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公开(公告)号：KR1020090019644A
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：KR1020070086920
申请日：2007-08-29
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J1/02
Abstract: An integrating sphere for temperature control is provided to control internal temperature effectively by directly heating and circulating air in the sphere, thereby improving the precision of temperature control. A heat source(50) is mounted outside a hollow part(10) for transmitting the heat into the hollow part or inside the hollow part for directly heating the air in the hollow part. A pump(100) is connected to the hollow part for circulating the heated air in the hollow part through the inside and outside of the hollow part so as to keep temperature of each part in the hollow part uniform. A fan is able to be mounted in the hollow part instead of the pump for circulating the heated air only in the hollow part without discharging to the outside.
Abstract translation: 提供温度控制的积分球，通过直接加热和循环球体中的空气来有效控制内部温度，从而提高温度控制的精度。 热源（50）安装在中空部分（10）的外部，用于将热量传递到中空部分或中空部分内部，以直接加热中空部分中的空气。 泵（100）连接到中空部分，用于使空心部分中的加热空气通过中空部分的内部和外部循环，以使中空部件中的每个部件的温度均匀。 风扇能够安装在中空部分中而不是用于仅在中空部分中循环加热的空气而不排放到外部的泵。
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公开(公告)号：KR1020160145232A
公开(公告)日：2016-12-20
申请号：KR1020150081213
申请日：2015-06-09
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: 본발명은하나의하우징유닛에서다양한센싱유닛을교체하여사용하거나일괄사용함으로써, 측정기의휴대및 이동을간편하게하면서도하나의측정기로다양한기능을구현할수 있는다기능휴대용측정기및 이것의제어방법에관한것이다. 이를위해다기능휴대용측정기는하우징유닛과, 센싱유닛과, 접속유닛과, 세팅유닛을포함한다. 여기서, 하우징유닛은하우징부와, 세팅에필요한입력정보를제공하는설정부와, 세팅에필요한세팅상수가저장되는메모리부를포함한다. 또한, 센싱유닛은하우징부에탈부착가능하게결합되는센싱바디부와, 측정대상물을감지하도록센싱바디부에구비되는측정센서부를포함한다. 또한, 세팅유닛은하우징유닛에구비되고, 측정센서부에서감지되는신호의처리준비를위해입력정보와, 세팅상수를매칭시킨다. 또한, 접속유닛은측정센서부와세팅유닛을상호탈부착가능하게접속시킨다.
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公开(公告)号：KR101301182B1
公开(公告)日：2013-09-10
申请号：KR1020127016788
申请日：2009-12-05
Applicant: 광전자정밀주식회사
CPC classification number: G01R31/2635
Abstract: 본 발명은 엘이디에 대한 검사속도를 향상시키고, 검사의 정확성을 높일 수 있으며, 상기 엘이디를 검사하기 위하여 상기 엘이디가 장착된 엘이디 모듈을 정렬할 필요가 없는 엘이디 검사방법을 제공하는 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 촬영유닛을 사용하여 엘이디 모듈에서 발광되는 빛을 촬영하여 상기 엘이디 모듈에 대한 이미지를 생성하는 이미지 생성 단계, 상기 촬영유닛 상의 기준좌표축을 기준으로 상기 엘이디 모듈의 이미지에 대한 위치를 파악하는 상대위치 파악 단계, 상기 엘이디 모듈의 이미지 중에서 각각의 엘이디가 위치하는 지점을 포함하는 분석대상영역의 이미지를 추출하는 이미지 추출 단계, 상기 분석대상영역의 이미지를 영상처리하여 상기 엘이디의 광특성값을 획득하는 광특성값 획득 단계, 그리고 상기 광특성값을 바탕으로 상기 엘이디의 품질여부를 판단하는 품질 판단 단계를 포함하는 엘이디 검사방법을 제공한다.-
公开(公告)号：KR1020120109531A
公开(公告)日：2012-10-08
申请号：KR1020127016772
申请日：2009-12-17
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J1/08
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: PURPOSE: A light source handling device and an optical property measuring device using the same are provided to efficiently measure optical property values with respect to three kinds of planes with a single device. CONSTITUTION: A light source handling device comprises a body base(100), a first body unit(200), a second body unit(300), and a holder unit. The first body unit is installed on the top of the body base and rotated with respect to the body base. The second body unit is installed on the top of the first body unit and linearly moved with respect to the body base. The holder unit is joined to the second body unit and holds a light source desired to measure. The second body unit comprises a vertical block and rotary block. The vertical block is installed on the top of the first body unit. The rotary block is installed in the vertical block and simultaneously rotates the holder unit while being joined to the holder unit.
Abstract translation: 目的：提供一种光源处理装置和使用该光源的光学性质测量装置，以便通过单个装置有效地测量三种平面的光学特性值。 构成：光源处理装置包括主体基座（100），第一主体单元（200），第二主体单元（300）和保持器单元。 第一体单元安装在身体基部的顶部并相对于身体基座旋转。 第二主体单元安装在第一主体单元的顶部并且相对于主体基部线性地移动。 保持器单元连接到第二主体单元并且保持期望测量的光源。 第二主体单元包括垂直块和旋转块。 垂直块安装在第一个机身单元的顶部。 旋转块安装在垂直块中，同时在保持单元接合的同时使保持单元旋转。
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公开(公告)号：KR1020120098830A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：KR1020127016788
申请日：2009-12-05
Applicant: 광전자정밀주식회사
CPC classification number: G01R31/2635
Abstract: PURPOSE: An LED(Light Emitting Diode) inspection method is provided to increase the accuracy of an inspection and inspection speed using an optical characteristic value. CONSTITUTION: An image for an LED module is created by capturing light emitted from the LED module(S10). A location for the image is obtained based on a reference coordinate axis of a capturing unit(S20). The coordinate of the LED is converted based on the reference coordinate axis(S30). An image of the analysis target area including an LED location position is extracted from the image(S40). The optical characteristic value of the LED is obtained by processing the image of the analysis target area(S50). The quality of the LED is determined based on the optical characteristic value(S60). [Reference numerals] (S10) Image creation step; (S20) Opponent location grasping step; (S30) Coordinate conversion step; (S40) Image extraction step; (S50) Optical characteristic value acquisition step; (S60) Quality determination step
Abstract translation: 目的：提供一种LED（发光二极管）检测方法，以提高使用光学特性值的检查和检查速度的精度。 构成：通过捕获从LED模块发出的光来创建LED模块的图像（S10）。 基于拍摄单元的参考坐标轴获得图像的位置（S20）。 基于坐标轴转换LED的坐标（S30）。 从图像中提取包括LED位置位置的分析对象区域的图像（S40）。 通过处理分析对象区域的图像获得LED的光学特性值（S50）。 基于光学特性值来确定LED的质量（S60）。 （附图标记）（S10）图像创建步骤; （S20）对手位置抓取步骤; （S30）坐标转换步骤; （S40）图像提取步骤; （S50）光学特性值获取步骤; （S60）质量确定步骤
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020120094220A
公开(公告)日：2012-08-24
申请号：KR1020110013572
申请日：2011-02-16
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: PURPOSE: A light-emitting diode inspection apparatus is provided to shorten light characteristic inspection time of a light-emitting diode module by locating the light-emitting diode module at the exterior of an integration sphere. CONSTITUTION: A measurement unit(400) is installed inside a case. The measurement unit measures the lighting of a light emitting diode or light characteristics. A power supply unit(500) is touched with a connection terminal of a light-emitting diode module. The power supply unit has a movable electrode for supplying power to the light-emitting diode module. The light-emitting diode module is settled in a settling unit. A guide hole guides light emitted in the light-emitting diode module toward downwards. A control unit(600) controls the measurement unit and the power supply unit.
Abstract translation: 目的：提供一种发光二极管检查装置，通过将发光二极管模块定位在集成球的外部来缩短发光二极管模块的光特性检查时间。 构成：测量单元（400）安装在壳体内。 测量单元测量发光二极管的照明或光特性。 电源单元（500）与发光二极管模块的连接端子接触。 电源单元具有用于向发光二极管模块供电的可动电极。 发光二极管模块沉降在一个沉降单元中。 引导孔向下引导发光二极管模块中发出的光。 控制单元（600）控制测量单元和电源单元。
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公开(公告)号：KR101152317B1
公开(公告)日：2012-06-11
申请号：KR1020110013571
申请日：2011-02-16
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: PURPOSE: An electrode material coating apparatus is provided to improve test efficiency by accurately attaching an electrode material with a predetermined size on a desired position. CONSTITUTION: An electrode material(E) is fixed on an epitaxial wafer(W) for testing light emission properties. A mask jig(110) is aligned on a position for fixing the electrode material on the epitaxial wafer. A wafer mounting groove(112) is located on the lower surface of the mask jig. A compression bonding jig(120) is fixed on the epitaxial wafer by attaching the electrode material aligned by the mask jig. The compression bonding jig comprises a compression bonding rod(122) for attaching and pressurizing the electrode material inserted into an alignment hole(114).
Abstract translation: 目的：提供一种电极材料涂覆装置，通过将预定尺寸的电极材料精确地附着在期望的位置上来提高测试效率。 构成：电极材料（E）固定在外延晶片（W）上，用于测试发光性能。 掩模夹具（110）对准用于将电极材料固定在外延晶片上的位置。 晶片安装槽（112）位于掩模夹具的下表面上。 通过安装由掩模夹具对准的电极材料，将压接夹具（120）固定在外延晶片上。 压接夹具包括用于将插入对准孔（114）中的电极材料附接和加压的压接杆（122）。
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公开(公告)号：KR101136559B1
公开(公告)日：2012-04-17
申请号：KR1020090032677
申请日：2009-04-15
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J11/00
Abstract: 본 발명은 광원(엘이디 모듈, 엘씨디, 일반광원)의 광 특성 측정에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광원을 회전시키면서 광원 특히 엘이디 모듈의 광 특성을 측정하는 엘이디 모듈 광 특성을 측정하는 방법 및 장치로, 방법은 광 측정기가 트리거 명령에 의하여 광 측정 작업을 수행할 수 있도록 하는 셋팅과 분주펄스에 의한 트리거 생성 및 처리를 위한 각 단계로 이루어지며, 장치는 전원을 공급받아 발광하는 역할을 수행하는 광원, 상기 광원을 지면에 수직인 방향으로 회전시키는 역할을 수행하는 광원모터, 상기 광원을 지면에 수평인 방향으로 회전시키는 역할을 수행하는 축 모터, 상기 광원모터 또는 축모터중 하나이상이 회전할 때 펄스를 생성하는 역할을 수행하는 하나 이상의 엔코더, 상기 장치를 컨트롤 하는 역할을 수행하는 모터 컨트롤러, 상기 엔코더를 통해 발생되는 펄스를 확인하여 트리거를 발생시키는 역할을 수행하는 마이컴, 상기 광원의 광 특성을 측정할 수 있도록 소정의 거리만큼 떨어져서 설치되는 광 측정기를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
엘이디, 광원, 엔코더, 측정, 엘씨디-
公开(公告)号：KR101088904B1
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：KR1020070086920
申请日：2007-08-29
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J1/02
Abstract: 본 발명은 광원의 발광 특성을 측정하기 위한 적분구에 관한 것으로, 구 형상의 중공과; 상기 중공 내부에 설치되는 광원과; 상기 광원을 지지하도록 광원과 중공 사이에 설치되는 광원지지대와; 상기 중공 내부의 공기를 가열하기 위하여 중공 내부 또는 중공 외부에 설치되는 열원과; 상기 중공 내부에서 가열된 공기를 중공에 형성되는 유출공을 통하여 인출하여 다시 중공에 형성되는 유입공을 통하여 중공 내부로 인입시키는 과정을 통해 중공 내부의 공기를 순환시켜 중공 내부의 각 지점의 온도를 일정하게 유지하기 위해 상기 중공 내부와 연통되도록 설치되는 공기순환펌프 또는 상기 중공 내부에서 가열된 공기를 순환시키기 위하여 중공 내부에 설치되는 순환팬을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 온도조절 적분구가 개시된다.
적분구, 열원, 열전소자, 순환, 히트파이프, 온도제어-
公开(公告)号：KR101049097B1
公开(公告)日：2011-07-15
申请号：KR1020090021709
申请日：2009-03-13
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J1/02
Abstract: 본 발명은 검사대상광원에 대한 제조상태를 신속하고 정확하게 검사할 수 있는 광원특성 검사 시스템 및 검사방법에 관한 것이다다. 이를 위해 본 발명은 검사 대상이 되는 복수개의 검사대상광원과 각각 일대일 대응되도록 구비되며, 구획된 영역에서 상기 검사대상광원에서 발광되는 빛을 측정하는 복수개의 컬러센서, 상기 컬러센서에서 측정된 데이터를 바탕으로 상기 검사대상광원에 대한 특성값을 산출하는 제어부, 그리고 상기 복수개의 검사대상광원이 기판상에 일정간격으로 배열된 검사대상광원 모듈을 반입하여 상기 검사대상광원들이 상기 컬러센서와 일대일 대응되는 위치에 배치되어 고정되도록 하는 설치유닛을 포함하는 광원특성 검사 시스템 및 검사방법을 제공한다.
검사 시스템, 검사방법, 컬러센서, 검사대상광원
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