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公开(公告)号：CN1320621C
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN01109722.1
申请日：2001-03-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 格伦·A·戈梅斯 , 安东尼·勒 , 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/31922 , G01R31/31921
Abstract: 在基于事件的测试系统中通过产生不同定时的事件对被测电子器件进行测试的装置和方法，该装置包括一个用于储存每个事件的定时数据和事件类型数据的事件存储器，其中，当前事件的定时数据是用延迟时间来表示的，在特定事件的定时数据中插入一个延迟时间，当前事件的总延迟时间比由事件存储器中的特定数目的数据位可以表示的要长；附加延迟时间是通过重复恰好在特定事件之前的事件的定时数据和事件类型数据而插入的，或者是通过在事件存储器中加入NOP事件而插入的。
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公开(公告)号：CN1316772A
公开(公告)日：2001-10-10
申请号：CN01109722.1
申请日：2001-03-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 格伦·A·戈梅斯 , 安东尼·勒 , 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
CPC classification number: G01R31/31922 , G01R31/31921
Abstract: 在基于事件的测试系统中通过产生不同定时的事件对被测电子器件进行测试的装置和方法，该装置包括一个用于储存每个事件的定时数据和事件类型数据的事件存储器，其中，当前事件的定时数据是用延迟时间来表示的，在特定事件的定时数据中插入一个延迟时间，当前事件的总延迟时间比由事件存储器中的特定数目的数据位可以表示的要长；附加延迟时间是通过重复恰好在特定事件之前的事件的定时数据和事件类型数据而插入的，或者是通过在事件存储器中加入NOP事件而插入的。
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公开(公告)号：CN1243250C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01110512.7
申请日：2001-04-05
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31935 , G11C29/56
Abstract: 一种半导体测试系统，包括：模式存储器；评估DUT输出信号的装置；数据失效存储器；和压缩装置，用于在第一次测试操作中将模式存储器的多个地址分配给数据失效存储器的一个地址，以便将每组多个地址发生的失效数据以预定的压缩比存储在数据失效存储器的相应地址中，并用于仅对检测到失效数据的一组模式存储器的多个地址执行第二次测试操作，第二次测试操作时没有地址压缩。因此，使失效数据能够存储在小存储容量的数据失效存储器中。
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公开(公告)号：CN1330273A
公开(公告)日：2002-01-09
申请号：CN01115425.X
申请日：2001-04-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31921 , G01R31/31922
Abstract: 一种测试被测半导体器件(DUT)的基于事件的测试系统,该基于事件的测试系统可自由地构成多组引脚单元,其中每一组都能独立于其它组而执行测试操作。在每一单元组中,测试的起始和结束时序都通过产生多重测试结束信号来单独确定。该基于事件的测试系统包括:多个分配到DUT引脚的引脚单元;用于产生测试结束信号的信号发生器,该信号指示由对应引脚单元执行的当前测试已结束,其中测试结束信号是为每一引脚单元单独产生的,与其它引脚单元无关;及一个系统控制器,它通过与每一引脚单元的事件控制器相联,并将包括事件时序数据在内的测试程序提供给每一引脚单元的事件存储器,以控制该基于事件的测试系统的整体运行。每一引脚单元的测试结束信号根据该系统控制器规定的条件来选择,所选择的测试结束信号被提供给系统控制器和其它引脚单元。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1320823A
公开(公告)日：2001-11-07
申请号：CN01110512.7
申请日：2001-04-05
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31935 , G11C29/56
Abstract: 一种半导体测试系统,包括:模式存储器;评估DUT输出信号的装置;数据失效存储器;和压缩装置,用于在第一次测试操作中将模式存储器的多个地址分配给数据失效存储器的一个地址,以便将每组多个地址发生的失效数据以预定的压缩比存储在数据失效存储器的相应地址中,并用于仅对检测到失效数据的一组模式存储器的多个地址执行第二次测试操作,第二次测试操作时没有地址压缩。因此,使失效数据能够存储在小存储容量的数据失效存储器中。
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公开(公告)号：CN1243252C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01115425.X
申请日：2001-04-23
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 罗基特·拉尤斯曼 , 菅森茂
IPC: G01R31/319 , G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31921 , G01R31/31922
Abstract: 一种测试被测半导体器件(DUT)的基于事件的测试系统，该基于事件的测试系统可自由地构成多组引脚单元，其中每一组都能独立于其它组而执行测试操作。在每一单元组中，测试的起始和结束时序都通过产生多重测试结束信号来单独确定。该基于事件的测试系统包括：多个分配到DUT引脚的引脚单元；用于产生测试结束信号的信号发生器，该信号指示由对应引脚单元执行的当前测试已结束，其中测试结束信号是为每一引脚单元单独产生的，与其它引脚单元无关；及一个系统控制器，它通过与每一引脚单元的事件控制器相联，并将包括事件时序数据在内的测试程序提供给每一引脚单元的事件存储器，以控制该基于事件的测试系统的整体运行。每一引脚单元的测试结束信号根据该系统控制器规定的条件来选择，所选择的测试结束信号被提供给系统控制器和其它引脚单元。
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公开(公告)号：CN1231767C
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN01804078.0
申请日：2001-12-04
IPC: G01R31/28 , G01R31/3183 , G01R31/319
CPC classification number: G01R31/318547 , G01R31/31917 , G01R31/31922 , G01R31/31924
Abstract: 一基于事件的测试系统，能生成用于测试扫描设计的半导体设备的扫描矢量而不要求大容量的扫描存储器。该测试系统包括一事件存储器，用于存储各个事件的定时数据和事件类型数据，其中定时数据是由用于定义一测试矢量的许多(log2N)数据位来表示的、一事件生成器，用于使用事件存储器中的时间数据和事件类型数据生成事件，以及提供在事件存储器和事件生成器之间的模式改变电路，用于改变在用于生成测试矢量的标准模式与扫描模式之间的信号通道，所述扫描模式通过当事件存储器中的事件类型数据表示一预定字时检测该扫描模式生成扫描矢量。在该测试系统中，许多(log2N)数据位的每一位定义2N个扫描矢量，以及2N个数据位以串行方式提供给事件生成器，由此在事件存储器的每个入口产生2N个扫描矢量。
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公开(公告)号：CN1486429A
公开(公告)日：2004-03-31
申请号：CN01804078.0
申请日：2001-12-04
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/318547 , G01R31/31917 , G01R31/31922 , G01R31/31924
Abstract: 一基于事件的测试系统，能生成用于测试扫描设计的半导体设备的扫描矢量而不要求大容量的扫描存储器。该测试系统包括一事件存储器，用于存储各个事件的定时数据和事件类型数据，其中定时数据是由用于定义一测试矢量的许多(log2N)数据位来表示的、一事件生成器，用于使用事件存储器中的时间数据和事件类型数据生成事件，以及提供在事件存储器和事件生成器之间的模式改变电路，用于改变在用于生成测试矢量的标准模式与扫描模式之间的信号通道，所述扫描模式通过当事件存储器中的事件类型数据表示一预定字时检测该扫描模式生成扫描矢量。在该测试系统中，许多(log2N)数据位的每一位定义2N个扫描矢量，以及2N个数据位以串行方式提供给事件生成器，由此在事件存储器的每个入口产生2N个扫描矢量。
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公开(公告)号：CN1321891A
公开(公告)日：2001-11-14
申请号：CN01109570.9
申请日：2001-04-13
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 菅森茂
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31922
Abstract: 半导体测试系统,检测并评估被测器件,包括:事件存储器,存贮事件的定时数据;事件发生器,产生测试模式、选通信号和期望模式;引线电子设备,设置在发生器和DUT之间,从事件发生器发送测试模式到DUT,并接收DUT的输出信号,及对输出信号取样;模式比较器,比较引线电子设备的取样输出数据与期望模式,失配时产生故障信号;故障检测单元,接收DUT的输出信号,统计输出信号中的边缘数并与边缘的期望值比较测定在输出信号中的故障。
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