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公开(公告)号：CN1334466A
公开(公告)日：2002-02-06
申请号：CN01115729.1
申请日：2001-05-31
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G01R31/31915
Abstract: 一种具有模块化结构的基于事件的测试系统,用于同时测试多个半导体器件,包括存储器和逻辑器件。该基于事件的测试系统检测被测存储器中的功能故障及物理故障。该基于事件的测试系统包括两个或多个测试器模块,每一模块具有多个引脚单元;一个用于容纳两个或多个测试器模块的主机;一个用于电连接测试器模块和被测器件的测试固定装置;一个用于控制该测试系统的整体运行的主计算机;及一个用于存储算法测试模式库与用于产生存储器测试模式的软件工具的数据存储器,该测试模式用于测试嵌入被测器件中的存储器或独立存储器。每一个测试器模块相互独立地工作。在测试存储器前,通过主计算机指定存储器测试算法和被测存储器的相关信息。
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公开(公告)号：CN1320823A
公开(公告)日：2001-11-07
申请号：CN01110512.7
申请日：2001-04-05
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31935 , G11C29/56
Abstract: 一种半导体测试系统,包括:模式存储器;评估DUT输出信号的装置;数据失效存储器;和压缩装置,用于在第一次测试操作中将模式存储器的多个地址分配给数据失效存储器的一个地址,以便将每组多个地址发生的失效数据以预定的压缩比存储在数据失效存储器的相应地址中,并用于仅对检测到失效数据的一组模式存储器的多个地址执行第二次测试操作,第二次测试操作时没有地址压缩。因此,使失效数据能够存储在小存储容量的数据失效存储器中。
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公开(公告)号：CN1320621C
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN01109722.1
申请日：2001-03-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 格伦·A·戈梅斯 , 安东尼·勒 , 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/31922 , G01R31/31921
Abstract: 在基于事件的测试系统中通过产生不同定时的事件对被测电子器件进行测试的装置和方法，该装置包括一个用于储存每个事件的定时数据和事件类型数据的事件存储器，其中，当前事件的定时数据是用延迟时间来表示的，在特定事件的定时数据中插入一个延迟时间，当前事件的总延迟时间比由事件存储器中的特定数目的数据位可以表示的要长；附加延迟时间是通过重复恰好在特定事件之前的事件的定时数据和事件类型数据而插入的，或者是通过在事件存储器中加入NOP事件而插入的。
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公开(公告)号：CN1462475A
公开(公告)日：2003-12-17
申请号：CN02801611.4
申请日：2002-05-10
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 罗基特·拉尤斯曼
CPC classification number: G01R31/31704 , G01R31/31705 , G01R31/31724 , G01R31/3185 , G01R31/318508 , G01R31/318552 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种用高准确性和可观察性调试在基于核的系统集成芯片(SoC)Ic中个别核的方法，以及实现该方法的SoC的结构。该方法包括构造用于SoC的每个核的垫框的两个或更多金属层同时将在下面金属层上的I/O(输入和输出)垫连接到上面金属层，从而在每个核的垫框的上面金属层的表面上曝露所有I/O垫和电源垫以及通过在核的上面金属层上的I/O垫将测试矢量应用到每个核并评估通过上面金属层上的I/O垫接收的响应输出。
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公开(公告)号：CN1384366A
公开(公告)日：2002-12-11
申请号：CN01115701.1
申请日：2001-04-29
Applicant: 株式会社鼎新
Abstract: 一种测试半导体器件的系统,特别是一种设有多个不同类型的测试器模块的半导体测试系统,用这些模块可以容易地建立不同的半导体测试系统。该半导体测试系统包括两个或多个性能相互不同的测试器模块;一个测试头,用于容纳该两个或多个性能不同的测试器模块;设置在该测试头上并用于电连接测试器模块与被测器件的装置;及一主计算机,它通过测试器总线与测试器模块联接,以控制该测试系统的整体运行。测试器模块的一种性能类型是高速高时序精度,而另一种性能类型是低速低时序精度。每一事件测试器模块包括一测试器板,其配置为一基于事件的测试器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1303668C
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN01136071.2
申请日：2001-09-29
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G01R31/318314 , G06F11/261 , G06F17/5022
Abstract: 本发明提供了一种利用电子设计自动化(EDA)工具和设计测试站的组合体、高速和低成本地验证复合集成电路的设计的方法。EDA工具和器件模拟器与基于事件的测试系统连接，以便执行原始设计模拟向量和测试台并对测试台和基于事件的测试向量进行修改，一直到得到满意的结果为止。由于EDA工具与基于事件的测试系统连接，因此这些修改被捕获，从而产生提供满意结果的最终测试台。
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公开(公告)号：CN1243250C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01110512.7
申请日：2001-04-05
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31935 , G11C29/56
Abstract: 一种半导体测试系统，包括：模式存储器；评估DUT输出信号的装置；数据失效存储器；和压缩装置，用于在第一次测试操作中将模式存储器的多个地址分配给数据失效存储器的一个地址，以便将每组多个地址发生的失效数据以预定的压缩比存储在数据失效存储器的相应地址中，并用于仅对检测到失效数据的一组模式存储器的多个地址执行第二次测试操作，第二次测试操作时没有地址压缩。因此，使失效数据能够存储在小存储容量的数据失效存储器中。
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公开(公告)号：CN1330273A
公开(公告)日：2002-01-09
申请号：CN01115425.X
申请日：2001-04-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31921 , G01R31/31922
Abstract: 一种测试被测半导体器件(DUT)的基于事件的测试系统,该基于事件的测试系统可自由地构成多组引脚单元,其中每一组都能独立于其它组而执行测试操作。在每一单元组中,测试的起始和结束时序都通过产生多重测试结束信号来单独确定。该基于事件的测试系统包括:多个分配到DUT引脚的引脚单元;用于产生测试结束信号的信号发生器,该信号指示由对应引脚单元执行的当前测试已结束,其中测试结束信号是为每一引脚单元单独产生的,与其它引脚单元无关;及一个系统控制器,它通过与每一引脚单元的事件控制器相联,并将包括事件时序数据在内的测试程序提供给每一引脚单元的事件存储器,以控制该基于事件的测试系统的整体运行。每一引脚单元的测试结束信号根据该系统控制器规定的条件来选择,所选择的测试结束信号被提供给系统控制器和其它引脚单元。
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公开(公告)号：CN1243252C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01115425.X
申请日：2001-04-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: G01R31/319 , G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31921 , G01R31/31922
Abstract: 一种测试被测半导体器件(DUT)的基于事件的测试系统，该基于事件的测试系统可自由地构成多组引脚单元，其中每一组都能独立于其它组而执行测试操作。在每一单元组中，测试的起始和结束时序都通过产生多重测试结束信号来单独确定。该基于事件的测试系统包括：多个分配到DUT引脚的引脚单元；用于产生测试结束信号的信号发生器，该信号指示由对应引脚单元执行的当前测试已结束，其中测试结束信号是为每一引脚单元单独产生的，与其它引脚单元无关；及一个系统控制器，它通过与每一引脚单元的事件控制器相联，并将包括事件时序数据在内的测试程序提供给每一引脚单元的事件存储器，以控制该基于事件的测试系统的整体运行。每一引脚单元的测试结束信号根据该系统控制器规定的条件来选择，所选择的测试结束信号被提供给系统控制器和其它引脚单元。
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公开(公告)号：CN1210571C
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN01109772.8
申请日：2001-04-12
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G11C29/56 , G01R31/3191 , G01R31/31937
Abstract: 一种基于事件的半导体测试系统，包括：多个插接板，每个插接板有多个插接单元；非易失性存储器，设置在每个插接板内，用来存储插接板上所有插接单元的有关误差因素的校准数据；以及微处理器，设置在每个插接板内，用于管理所有插接单元的校准数据以及执行校准过程；其中，每个插接单元均被配置成一个基于事件的测试器。这种测试系统能够对所有插接板的校准数据实现效费比高、无差错、简单可靠的管理。
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