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公开(公告)号:CN1886089B
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN200480034576.4
申请日:2004-09-23
Applicant: 剑桥研究和仪器设备股份有限公司
Inventor: 理查德·M·利文森 , 保罗·J·克罗宁 , 柯克·W·戈西奇 , 克利福德·C·霍伊特
IPC: A61B5/00
CPC classification number: G01N33/4833 , A61B5/0059 , B82Y5/00 , B82Y10/00 , G01J3/32 , G01J3/4406 , G01J3/453 , G01N21/255 , G01N21/6486 , G01N2201/062 , G01N2201/125
Abstract: 本发明特征在于一种方法,包括:(i)提供关于从包括深部组织的样品的不同空间位置响应于对样品的照明来的光线的光谱解析信息,其中该光线包括来自样品中的不同成分的贡献;(ii)对至少一些不同空间位置上的每一个分解该光谱解析信息为来自与至少样品中的一些成分有关的贡献;及(iii)基于该分解构建样品的深部组织的图象以优先示出一选定成分。
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公开(公告)号:CN101087989B
公开(公告)日:2011-06-08
申请号:CN200580039773.X
申请日:2005-10-17
Applicant: 摩根研究股份有限公司
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B11/18 , G01B11/161 , G01B11/168 , G01J3/453 , G01J4/00 , G01M11/085
Abstract: 本发明提供了通过快速且简单的测量来确定经历可能导致降低结构寿命、强度或可靠性的损害的结构上的位置的能力。传感元件是偏振维持(“PM”)光纤的连接部分,其中PM光纤的长度表示完全分布的传感器阵列。应力引起的传感器的变化通过白光偏振干涉测量法来测量。测量的输出是表示沿传感器的长度的位置的阵列处的应力集中大小的数组。在一种应用中,已知结构上的光纤位置加上沿光纤长度的应力位置的测量允许用户确定结构上具有大的应力集中的位置。这些位置可表示结构损坏。该知识允许用户采用更加复杂的系统,尽管较大且较慢,以充分地表征和评价可能的损坏区域并采取适当的行动。
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公开(公告)号:CN1541330A
公开(公告)日:2004-10-27
申请号:CN02815787.7
申请日:2002-06-17
Applicant: 维塔里·阿克纳适夫
Inventor: 阿列克塞·阿克纳适夫 , 巴维尔·阿克纳适夫 , 阿列克塞·波亚巴琴克夫
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/2803 , G01J3/453
Abstract: 本发明方法的特征在于系统通过把所述系统的图像投射到包含光电元件的周期系统上,使驻光波的干涉条纹以空间信号形式记录。从光电元件接收的电信号用周期系统中所述光电元件的位置关系进行记录,并进行分析。本发明光谱测量方法在包括以下光学共轭元件的干涉仪中实现:辐射光源、反射镜、一个或两个薄的部分透射光敏感层、具有光电管的周期系统、一个光谱分析仪和任意的一个分光器。本发明的光谱测量方法和实现所述方法的干涉仪能够在宽光谱范围内使波长测量的精度增加2-5倍。
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公开(公告)号:CN1444726A
公开(公告)日:2003-09-24
申请号:CN01813602.8
申请日:2001-05-17
Applicant: 生命扫描有限公司
CPC classification number: A61B5/1455 , A61B5/14532 , G01J3/453 , G01J3/4535 , G01N21/35 , G01N2021/3595
Abstract: 提出了用于测定低透射率样品中至少一种分析物的存在和/或浓度的方法和设备。在这些方法中,由至少一个红外辐射源产生前向束和后向束或将其引入到干涉仪中。前向束通过样品、然后被收集、产生样品束,而后向束通过参照物、然后被收集、产生参照束。样品束和参照束或者光学重新组合成为零束、由单一检测器检测,或者通过两个单独的检测器检测后用电子方法归零。然后从检测到的零束推导出至少一种分析物的存在、更经常是推导出其浓度。还提出了实现上述方法的设备。本方法和设备适用于各种不同的应用,包括检测生理样品(如血液、组织及其衍生物)中一种或多种分析物的存在和数量。
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公开(公告)号:CN1105956C
公开(公告)日:2003-04-16
申请号:CN97181653.0
申请日:1997-12-31
Applicant: 埃克森美孚化学专利公司
IPC: G05D21/02
CPC classification number: G05D21/02 , C08F210/12 , C08F2400/02 , G01J3/28 , G01J3/453 , G01N21/3563 , G01N21/359 , G01N21/84 , G01N2021/3595 , G01N2021/8411 , G01N2201/129 , C08F2/00 , C08F236/08
Abstract: 一个对控制产品性能的工艺参数实施在线监控和控制的、生产卤代丁基橡胶的加工车间。该车间装有一个不需从工艺流程中提取任何试样物质的现场测量系统。该系统采用了一台傅立叶变换近红外(FTNIR)光谱仪,纤维光缆、一个测量溶液粘度的粘度计以及一台测定温度的电阻温度计(RTD)。采用一种受约束主光谱分析(ConstrainedPrincipal Spectral Analysis)程序的在线实时分析仪系统能预测聚合物产品的性能,并向工艺控制系统提供利用聚合物物理性能与这些光谱测量数据及流体粘度与温度测量值之间相互关系的数据分析。以产品的预测性能与要求性能之间的差值作为控制工艺参数。本方法可用于各种不同的化学加工车间。
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公开(公告)号:CN107850491A
公开(公告)日:2018-03-27
申请号:CN201580081466.1
申请日:2015-07-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01B9/02049 , G01B9/02 , G01B9/02027 , G01J3/45 , G01J3/453
Abstract: 光学干涉仪(1A)具备分支合波部(10)、第一光学系统(20)、第二光学系统(30)以及驱动部(40),可以由MEMS构成。分支合波部(10)在透明构件的内部与外部之间的边界上具有分支面(11)、入射面(12)、出射面(13)以及合波面(14)。分支合波部(10)在分支面(11)上使入射光(L0)的一部分反射并作为第一分支光(L11)出射并且将剩余部分作为第二分支光(L21)向内部透过。分支合波部(10)在合波面(14)上使第一分支光(L12)向外部出射并且使第二分支光(L22)反射,对两个光进行合波并作为合波光(L3)向外部出射。由此,实现了能够减小从分支到合波的期间的光损失并且能够改善干涉效率的MEMS所构成的光学干涉仪。
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公开(公告)号:CN103201604B
公开(公告)日:2016-10-05
申请号:CN201180054257.X
申请日:2011-11-07
Applicant: 热电科学仪器有限责任公司
Inventor: J.M.科芬
CPC classification number: G01J3/453 , G01B9/02068
Abstract: 在此提出一种新型装置,该装置在干涉仪内引入一种混合挠曲安装的动镜部件。特别地,提供与具有该移动光学部件的新型倾斜和速度控制的一种新型挠曲安装组合的一种线性轴承。这样一种安排能够校正镜自身的误差,同时也解决了由在许多常规干涉仪中使用的轴承表面的缺陷造成的、隔离振动和噪音的问题。使用本发明的这样一种偶联的挠曲安装,除了以上的益处还增强了速度控制,这是因为该动镜组件的所产生的低质量使在此披露的系统能够比常规的镜速度控制干涉仪器具更快地响应,并且具有较低的速度误差以便提供来自该分析器具的一个更稳定并且更低噪音的频谱。
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公开(公告)号:CN103256983B
公开(公告)日:2016-02-03
申请号:CN201310044123.0
申请日:2013-01-25
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种光学装置。在CARS显微镜光学装置中不使向生体物质等观察物体的照射光量增加就能够实现高分辨率和信号噪声比的提高。使来自观察物体(202)的CARS光与超连续谱光的一部分且波长为ωAS=2ωP-ωST的参照光干涉,通过从干涉光取出信号来使信号放大。
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公开(公告)号:CN102246016B
公开(公告)日:2015-09-23
申请号:CN200980136475.0
申请日:2009-07-20
IPC: G01J3/453
CPC classification number: G01J3/453
Abstract: 本发明涉及一种傅里叶变换光谱仪(1),包括:相干光源(2);干涉仪(4),被设置为将所述相干光源分为两部分或更多部分,以通过频率或相位诱发效应在这两部分或更多部分之间产生干涉;检测装置(5),被设置为检测所述干涉,其中所述相干光源包括具有频率重复率的频率梳发生器(2),并且所述检测装置被设置为检测频率梳的以所述频率重复率或所述频率重复率的倍数分开的频率对的差拍。
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