制备n-型半导体金刚石的方法及n-型半导体金刚石

    公开(公告)号:CN1708834A

    公开(公告)日:2005-12-14

    申请号:CN200380100646.7

    申请日:2003-12-22

    Abstract: 本发明制备n-型半导体金刚石的方法的特征在于,通过向结合有10ppm或以上N的单晶金刚石中注入Li离子,使得其中含有10ppm的Li离子,来制备结合有Li和N的金刚石,或者,在用Li和N离子掺杂单晶金刚石的过程中,注入离子,使得在后注入Li和N浓度各为10ppm或以上处的离子注入深度将会重叠,来制备结合有Li和N的金刚石,然后在800℃或以上至低于1800℃的温度退火金刚石,以电激活Li和N且恢复金刚石的晶体结构。在本发明中,n-型半导体金刚石在从晶体面至相同的深度结合了各为10ppm或以上的Li和N,其中其薄层电阻为107Ω/□或更低。

    金刚石复合基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN1697894A

    公开(公告)日:2005-11-16

    申请号:CN200480000322.0

    申请日:2004-01-22

    CPC classification number: C23C16/279 C23C16/274 C30B29/04 C30B33/00 C30B33/06

    Abstract: 本发明目的在于提供一种具有好的韧性、大的表面积和高质量的金刚石基板及制造该基板的方法,该基板可用于半导体材料、电子元件、光学元件等等。金刚石多晶膜层叠在金刚石单晶基板表面上而形成金刚石复合基板。在所述的金刚石复合基板中,优选具有金刚石单晶基板的最大表面积的主要面为{100}面,而且金刚石多晶膜层叠在平行于该面的反面上。金刚石单晶基板3可以由具有相同方位的主要面的多个金刚石单晶构成,而且这些多个金刚石单晶可以通过金刚石单晶层4连接而形成金刚石复合基板2。金刚石单晶也可以用作种子晶体以及在其表面通过气相合成提供金刚石单晶。

    微波等离子体CVD系统
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101410549A

    公开(公告)日:2009-04-15

    申请号:CN200780011115.9

    申请日:2007-01-29

    Abstract: 一种微波等离子体CVD系统,其在可沉积大面积高品质金刚石薄膜的条件下可以令人满意地进行等离子体的位置控制。该微波等离子体CVD系统包括:真空腔(1),其上部中心具有导入微波(20)的开口部(2);基材支持台(11),用于支持真空腔内基材;波导,用于将微波导入至开口部;介电窗(22),用于将微波导入至真空腔;以及天线部(25),用于将微波导入至真空腔,该天线部由圆棒部(23)和电极部(24)构成,该圆棒部(23)位于波导、开口部和介电窗的中心,该电极部(24)与该真空腔的上部结合以夹持介电窗从而保持真空。该电极部(24)的端面形成为宽于介电窗以遮蔽该介电窗,并且在真空腔中心侧的电极部(24)的表面上形成预定尺寸的凹部(26)。

    金刚石n型半导体及其制造方法、半导体元件及电子发射元件

    公开(公告)号:CN100456490C

    公开(公告)日:2009-01-28

    申请号:CN200480033959.X

    申请日:2004-11-17

    CPC classification number: H01L29/1602

    Abstract: 本发明涉及在较大的温度范围中充分降低载流子浓度的变化量的金刚石n型半导体等。该金刚石n型半导体,具备金刚石基板和在其主面上形成的被判定为n型的金刚石半导体。该金刚石半导体,在被判定为n型的温度区域内的一部分温度中,载流子浓度(电子浓度)的温度依存性显示负的相互关系的同时,霍尔系数的温度依存性显示正的相互关系。具有这种特性的金刚石n型半导体,例如可以通过一边将施主元素以外的杂质元素导入金刚石基板,一边形成大量掺入施主元素的金刚石半导体后获得。

    微制造金钢石元件
    40.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100395898C

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN03158713.5

    申请日:2003-09-22

    CPC classification number: H01L33/20 H01L33/34 Y10T428/30

    Abstract: 一种金钢石电子发射元件,其设置有一个基片以及许多由金钢石构成且侧面为平面的四棱柱(微型突起),这些四棱柱等间隔地排列在基片上。顶端面(水平截面)为四边形形状,其长边边长为a[nm],短边边长为ka[nm],且在短边一侧的一个侧面上形成有一层二氧化硅(SiO2)薄膜。长边的边长a[nm]和短边的边长ka[nm]满足下列公式(1)和(2)的关系表达式:见右下式;nλ=C1...(2),其中:C1:每个四棱柱内部生成的光在该四棱柱侧面上反射时,环绕某一特定环路,一圈的距离为[nm];n:一个任意正整数;以及λ:构成四棱柱的金钢石的发射峰值波长λ[nm]。

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