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公开(公告)号：WO2011074726A1
公开(公告)日：2011-06-23
申请号：PCT/KR2009/007564
申请日：2009-12-17
IPC: G01J1/08
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 본 발명은 광원이 방출하는 빛의 특성을 효율적으로 측정할 수 있는 광원 핸들링장치 및 이를 이용한 광특성 측정장치에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명은 본체 베이스, 상기 본체 베이스의 상부에 설치되며 상기 본체 베이스에 대하여 회전이동되는 제1 본체유닛, 상기 제1 본체 유닛의 상부에 설치되며 상기 본체 베이스에 대하여 직선이동되는 제2 본체유닛, 그리고 상기 제2 본체유닛과 결합되며, 측정하고자 하는 광원을 잡아주기 위한 홀더유닛을 포함하는 광원 핸들링장치 및 이를 이용한 광특성 측정장치를 제공한다.
Abstract translation: 本发明涉及一种用于处理光源的装置和一种用于测量光学特性的装置，其能够有效地测量由光源发射的光的特性。 为此，本发明的用于处理光源的装置包括：主体基座; 第一主体单元，安装在主体基座的上部，以相对于主体基座可旋转地移动; 第二主体单元，其安装在所述第一主体单元的上部，以相对于所述主体基座线性移动; 以及保持单元，其联接到第二主体单元，以便保持光源，即待测对象。
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公开(公告)号：WO2011068268A1
公开(公告)日：2011-06-09
申请号：PCT/KR2009/007250
申请日：2009-12-05
CPC classification number: G01R31/2635
Abstract: 본 발명은 엘이디에 대한 검사속도를 향상시키고, 검사의 정확성을 높일 수 있으며, 상기 엘이디를 검사하기 위하여 상기 엘이디가 장착된 엘이디 모듈을 정렬할 필요가 없는 엘이디 검사방법을 제공하는 것이다. 이를 위하여, 본 발명은 촬영유닛을 사용하여 엘이디 모듈에서 발광되는 빛을 촬영하여 상기 엘이디 모듈에 대한 이미지를 생성하는 이미지 생성 단계, 상기 촬영유닛 상의 기준좌표축을 기준으로 상기 엘이디 모듈의 이미지에 대한 위치를 파악하는 상대위치 파악 단계, 상기 엘이디 모듈의 이미지 중에서 각각의 엘이디가 위치하는 지점을 포함하는 분석대상영역의 이미지를 추출하는 이미지 추출 단계, 상기 분석대상영역의 이미지를 영상처리하여 상기 엘이디의 광특성값을 획득하는 광특성값 획득 단계, 그리고 상기 광특성값을 바탕으로 상기 엘이디의 품질여부를 판단하는 품질 판단 단계를 포함하는 엘이디 검사방법을 제공한다.
Abstract translation: 本发明提供了一种LED测试方法，其提高了LED测试速度，提高了测试精度，并且不需要将LED安装成LED进行测试对准的LED模块。 为此，提供了一种LED测试方法，包括：图像生成步骤，其中扫描单元扫描从LED模块发射的光并产生用于LED模块的图像; 相对位置查找步骤，其中找到相对于扫描单元上的参考坐标轴的LED模块的图像的相对位置; 图像提取步骤，其中提取所述LED模块的图像中要分析的区域的图像，其中所述区域包括各个LED的位置; 光学特性获取步骤，其中通过处理要分析的区域的图像来获取LED的光学特性值; 以及质量评估步骤，其中基于光学特性值评估LED的质量。
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公开(公告)号：KR101298146B1
公开(公告)日：2013-08-20
申请号：KR1020120117465
申请日：2012-10-22
Applicant: 광전자정밀주식회사
Inventor： 박성림
IPC: G01J1/02
Abstract: PURPOSE: An apparatus for measuring the light characteristics of projector is provided to have incident light, which is projected by a projector, vertically to the front surface of illumination sensor, thereby obtaining the accurate light characteristics value. CONSTITUTION: An apparatus for measuring the light characteristics of projector includes a main frame (100), a first illumination sensor (200), a second illumination sensor (300), a third illumination sensor (400), a holder (700), and a sensor holder assembly. The main frame has projection areas (S1,S2,S3) to which the light of projector (P) is projected. The first illumination sensor freely moves in the upper projection areas, and measures the illumination of light that is projected by the projector. The second illumination sensor freely moves in the center, and measures the illumination of light that is projected by the projector. The third illumination sensor freely moves in the lower projection area, and measures the illumination of light that is projected by the projector. The holder fixes the projector that projects light toward the main frame. The sensor holder assembly can rotate each illumination sensor in every direction so as to vertically have incident light, which is projected by the projector, on the front surface of each illumination sensor.
Abstract translation: 目的：提供一种用于测量投影仪的光特性的装置，其具有垂直于照明传感器前表面的由投影仪投影的入射光，从而获得准确的光特性值。 构成：用于测量投影仪的光特性的装置包括主框架（100），第一照明传感器（200），第二照明传感器（300），第三照明传感器（400），保持器（700）和 传感器支架组件。 主框架投影投影机（P）的投影区域（S1，S2，S3）。 第一照明传感器在上投影区域中自由移动，并且测量由投影仪投影的光的照明。 第二照明传感器在中心自由移动，并且测量由投影仪投射的光的照明。 第三照明传感器在下投影区域中自由移动，并且测量由投影仪投射的光的照明。 保持架将投影机固定到主框架上。 传感器保持器组件可以在每个方向上旋转每个照明传感器，以便垂直地将由投影仪投影的入射光放置在每个照明传感器的前表面上。
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公开(公告)号：KR101201487B1
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：KR1020110013572
申请日：2011-02-16
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: 본 발명은 엘이디 검사 시간을 단축할 수 있도록 이루어진 엘이디 검사장치에 관한 것이다.
이를 위하여 본 발명은 단수 또는 복수 개의 엘이디 소자들과, 상기 엘이디 소자들에 전원을 공급하기 위한 접속단자를 갖는 엘이디 모듈을 검사함에 있어서, 상기 엘이디 모듈이 안착되는 안착부와, 상기 엘이디 모듈에서 발광되는 빛이 하부로 향하도록 하는 안내홀이 형성된 고정유닛, 상기 고정유닛의 하부에 배치되어, 상기 안내홀과 대향되는 위치에서 상기 엘이디 모듈의 빛이 관통되도록 하기 위한 투명안내부를 가지며, 상기 고정유닛을 지지하는 케이스, 상기 케이스의 내부에 설치되며, 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 측정하여 상기 엘이디의 점등여부 또는 광 특성을 측정하기 위한 측정유닛, 상기 엘이디 모듈의 접속단자에 접촉되어 상기 엘이디 모듈에 전원을 공급하기 위한 이동전극을 갖는 전원공급유닛 그리고 상기 측정유닛과 상기 전원공급유닛을 제어하기 위한 제어유닛을 포함하는 엘이디 검사장치를 제공한다.-
公开(公告)号：KR101047526B1
公开(公告)日：2011-07-08
申请号：KR1020090120211
申请日：2009-12-05
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: H01L33/48
Abstract: 본 발명은 검사효율이 향상된 엘이디 모듈 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 엘이디 모듈 검사 장치는 카트리지, 어레이부 그리고 연결암을 포함하여 이루어진다. 여기서, 카트리지는 엘이디(LED) 모듈이 고정되도록 하고 엘이디 모듈이 전기적으로 연결되도록 한다. 어레이부는 카트리지의 외부에 구비되고 엘이디 모듈과 전기적으로 연결된다. 그리고 연결암은 카트리지를 향해 각각 이동하면서 각 어레이부를 밀어 카트리지가 정위치되도록 교정하고, 어레이부와 전기적으로 연결되어 엘이디 모듈에 전기적 신호가 송수신 되도록 한다.
디스플레이, 패널, 엘이디, LED, 점등검사-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100932247B1
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：KR1020090078356
申请日：2009-08-24
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: 본 발명은 광원의 발광 특성을 측정하기 위한 적분구에 관한 것으로, 구 형상의 중공과; 상기 중공 내부에 설치되는 광원과; 상기 광원을 지지하도록 광원과 중공 사이에 설치되는 광원지지대와; 상기 중공 내부의 공기를 가열하기 위하여 중공 내부 또는 중공 외부에 설치되는 열원과; 상기 중공 내부에서 가열된 공기를 중공에 형성되는 유출공을 통하여 인출하여 다시 중공에 형성되는 유입공을 통하여 중공 내부로 인입시키는 과정을 통해 중공 내부의 공기를 순환시켜 중공 내부의 각 지점의 온도를 일정하게 유지하기 위해 상기 중공 내부와 연통되도록 설치되는 공기순환펌프 또는 상기 중공 내부에서 가열된 공기를 순환시키기 위하여 중공 내부에 설치되는 순환팬을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 온도조절 적분구가 개시된다.
적분구, 열원, 열전소자, 순환팬, 히트파이프, 온도제어Abstract translation: 提供内部循环积分球来控制温度，以提高保持温度的精度，并通过使积分球内部的空气循环而有规律地保持积分球的温度。 用于控制温度的内部循环积分球包括空腔（10），光源（20），光源支架，加热源和循环风扇（110）。 光源安装在空心内。 光源支架安装在光源和空心之间以支撑光源。 加热源加热空腔的内部空气。 循环风扇安装在空心内。 循环风扇利用加热源使在中空部内被加热的空气循环而不流出中空部。
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公开(公告)号：KR1020090094428A
公开(公告)日：2009-09-07
申请号：KR1020090078356
申请日：2009-08-24
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: An internal circulation integrating sphere to control temperature is provided to improve the precision of temperature keeping and maintain the temperature of the integrating sphere regularly by circulating the air inside the integrating sphere. An internal circulation integrating sphere to control temperature comprises a hollow(10), a light source(20), a light source support, a heating source, and a circulation fan(110). The light source is installed inside the hollow. The light source support is installed between the light source and the hollow in order to support the light source. The heating source heats up the inner air of the hollow. The circulation fan is installed inside the hollow. The circulation fan circulates the air heated inside the hollow with heating source without flowing out of the hollow.
Abstract translation: 提供内部循环积分球控制温度，以提高保温精度，并通过使积分球内的空气循环来定期保持积分球的温度。 内部循环积分球控制温度包括中空（10），光源（20），光源支架，加热源和循环风扇（110）。 光源安装在空心中。 为了支撑光源，光源支撑件安装在光源和中空之间。 加热源加热空心的内部空气。 循环风机安装在空心中。 循环风扇使用加热源在空气中加热的空气循环，而不会从中空流出。
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公开(公告)号：KR100691509B1
公开(公告)日：2007-03-12
申请号：KR1020060114590
申请日：2006-11-20
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: H01L33/00
Abstract: A method for measuring the view angle of a wafer-level LED is provided to measure a packaged wafer-level LED or wafer-level LED in which an LED is attached to a wafer by aligning a wafer-level LED with a photodiode and by applying power to the LED. A wafer(30) is positioned on a chuck(40) installed in a prober. The chuck is aligned with the rotation chuck of an arm(10). A probe pin(20) comes in contact with a wafer-level LED(31) and power is applied to the probe pin so that the wafer-level LED or a packaged wafer-level LED emits light. The arm is rotated by the rotation of a motor(50), and the view angle of the wafer-level LED or the packaged wafer-level LED is measured by a photodiode(11) attached to the arm.
Abstract translation: 提供了一种用于测量晶片级LED的视角的方法，用于测量封装的晶片级LED或晶片级LED，其中LED通过将晶片级LED与光电二极管对准并通过施加 给LED供电。 晶片（30）位于安装在探测器中的卡盘（40）上。 卡盘与臂（10）的旋转卡盘对齐。 探针（20）与晶片级LED（31）接触并且电力被施加到探针引脚，使得晶片级LED或封装晶片级LED发光。 臂通过马达（50）的旋转而旋转，并且晶片级LED或封装晶片级LED的视角由附接到臂的光电二极管（11）测量。
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公开(公告)号：KR101392985B1
公开(公告)日：2014-05-08
申请号：KR1020127016772
申请日：2009-12-17
Applicant: 광전자정밀주식회사
IPC: G01J1/08
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 본발명은광원이방출하는빛의특성을효율적으로측정할수 있는광원핸들링장치및 이를이용한광특성측정장치에관한것이다. 이를위해, 본발명은본체베이스, 상기본체베이스의상부에설치되며상기본체베이스에대하여회전이동되는제1 본체유닛, 상기제1 본체유닛의상부에설치되며상기본체베이스에대하여직선이동되는제2 본체유닛, 그리고상기제2 본체유닛과결합되며, 측정하고자하는광원을잡아주기위한홀더유닛을포함하는광원핸들링장치및 이를이용한광특성측정장치를제공한다.
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公开(公告)号：KR1020130080609A
公开(公告)日：2013-07-15
申请号：KR1020120001499
申请日：2012-01-05
Applicant: 광전자정밀주식회사
Abstract: PURPOSE: An in-line type light emitting diode (LED) inspection system and a control method thereof are provided to consecutively implement a lighting inspection, an optical property inspection, and a withstand voltage inspection on an LED lamp on one conveying line, thereby reducing time for inspection. CONSTITUTION: An in-line type light emitting diode (LED) inspection system includes a loading part (100), an unloading part (700), a conveying part (800), and an optical property measuring part (600). The loading part loads an LED lamp (10) to be inspected on a module mounting part (30). The unloading part unloads the lamp after an inspection on the lamp is finished. The module mounting part is mounted on the conveying unit, and the conveying unit has a conveying line connecting the loading part and the unloading part in order to consecutively convey the lamps. The optical property measuring part on the conveying line measures light source information including the intensity and color information of a light from the lamp, determines whether or not the optical property of the lamp is normal with comparing the light source information with the referential information of the lamp, or determines the grade of the lamp.
Abstract translation: 目的：提供一种在线式发光二极管（LED）检测系统及其控制方法，以连续对一条输送线上的LED灯进行照明检查，光学性能检查和耐压检查，从而减少 检查时间。 构成：在线式发光二极管（LED）检查系统包括装载部分（100），卸载部分（700），传送部分（800）和光学性质测量部分（600）。 装载部分装载要在模块安装部分（30）上检查的LED灯（10）。 在灯完成检查后，卸载部件卸下灯泡。 模块安装部分安装在输送单元上，输送单元具有连接装载部分和卸载部分的输送线，以便连续地传送灯。 输送线上的光学特性测量部分测量包括来自灯的光的强度和颜色信息的光源信息，通过将光源信息与参考信息进行比较来确定灯的光学特性是否正常 灯，或确定灯的等级。
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