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公开(公告)号：WO2011068268A1
公开(公告)日：2011-06-09
申请号：PCT/KR2009/007250
申请日：2009-12-05
CPC classification number: G01R31/2635
Abstract: 본 발명은 엘이디에 대한 검사속도를 향상시키고, 검사의 정확성을 높일 수 있으며, 상기 엘이디를 검사하기 위하여 상기 엘이디가 장착된 엘이디 모듈을 정렬할 필요가 없는 엘이디 검사방법을 제공하는 것이다. 이를 위하여, 본 발명은 촬영유닛을 사용하여 엘이디 모듈에서 발광되는 빛을 촬영하여 상기 엘이디 모듈에 대한 이미지를 생성하는 이미지 생성 단계, 상기 촬영유닛 상의 기준좌표축을 기준으로 상기 엘이디 모듈의 이미지에 대한 위치를 파악하는 상대위치 파악 단계, 상기 엘이디 모듈의 이미지 중에서 각각의 엘이디가 위치하는 지점을 포함하는 분석대상영역의 이미지를 추출하는 이미지 추출 단계, 상기 분석대상영역의 이미지를 영상처리하여 상기 엘이디의 광특성값을 획득하는 광특성값 획득 단계, 그리고 상기 광특성값을 바탕으로 상기 엘이디의 품질여부를 판단하는 품질 판단 단계를 포함하는 엘이디 검사방법을 제공한다.
Abstract translation: 本发明提供了一种LED测试方法，其提高了LED测试速度，提高了测试精度，并且不需要将LED安装成LED进行测试对准的LED模块。 为此，提供了一种LED测试方法，包括：图像生成步骤，其中扫描单元扫描从LED模块发射的光并产生用于LED模块的图像; 相对位置查找步骤，其中找到相对于扫描单元上的参考坐标轴的LED模块的图像的相对位置; 图像提取步骤，其中提取所述LED模块的图像中要分析的区域的图像，其中所述区域包括各个LED的位置; 光学特性获取步骤，其中通过处理要分析的区域的图像来获取LED的光学特性值; 以及质量评估步骤，其中基于光学特性值评估LED的质量。
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公开(公告)号：WO2011074726A1
公开(公告)日：2011-06-23
申请号：PCT/KR2009/007564
申请日：2009-12-17
IPC: G01J1/08
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 본 발명은 광원이 방출하는 빛의 특성을 효율적으로 측정할 수 있는 광원 핸들링장치 및 이를 이용한 광특성 측정장치에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명은 본체 베이스, 상기 본체 베이스의 상부에 설치되며 상기 본체 베이스에 대하여 회전이동되는 제1 본체유닛, 상기 제1 본체 유닛의 상부에 설치되며 상기 본체 베이스에 대하여 직선이동되는 제2 본체유닛, 그리고 상기 제2 본체유닛과 결합되며, 측정하고자 하는 광원을 잡아주기 위한 홀더유닛을 포함하는 광원 핸들링장치 및 이를 이용한 광특성 측정장치를 제공한다.
Abstract translation: 本发明涉及一种用于处理光源的装置和一种用于测量光学特性的装置，其能够有效地测量由光源发射的光的特性。 为此，本发明的用于处理光源的装置包括：主体基座; 第一主体单元，安装在主体基座的上部，以相对于主体基座可旋转地移动; 第二主体单元，其安装在所述第一主体单元的上部，以相对于所述主体基座线性移动; 以及保持单元，其联接到第二主体单元，以便保持光源，即待测对象。
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公开(公告)号：KR101392985B1
公开(公告)日：2014-05-08
申请号：KR1020127016772
申请日：2009-12-17
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J1/08
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 본발명은광원이방출하는빛의특성을효율적으로측정할수 있는광원핸들링장치및 이를이용한광특성측정장치에관한것이다. 이를위해, 본발명은본체베이스, 상기본체베이스의상부에설치되며상기본체베이스에대하여회전이동되는제1 본체유닛, 상기제1 본체유닛의상부에설치되며상기본체베이스에대하여직선이동되는제2 본체유닛, 그리고상기제2 본체유닛과결합되며, 측정하고자하는광원을잡아주기위한홀더유닛을포함하는광원핸들링장치및 이를이용한광특성측정장치를제공한다.
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公开(公告)号：KR1020130080609A
公开(公告)日：2013-07-15
申请号：KR1020120001499
申请日：2012-01-05
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: PURPOSE: An in-line type light emitting diode (LED) inspection system and a control method thereof are provided to consecutively implement a lighting inspection, an optical property inspection, and a withstand voltage inspection on an LED lamp on one conveying line, thereby reducing time for inspection. CONSTITUTION: An in-line type light emitting diode (LED) inspection system includes a loading part (100), an unloading part (700), a conveying part (800), and an optical property measuring part (600). The loading part loads an LED lamp (10) to be inspected on a module mounting part (30). The unloading part unloads the lamp after an inspection on the lamp is finished. The module mounting part is mounted on the conveying unit, and the conveying unit has a conveying line connecting the loading part and the unloading part in order to consecutively convey the lamps. The optical property measuring part on the conveying line measures light source information including the intensity and color information of a light from the lamp, determines whether or not the optical property of the lamp is normal with comparing the light source information with the referential information of the lamp, or determines the grade of the lamp.
Abstract translation: 目的：提供一种在线式发光二极管（LED）检测系统及其控制方法，以连续对一条输送线上的LED灯进行照明检查，光学性能检查和耐压检查，从而减少 检查时间。 构成：在线式发光二极管（LED）检查系统包括装载部分（100），卸载部分（700），传送部分（800）和光学性质测量部分（600）。 装载部分装载要在模块安装部分（30）上检查的LED灯（10）。 在灯完成检查后，卸载部件卸下灯泡。 模块安装部分安装在输送单元上，输送单元具有连接装载部分和卸载部分的输送线，以便连续地传送灯。 输送线上的光学特性测量部分测量包括来自灯的光的强度和颜色信息的光源信息，通过将光源信息与参考信息进行比较来确定灯的光学特性是否正常 灯，或确定灯的等级。
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公开(公告)号：KR101274003B1
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：KR1020110035713
申请日：2011-04-18
Applicant: 광전자정밀주식회사
CPC classification number: Y02E10/50 , Y02P70/521
Abstract: 본 발명은 태양전지에 대한 검사를 신속하고 안정적으로 수행할 수 있는 태양전지 검사 시스템 및 이를 이용한 태양전지 검사방법에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명은 태양전지 모듈에 사용되는 글래스를 공급하기 위한 글래스 공급유닛, 태양전지 리본이 구비된 태양전지 스트링을 상기 글래스의 상부로 공급하는 태양전지 스트링 로딩유닛, 그리고 검사프레임과 상기 검사프레임 상에 설치되어 상기 태양전지 스트링에 전원을 공급하기 위한 전원공급부와 상기 태양전지 스트링에 대한 미세크랙을 검사하기 위한 측정부를 갖는 태양전지 스트링 검사유닛을 포함하는 태양전지 검사 시스템 및 이를 이용한 태양전지 검사방법을 제공한다.-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020130043789A
公开(公告)日：2013-05-02
申请号：KR1020110107893
申请日：2011-10-21
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: PURPOSE: An LED inspecting device is provided to perform a lighting test and an optical property test of an LED efficiently, thereby reducing time required for the tests and enhancing productivity. CONSTITUTION: An LED inspecting device comprises a module mounting unit(60), an inspection chamber(30), a transferring unit, a measuring unit(33), and a control unit. An LED module with one or more LED elements is mounted in the module mounting unit. A lighting test or an optical property test of the LED module is performed inside the inspection chamber. The transferring unit transfers the module mounting unit to the inside of the inspection chamber and discharges the module mounting unit to the outside of the inspection chamber after finishing the test. The measuring unit measures light emitted from the LED module, thereby measuring whether or not the LED elements are turned on or optical properties of the LED elements. The control unit controls the module mounting unit to be stopped at a preset position inside the inspection chamber.
Abstract translation: 目的：提供LED检测装置，有效地进行LED的照明测试和光学性能测试，从而减少测试所需的时间并提高生产率。 构成：LED检测装置包括模块安装单元（60），检查室（30），传送单元，测量单元（33）和控制单元。 具有一个或多个LED元件的LED模块安装在模块安装单元中。 在检查室内执行LED模块的照明测试或光学性能测试。 转移单元将模块安装单元传送到检查室的内部，并在完成测试后将模块安装单元排出到检查室的外部。 测量单元测量从LED模块发出的光，从而测量LED元件是否被接通或LED元件的光学特性。 控制单元将模块安装单元控制在检查室内的预设位置。
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公开(公告)号：KR1020080066206A
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：KR1020070003367
申请日：2007-01-11
Applicant: 광전자정밀주식회사
Inventor： 박성림
IPC: G01J3/02
Abstract: An apparatus and a method for measuring optical properties of an LED are provided to simplify the measurement of the optical properties by computerizing spectrums corresponding to light having at least two colors. An apparatus of measuring optical properties of an LED(Light Emitting Diode) comprises the step of emitting light of the LED by applying power to a LED package(40) having at least two color LEDs. Spectrum of light having at least two colors is obtained through a spectroscope(10) and then transmitted to a computer. At least one optical property of maximum wavelength, main wavelength, luminosity, intensity radiation, color temperature, color rendering index, brightness and color coordinates for the transmitted spectrum of light is calculated.
Abstract translation: 提供了一种用于测量LED的光学特性的装置和方法，以通过对与具有至少两种颜色的光相对应的光谱进行计算机化来简化光学性质的测量。 测量LED（发光二极管）的光学特性的装置包括通过向具有至少两个彩色LED的LED封装（40）施加电力来发射LED的光的步骤。 通过分光镜（10）获得具有至少两种颜色的光的光谱，然后传输到计算机。 计算发射光谱的最大波长，主波长，亮度，强度辐射，色温，显色指数，亮度和颜色坐标的至少一个光学性质。
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公开(公告)号：KR100280869B1
公开(公告)日：2001-03-02
申请号：KR1019980023941
申请日：1998-06-24
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G02B21/00
Abstract: 본 발명은 미세레버와 레이져다이오드와 감광장치로 구성되며, 미세하게 조작되는 레버 끝에 위치한 미세팁이 검사물의 표면에 작용하여 레버가 휘어지는 정도를 측정하므로서 반도체 칩등으로 구성되는 검사물의 표면 형상정보를 측정하는 원자간력 현미경의 헤드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 2개의 판이 강성의 유연힌지로 연결되어 레이져 이동기구를 구성하되, 고정판으로 4개의 나사구멍을 구성하고 하판과는 기울기 조절나사가 일체로 연결되어 상기 기울기 조절나사의 작동에 따른 유연힌지의 탄성변형에 의해 회동판의 일측으로 설치되는 레이져빔의 위치조절이 이루어지게하여 정확한 검사물의 형상정보를 측정할 수 있는 유연힌지를 이용한 원자간력 현미경의 헤드에 관한 것이다.
본 발명의 목적은 자체강성에 의해 회동되는 유연힌지를 통해 레이져와 미세레버가 각,각 위치 및 각도조절되게하여 표면측정을 위한 위치설정 작업이 간편하고, 미세한 변형량까지 측정되게하여 검사물의 정확한 표면높이정보를 얻을 수 있도록 한 원자간력 현미경의 헤드를 제공함에 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 구체적인 수단으로는;
검사물이 고정되는 홀더를 X,Y,Z 측으로 이동시키는 수단으로서의 3축 스테이지와, 미세레버와 레이져다이오드와 감광장치로 구성되며 상기 검사물의 표면상에 미세레버의 미세팁을 놓이게 하고 이 미세레버의 끝단으로 레이져빔을 입사시켜 그 반사되는 레이져빔을 감광장치로 측정하여 검사물의 표면높이정보를 산출하는 헤드로 구성되는 반도체 칩 등의 원자간력 현미경에 있어서,
상기 레이져와 미세레버의 위치와 각도조절 수단으로서,
회동판과 고정판이 유연힌지에 의해 일체로 연결되며 상기 고정판으로는 4방향으로 나사구멍이 일정간격 구성되어 이 나사구멍으로 기울기 조절나사가 결합구성되는 위치결정부를 각,각 구성시켜 상기 레이져다이오드와 미세레버를 설치시키므로서 레이져빔과 미세레버의 위치와 각도조절에 따라 상기 미세레버에 반사되는 레이져빔의 위치가 제어되도록 한 원자간력 현미경의 헤드를 구비하므로서 달성된다.-
公开(公告)号：KR101298146B1
公开(公告)日：2013-08-20
申请号：KR1020120117465
申请日：2012-10-22
Applicant: 광전자정밀주식회사
Inventor： 박성림
IPC: G01J1/02
Abstract: PURPOSE: An apparatus for measuring the light characteristics of projector is provided to have incident light, which is projected by a projector, vertically to the front surface of illumination sensor, thereby obtaining the accurate light characteristics value. CONSTITUTION: An apparatus for measuring the light characteristics of projector includes a main frame (100), a first illumination sensor (200), a second illumination sensor (300), a third illumination sensor (400), a holder (700), and a sensor holder assembly. The main frame has projection areas (S1,S2,S3) to which the light of projector (P) is projected. The first illumination sensor freely moves in the upper projection areas, and measures the illumination of light that is projected by the projector. The second illumination sensor freely moves in the center, and measures the illumination of light that is projected by the projector. The third illumination sensor freely moves in the lower projection area, and measures the illumination of light that is projected by the projector. The holder fixes the projector that projects light toward the main frame. The sensor holder assembly can rotate each illumination sensor in every direction so as to vertically have incident light, which is projected by the projector, on the front surface of each illumination sensor.
Abstract translation: 目的：提供一种用于测量投影仪的光特性的装置，其具有垂直于照明传感器前表面的由投影仪投影的入射光，从而获得准确的光特性值。 构成：用于测量投影仪的光特性的装置包括主框架（100），第一照明传感器（200），第二照明传感器（300），第三照明传感器（400），保持器（700）和 传感器支架组件。 主框架投影投影机（P）的投影区域（S1，S2，S3）。 第一照明传感器在上投影区域中自由移动，并且测量由投影仪投影的光的照明。 第二照明传感器在中心自由移动，并且测量由投影仪投射的光的照明。 第三照明传感器在下投影区域中自由移动，并且测量由投影仪投射的光的照明。 保持架将投影机固定到主框架上。 传感器保持器组件可以在每个方向上旋转每个照明传感器，以便垂直地将由投影仪投影的入射光放置在每个照明传感器的前表面上。
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公开(公告)号：KR101201487B1
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：KR1020110013572
申请日：2011-02-16
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: 본 발명은 엘이디 검사 시간을 단축할 수 있도록 이루어진 엘이디 검사장치에 관한 것이다.
이를 위하여 본 발명은 단수 또는 복수 개의 엘이디 소자들과, 상기 엘이디 소자들에 전원을 공급하기 위한 접속단자를 갖는 엘이디 모듈을 검사함에 있어서, 상기 엘이디 모듈이 안착되는 안착부와, 상기 엘이디 모듈에서 발광되는 빛이 하부로 향하도록 하는 안내홀이 형성된 고정유닛, 상기 고정유닛의 하부에 배치되어, 상기 안내홀과 대향되는 위치에서 상기 엘이디 모듈의 빛이 관통되도록 하기 위한 투명안내부를 가지며, 상기 고정유닛을 지지하는 케이스, 상기 케이스의 내부에 설치되며, 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 측정하여 상기 엘이디의 점등여부 또는 광 특성을 측정하기 위한 측정유닛, 상기 엘이디 모듈의 접속단자에 접촉되어 상기 엘이디 모듈에 전원을 공급하기 위한 이동전극을 갖는 전원공급유닛 그리고 상기 측정유닛과 상기 전원공급유닛을 제어하기 위한 제어유닛을 포함하는 엘이디 검사장치를 제공한다.
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