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公开(公告)号：KR1020140012341A
公开(公告)日：2014-02-03
申请号：KR1020120078932
申请日：2012-07-19
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01N21/8806 , G01B11/30 , G01N21/8901 , G01N21/958 , G01N2021/9513
Abstract: The present invention discloses an automatic optical inspection device having improved testing power and securing inspection capabilities by emitting different lights to overlapping image frames during an inspection. The automatic optical inspection device according to the present invention comprises: a stage on which an inspection target is mounted; a photographing unit for photographing the inspection target on the stage; a lighting unit for emitting lights to the inspection target; and a moving unit for linearly moving the stage or the photographing unit to change the relative position of the inspection target to the photographing unit. The moving speed of the moving unit is determined to partially overlap an n^th image and an (n+1)^th image photographed in the photographing unit.
Abstract translation: 本发明公开了一种自动光学检测装置，其具有改进的测试功率，并且通过在检查期间将不同的光发射到重叠的图像帧来确保检查能力。 根据本发明的自动光学检查装置包括：安装有检查对象的阶段; 拍摄单元，用于拍摄舞台上的检查对象; 照明单元，用于向检查目标发射光; 以及移动单元，用于线性移动舞台或拍摄单元，以将检查对象的相对位置改变为拍摄单元。 确定移动单元的移动速度部分地重叠在拍摄单元中拍摄的第n个图像和第（n + 1）个图像。
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公开(公告)号：KR101230396B1
公开(公告)日：2013-02-15
申请号：KR1020100087161
申请日：2010-09-06
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본 발명은 카메라로 2차원 영상 및 3차원 모아레 영상을 획득하고, 사이드 카메라를 이용하여 단차를 갖는 LED칩의 들뜸, 경사짐의 유무, 커넥터의 솔더링 상태 등을 동시에 점검할 수 있도록 하는 LED어레이 검사장치에 관한 것으로, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 LED어레이가 장착되는 카세트와, 상기 카세트를 수평방향과 수직방향으로 이송시키는 카세트 구동드라이버와, 상기 LED어레이의 이상여부를 판단하기 위한 상기 LED어레이의 영상을 획득하는 영상획득모듈과, 상기 영상획득모듈을 전후좌우로 이송시키는 영상획득모듈 구동드라이버와, 상기 영상획득모듈로부터 전송되는 영상을 해석하여 LED어레이를 검사하는 영상처리수단으로 이루어진 LED어레이 검사장치에 있어서, 상기 영상획득모듈은 상기 LED어레이의 영상을 획득하도록 상기 LED어레이의 수직 상방에 배치하는 메인카메라와, 상기 LED어레이의 영상을 획득하도록 상기 LED어레이를 향해 경사지도록 배치되는 사이드 카메라와, 상기 LED어레이를 향해 빛을 조사하는 조명수단을 포함하도록 구성된다.
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公开(公告)号：KR101230397B1
公开(公告)日：2013-02-07
申请号：KR1020100094734
申请日：2010-09-29
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본 발명은 이미지 센서에서 출력되는 영상 데이터를 전송 채널의 대역폭에 상응하는 속도로 하나 이상의 전송 채널을 통해 순차적으로 전송하는 단계와, 하나 이상의 전송 채널을 통해 수신되는 영상 데이터를 하나 이상의 전송 채널 각각의 대역폭을 합한 전체 대역폭에 해당하는 속도로 프레임 스토어에 순차적으로 기록하는 단계를 포함하는 영상 데이터 고속 송수신 방법과 이를 구현하기 위한 장치이다.
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公开(公告)号：KR1020110029569A
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：KR1020090087307
申请日：2009-09-16
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01B11/24
Abstract: PURPOSE: A system for optically measuring an image and a measuring method using the same are provided to reduce an image taking time by freely controlling the exposed waveform of a camera. CONSTITUTION: A system for optically measuring an image comprises a camera(10), a lighting device(11), a lighting controller(12), an image capturing unit(24), an image signal processing unit(25), a control unit(22), a data input unit(21), and a sync signal generator(23). The camera takes an image of a subject on a given area. The lighting device lights the given area. The lighting controller controls the lighting device. The image capturing unit captures the image taken by the camera. The image signal processing unit processes the image captured by the image capturing unit as an image signal. Measuring mode based value is programmed on the control unit. The data Input part inputs a control signal to the control unit.
Abstract translation: 目的：提供用于光学测量图像的系统和使用其的测量方法，以通过自由地控制相机的曝光波形来减少图像拍摄时间。 构成：用于光学测量图像的系统包括照相机（10），照明装置（11），照明控制器（12），图像捕获单元（24），图像信号处理单元（25），控制单元 （22），数据输入单元（21）和同步信号发生器（23）。 相机拍摄给定区域的拍摄对象的图像。 照明设备点亮给定区域。 照明控制器控制照明设备。 图像拍摄单元拍摄照相机拍摄的图像。 图像信号处理单元将由图像捕获单元捕获的图像作为图像信号进行处理。 在控制单元上编程基于测量模式的值。 数据输入部分向控制单元输入控制信号。
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公开(公告)号：KR1020090063872A
公开(公告)日：2009-06-18
申请号：KR1020070131393
申请日：2007-12-14
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01B11/2441 , G01B9/02028 , G01B2290/35
Abstract: An apparatus for measuring a stereo-scopic image is provided to acquire an interference flange of a highest point and the interference flange of a lowest point about a measurement object. An apparatus for measuring a stereo-scopic image includes a light source(1), a beam splitter(2), a measurement object(3), a reference mirror(4), a photo-detection device(5), a control computer(6), a secondary reference beam generating unit(7). The beam splitter splits light from the light source. The light is irradiated on the measurement object from the beam splitter. The measurement object has difference of a top point and a lowest point. The control computer processes a detected image through the photo-detection device. The secondary reference beam generating unit is formed between the beam splitter and the reference mirror. The secondary reference beam generating unit generates secondary reference beam by converting a route of the light from the beam splitter.
Abstract translation: 提供一种用于测量立体视觉图像的装置，以获取最高点的干涉法兰和关于测量对象的最低点的干涉法兰。 用于测量立体镜的图像的装置包括光源（1），分束器（2），测量对象（3），参考反射镜（4），光检测装置（5），控制计算机 （6），第二参考光束产生单元（7）。 分束器分离来自光源的光。 光束从分束器照射在测量对象上。 测量对象具有顶点和最低点的差异。 控制计算机通过光检测装置处理检测到的图像。 第二参考光束产生单元形成在分束器和参考反射镜之间。 次参考光束产生单元通过转换来自分束器的光的路线来产生次参考光束。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100785802B1
公开(公告)日：2007-12-13
申请号：KR1020070052290
申请日：2007-05-29
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01B11/2441 , G01B9/02028 , G01B9/0209 , G01B2290/35
Abstract: An apparatus for measurement of a three-dimensional shape is provided to improve measuring speed and efficiency by simultaneously obtaining interference images of the top point and the bottom point of a measurement object. An apparatus for measuring of a three-dimensional shape includes a light source(1), a beam splitter(2), a measurement object(3), a reference plane(4), a photographing device(5), and a control computer(7). The beam splitter separates the beam emitted from the light source. The beam split by the beam splitter is irradiated to the measurement object which has a top and a bottom different in height, and irradiated to the reference plane which includes a reflection distance control device(6). The photographing device takes interference images reflected from the measurement object surface and the reference plane. The control computer processes the photographed images.
Abstract translation: 提供一种用于测量三维形状的装置，通过同时获得测量对象的顶点和底点的干涉图像来提高测量速度和效率。 用于测量三维形状的装置包括光源（1），分束器（2），测量对象（3），参考平面（4），拍摄装置（5）和控制计算机 （7）。 分束器分离从光源发射的光束。 由分束器分束的光束照射到高度不同的顶部和底部的测量对象，并且照射到包括反射距离控制装置（6）的参考平面。 拍摄装置拍摄从测量对象表面和参考平面反射的干涉图像。 控制计算机处理拍摄的图像。
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公开(公告)号：KR100748628B1
公开(公告)日：2007-08-10
申请号：KR1020050048579
申请日：2005-06-07
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: H01L21/66 , H01L23/544
CPC classification number: G06K9/03
Abstract: 본 발명은 마킹 검사를 신속하게 진행하고 검사의 정확성을 향상시킬 수 있는 반도체 패키지의 마킹 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 표면에 마킹이 이루어진 반도체 패키지의 마킹 검사 방법에 있어서, 검사 대상 랏(lot)의 반도체 패키지 대한 문자열 정보를 획득하여 메모리부에 기준 문자열 정보를 저장하는 단계와; 인입되는 반도체 패키지 표면에 인쇄된 문자 패턴을 촬영하여 이미지 정보를 획득하는 단계와; 상기 획득된 이미지 정보를 작업자가 육안으로 확인 가능하도록 디스플레이 하는 단계와; 설정 신호에 따라 상기 디스플레이되는 이미지 정보로부터 문자열 정보를 검출하고, 검출된 문자열 정보와 기 저장된 문자열 정보를 상호 비교하여 일치하는 경우 상기 디스플레이되는 해당 반도체 패키지의 이미지 정보를 해당 랏(Lot)의 기준 이미지 정보로 설정하는 단계와; 상기 설정된 기준 이미지 정보와 순차로 입력되는 반도체 패키지의 이미지 정보 상호 비교하여 일치하지 않을 경우 해당 반도체 패키지를 불량품 저장부로 분류하는 단계를 포함하며, 상기 기준 이미지 정보 설정 단계는, 상기 검사 대상 랏(lot)에 대한 기준 이미지 정보가 존재하는지 판단하고, 설정 신호가 입력되는지 판단하는 단계와, 상기 기준 이미지 정보가 존재하지 않을 경우 입력부를 통해 입력되는 설정 신호에 따라 상기 획득된 이미지 정보로부터 문자열 정보를 획득하고, 상기 획득된 문자열 정보가 기 저장되어 있는 기준 문자열 정보과 일치하는비교하는 단계와, 상기 비교 결과 일치하는 경우 해당 피검사물의 이미지 정보를 해당 랏의 기준 이미지 정보로 설정하고, 상기 비교 결과 일치하지 않을 경우 해당 피검사물을 마킹 불량으로 분류하는 과정으로 이루어질 수 있다
반도체 패키지, 마킹, 광학 문자 인식, 문자열 정보-
公开(公告)号：KR100740249B1
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：KR1020050098853
申请日：2005-10-19
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B9/04
Abstract: 본 발명은 광학계를 통해 촬상되는 영상의 정확도를 향상시킬 수 있는 영상 측정 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 광학계를 통해 촬상된 영상을 이용하여 측정 대상의 높이 정보를 측정하는 장치에 있어서, 측정물(P)을 촬상하여 출력하는 CCD 카메라와; 상기 측정물의 촬상 영역을 조명하는 백색광을 발생시키는 조명부와; 상기 조명부의 점등을 제어하는 조명 제어부와; 상기 측정물(P)에 대한 광학계의 미소 높이를 제어하는 미세 구동부와; 상기 CCD 카메라를 통해 촬상된 영상을 획득하는 영상 포획부와; 상기 CCD 카메라에서 인에이블 신호가 발생하면 조명 제어부와 미세 구동부에 구동 신호를 발생하는 구동 신호 발생부와; 상기 영상 포획부로부터 전송되는 데이터로부터 측정 대상의 높이 정보를 계산하는 영상 신호 처리부를 포함하되, 상기 구동 신호 발생부는 카메라에서 프레임 촬상시 피지티 엑츄에이터의 구동 시간 및 구동 높이 정보를 획득하고 획득된 데이터와 기준 데이터를 상호 비교하여 보상된 구동 신호 데이터를 산출하고 후속 프레임 촬상시 보상된 구동 신호를 출력하도록 구성된다.
영상, 구동 신호, 백색광, PZT-
公开(公告)号：KR100705657B1
公开(公告)日：2007-04-09
申请号：KR1020050098860
申请日：2005-10-19
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 발명은 불량품 반도체 패키지에 대한 재검사 시간을 단축할 수 있는 반도체 패키지의 분류 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 반도체 패키지에 대한 비전 검사하고 검사 결과에 따라 불량품을 분류하는 반도체 패키지의 분류 방법에 있어서, 검사 영역의 포켓 내에 수납된 반도체 패키지들을 비전 검사하는 단계(S10)와; 상기 비전 검사 결과 검사 영역 내에 불량품 반도체 패키지가 존재하는지 여부를 판단하는 단계(S20)와; 상기 불량품 존재 여부 판단 결과 불량품이 존재할 경우 불량품 반도체 패키지가 수납된 위치로 비전 카메라를 이동시켜 해당 반도체 패키지의 비전 검사를 재 실시하는 단계(S30)와; 상기 비전 검사 재실시 결과에 따라 불량 여부를 판단하는 단계(S40)와; 상기 비전 검사 재실시 결과 불량일 경우 해당 반도체 패키지를 불량품으로 분류 배출하는 단계(S50)와; 상기 S20~S50 단계를 반복 진행한 후 불량품이 해당 검사 영역에 대한 분류가 완료되면 다음 검사 영역에 대한 비전 검사를 실시하는 단계(S70)를 포함한다.
재검사, 불량품, 포켓Abstract translation: 本发明涉及一种能够缩短缺陷半导体封装的重新测试时间的半导体封装分类方法。
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公开(公告)号：KR100675860B1
公开(公告)日：2007-01-30
申请号：KR1020050066777
申请日：2005-07-22
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본 발명은 반도체패키지의 불량 유무를 검사하는 반도체검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 반도체 검사 장치의 로딩부에 트레이가 정상적으로 탑재되도록 하는 반도체검사장치의 로딩부 적층 안내 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 반도체검사장치의 로딩부 적층 안내 장치는 반도체 검사를 수행하기 위해 검사 장치로 공급되는 트레이들이 동일 방향으로 탑재되게 상기 트레이의 모서리 중 하나의 경사 모서리에 대응하는 경사 가이드부와 상기 트레이의 직각 모서리에 대응하는 직각 가이드부로 이루어진 가이드 수단이 구비된 로딩부를 포함하는 반도체 검사 장치에 있어서, 상기 경사 가이드부는 상기 로딩부에 탑재되는 트레이의 경사 모서리의 모 따진 크기에 따라 트레이의 모 따진 부분을 커버하는 경사대가 조임 수단의 조임 또는 풀림에 의해 수평 이동되게 구성됨을 특징으로 한다.
반도체검사장치, 트레이, 적층, 탑재, 모 따기
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