导体激光器的注入电流周期性地按照预定的电流-时间-函数变化。同时利用频率并且交替地利用匹配于吸收谱线的半值宽度的第一振幅和匹配于标准器结构的光谱宽度的第二振幅调制注入电流和进而波长。由探测到的光强度分析二次谐波，其中在利用第一振幅调制时测量吸收谱线，并在利用第二振幅调制时根据标准器结构的透射光谱使半导体激光器的波长稳定。

公开(公告)号：CN103180715A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201180049145.5

申请日：2011-08-26

Applicant: 波音公司

Inventor： P·G·瓦伊 ,  G·J·沃纳 ,  P·H·谢莉

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/35 ,  G01N21/93 ,  G01N21/94 ,  G01B11/06 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01N21/3563 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/108 ,  G01N21/274 ,  G01N21/39 ,  G01N21/474 ,  G01N21/93 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/8427 ,  G01N2021/8472 ,  G01N2201/022 ,  G01N2201/129

Abstract: 表面化学测量装置(1)，其包括处理器；可调的红外激光光谱仪阵列，其与处理器接口连接并且配置为使用红外波长范围同时测量整个被测量表面(25)的表面化学；和显示器(8)，其与处理器接口连接并且适合显示从被测量的表面(25)反射的红外波长的IR光谱。