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公开(公告)号：CN1293387C
公开(公告)日：2007-01-03
申请号：CN01115884.0
申请日：2001-05-11
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特
Abstract: 用作多逻辑测试仪的单一半导体测试系统，每一个彼此独立和异步地运行，该系统包括主机计算机，通过执行测试程序控制一个半导体测试系统的整个运行；多个管脚单元，每个单元具有用于产生给待测量半导体装置的分配管脚的测试模式以及评估所得的待测量装置响应的装置；管脚单元总线，设置在所述的主机计算机与该多个管脚单元之间，用于传送地址、数据、控制信号和时钟；以及装置，用于当所述的主机计算机把一组选择地址放置在所述管脚单元总线上时配置对应于待测量装置的输入或输出管脚的管脚单元。
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公开(公告)号：CN1243252C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01115425.X
申请日：2001-04-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: G01R31/319 , G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31921 , G01R31/31922
Abstract: 一种测试被测半导体器件(DUT)的基于事件的测试系统，该基于事件的测试系统可自由地构成多组引脚单元，其中每一组都能独立于其它组而执行测试操作。在每一单元组中，测试的起始和结束时序都通过产生多重测试结束信号来单独确定。该基于事件的测试系统包括：多个分配到DUT引脚的引脚单元；用于产生测试结束信号的信号发生器，该信号指示由对应引脚单元执行的当前测试已结束，其中测试结束信号是为每一引脚单元单独产生的，与其它引脚单元无关；及一个系统控制器，它通过与每一引脚单元的事件控制器相联，并将包括事件时序数据在内的测试程序提供给每一引脚单元的事件存储器，以控制该基于事件的测试系统的整体运行。每一引脚单元的测试结束信号根据该系统控制器规定的条件来选择，所选择的测试结束信号被提供给系统控制器和其它引脚单元。
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公开(公告)号：CN1231767C
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN01804078.0
申请日：2001-12-04
IPC: G01R31/28 , G01R31/3183 , G01R31/319
CPC classification number: G01R31/318547 , G01R31/31917 , G01R31/31922 , G01R31/31924
Abstract: 一基于事件的测试系统，能生成用于测试扫描设计的半导体设备的扫描矢量而不要求大容量的扫描存储器。该测试系统包括一事件存储器，用于存储各个事件的定时数据和事件类型数据，其中定时数据是由用于定义一测试矢量的许多(log2N)数据位来表示的、一事件生成器，用于使用事件存储器中的时间数据和事件类型数据生成事件，以及提供在事件存储器和事件生成器之间的模式改变电路，用于改变在用于生成测试矢量的标准模式与扫描模式之间的信号通道，所述扫描模式通过当事件存储器中的事件类型数据表示一预定字时检测该扫描模式生成扫描矢量。在该测试系统中，许多(log2N)数据位的每一位定义2N个扫描矢量，以及2N个数据位以串行方式提供给事件生成器，由此在事件存储器的每个入口产生2N个扫描矢量。
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公开(公告)号：CN1210571C
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN01109772.8
申请日：2001-04-12
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G11C29/56 , G01R31/3191 , G01R31/31937
Abstract: 一种基于事件的半导体测试系统，包括：多个插接板，每个插接板有多个插接单元；非易失性存储器，设置在每个插接板内，用来存储插接板上所有插接单元的有关误差因素的校准数据；以及微处理器，设置在每个插接板内，用于管理所有插接单元的校准数据以及执行校准过程；其中，每个插接单元均被配置成一个基于事件的测试器。这种测试系统能够对所有插接板的校准数据实现效费比高、无差错、简单可靠的管理。
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公开(公告)号：CN1157607C
公开(公告)日：2004-07-14
申请号：CN00803374.9
申请日：2000-02-07
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括：一个信号源(112)，用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子；多个测试端口(P1-Pn)，用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口；多个测量单元(MU1-MUn)，用于测量来自相应测试端口的信号；一个参考信号测量单元(R)，用于测量测试信号，以获得参考数据；多个终端电阻(TR1-TRn)，每个被分配给一个测试端口；和开关装置(SW1-SWn)，用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一，将终端电阻从输入测试端口断开，同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口；其中获得多端口DUT的参数，而不改变测试端口和DUT端子之间的连接，同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1486429A
公开(公告)日：2004-03-31
申请号：CN01804078.0
申请日：2001-12-04
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/318547 , G01R31/31917 , G01R31/31922 , G01R31/31924
Abstract: 一基于事件的测试系统，能生成用于测试扫描设计的半导体设备的扫描矢量而不要求大容量的扫描存储器。该测试系统包括一事件存储器，用于存储各个事件的定时数据和事件类型数据，其中定时数据是由用于定义一测试矢量的许多(log2N)数据位来表示的、一事件生成器，用于使用事件存储器中的时间数据和事件类型数据生成事件，以及提供在事件存储器和事件生成器之间的模式改变电路，用于改变在用于生成测试矢量的标准模式与扫描模式之间的信号通道，所述扫描模式通过当事件存储器中的事件类型数据表示一预定字时检测该扫描模式生成扫描矢量。在该测试系统中，许多(log2N)数据位的每一位定义2N个扫描矢量，以及2N个数据位以串行方式提供给事件生成器，由此在事件存储器的每个入口产生2N个扫描矢量。
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公开(公告)号：CN1462370A
公开(公告)日：2003-12-17
申请号：CN02801357.3
申请日：2002-04-19
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 利昂·李·申 , 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31922
Abstract: 一种半导体测试系统，可以使用通用操作系统产生时间临界顺序，包括一个用于将电源和测试图提供给被测器件的测试仪硬件，一个由通用操作系统操纵的主机计算机，一个用于根据一个测试程序计算配置数据和定时数据的配置软件，一个用于给测试硬件提供电源触发器和信号触发器的的装置驱动器，以及一个用于产生中断信号的硬件定时器。装置驱动器启动测试图并在接收到中断信号时去激活电源。
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公开(公告)号：CN1113032C
公开(公告)日：2003-07-02
申请号：CN97117067.3
申请日：1997-10-16
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 菅野幸男
IPC: B65G47/91
CPC classification number: B65G47/91 , H05K13/0409 , Y10S294/907
Abstract: 以高稳定性高速度而不引起滞咬现象进行拾取和配置操作的拾取、转移和配置对象的拾取和配置设备。此设备有一负压源，并包括检测由施加该负压源产生的负压来拾取对象过程中的吸取条件的第一压力检测器，检测由释放该负压来将对象放到预定位置上过程中的吸取释放条件的第二压力检测器，和在由第一压力检测器接收到吸取检测信号或由第二压力检测器接收到吸取释放检测信号后控制拾取和配置设备的整个运行以前进到下一过程的控制器。
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公开(公告)号：CN1397804A
公开(公告)日：2003-02-19
申请号：CN01120317.X
申请日：2001-07-18
Abstract: 一种用于与设置在被测基板上的接触目标建立电连接的接触结构，具有一种以球形接触器作为接触点的TAB(带自动连接)形式。该接触结构包括多个由通过介电层而置于接地层上的导线构成的接触器，其中每一导线具有一种平板形状，以形成一个与所述介电层和接地层结合、用于建立预定特性阻抗的微带线，并在每一导线的端部设置一个由一种硬导电材料制成的接触凸块；以及用于在其上固定所述多个接触器，并使通信路径从所述导线端部延伸到该接触结构外部的一个部件的支撑基板。当接触结构头压住被测基板时，接触器弯曲，相对于固定有接触目标的被测基板表面倾斜，使得接触器的弯曲部分以位于导线端部的接触凸块实现摩擦效果这样的方式产生一个触点压力。
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公开(公告)号：CN1372355A
公开(公告)日：2002-10-02
申请号：CN01116842.0
申请日：2001-02-19
Applicant: 株式会社鼎新
Abstract: 一种用于和接触目标建立电连接的接触结构,具有改善的接触性能,包括频率带宽、接触节距、可靠性和成本。接触结构由多个设置在接触衬底上的指状触点组成,每个触点包括一个有斜面支撑部分的硅基底,一个在硅基底上形成并从斜面支撑凸出的绝缘层,和一个由导电材料在绝缘层上形成的导电层,以便由绝缘层和导电层产生一柱部分,其中当柱部分的顶端压向接触目标时,该柱部分显示一个在其横向上的弹性力以建立一个接触力。一个粘接剂被用于将触点粘接到接触衬底的表面。
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