Abstract:
본 발명은 이종접합 쌍극자 소자의 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명은 반도체 기판상에 완충층, 부컬렉터층, 컬렉터층, 베이스층, 에미터층 및 에미터 캡층을 순차적으로 형성하는 단계; 상기 에미터 캡층의 선택된 영역에 에미터 전극을 형성하는 단계; 상기 베이스층의 선택된 영역을 노출시키면서 패턴을 형성하기 위한 식각 공정을 실시한 후, 패턴화된 에미터 캡 및 에미터층의 양측벽에 폴리이미드막을 형성하는 단계; 노출된 상기 베이스층상의 선택된 영역에 베이스 전극을 형성하는 단계; 상기 컬렉터층의 일부분을 노출시키면서 패턴을 형성하기 위한 식각 공정을 실시한 후, 패턴화된 베이스 및 일부 컬렉터층의 양측벽에 P-SiN막을 형성하는 단계; 상기 부컬렉터층의 일부분을 노출시키면서 잔류 컬렉터층 및 부컬렉터층 일부가 역경사 형상이 되도록 식각한 후, 잔류된 부컬렉터층의 선택된 영역에 컬렉터 전극을 형성하는 단계; 및 열처리를 실시하여 상기 패턴화된 베이스층, 상기 컬렉터층 및 상기 부컬렉터층의 일부가 비소자 영역이 되도록 하는 단계를 포함하여 이루어지며, 소자의 고속 및 고주파 특성을 향상시킬 수 있는 이종접합 쌍극자 소자의 제조 방법을 제공한다.
Abstract:
PURPOSE: A structure of bias circuit for power amplifier including integrated type transformer and manufacturing method thereof is provided to manufacture high-speed power circuit, and a bias circuit including an integrated type transformer within the same chip in the form of an integrated circuit, improve the high-speed performance of the high-speed power circuit, and maximize a conversion efficiency by using a manufacturing process of a heterojunction bipolar transistor. CONSTITUTION: An epi layer is composed of a buffer layer(42), a sub-collector layer(43), a collector layer(44), a base layer(45), an emitter layer(46), and a cap layer(47) which are sequentially grown on a semi dielectric compound substrate(41). A resistant emitter metal electrode(48) is formed by etching selectively the top of the emitter layer(46) of the epi layer. A resistant base metal electrode(49) is formed by etching selectively the top of the base layer(45). A resistant collector metal electrode(50) is connected to the resistant base metal electrode(49) by etching selectively the top of the sub-collector layer(43). A first wiring metal(51) is formed to connect a heterojunction bipolar transistor with an integrated transformer on the top of the buffer layer(42) through a device isolating etching process. A first dielectric surface protect film(55) includes a first via hole(53) formed thereon. A magnetic field induced iron core(54) includes a second wiring metal formed on the top including the first via hole(53). A second dielectric surface protecting film(55) including a second via hole(56) is formed on the top including the magnetic field induced iron core(54). A third wiring metal(57) is formed on the top including the second via hole(56).
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing an ohmic electrode of a hetero-junction bipolar transistor is provided to improve the process efficiency by forming the ohmic electrode using a sputtering deposition method and a lift off method. CONSTITUTION: An epi substrate of a hetero-junction bipolar transistor is manufactured. Then, an emitter area(16), a base area(17) and a collector area(18) for forming an ohmic contact are defined in the epi substrate using a mesa etching process. A dual insulating layer is formed on the entire surface of the epi substrate. Then, a protrusion for the lift off is formed by performing a dry etching and a wet etching processes. An ohmic electrode having a tungsten based metal layer is formed on the surface of the emitter area(16), the base area(17) and the collector area(18).
Abstract:
PURPOSE: A method is provided to enhance the reliability of a hetero-junction dipole transistor and to simplify electrode formation processes by using electrodes of the same OHmic metal for the emitter, base, and collector. CONSTITUTION: A vice collector layer(2), a collector layer(3), a base layer(4), and an emitter layer(5) are sequentially formed on a chemical semiconductor substrate. The emitter layer(5) is selectively etched to formed an emitter. The base layer(4) and the collector layer(3) are selectively etched to form a base and a collector. An emitter cap layer(7) is formed on the entire upper portion of the structure. A boundary portion of the collector of the emitter cap layer(7) and the emitter cap layer(7) is selectively etched to isolate the emitter cap layer(7) and the collector. An OHmic electrode is formed on the emitter cap layer(7).
Abstract:
PURPOSE: A method of manufacturing a heterojunction bipolar transistor is provided to better high speed and high frequency characteristics by improving the junction capacitance between a base and a collector. CONSTITUTION: A method of manufacturing a heterojunction bipolar transistor comprises the steps of: sequentially forming a buffer layer, sub-collector layer, a base layer, an emitter layer and an emitter cap layer on a semiconductor substrate; forming an emitter electrode on a selected region of the emitter cap layer; etching for making a pattern while exposing a selected region of the base layer and forming a polyimide layer on both sidewalls of patterned emitter cap and emitter layer; forming a base electrode on a selected region of the exposed base layer; etching for making a pattern while exposing a part of the collector layer and forming P-SiN layer on both sidewalls of a patterned base and a part of the collector layer; etching a remaining collector layer and a part of the sup-collector layer to be formed of an opposite inclination while exposing a part of the sub-collector layer and forming a collector electrode on a selected region of a remaining sub-collector layer; and making the patterned base layer, the collector layer and the sub-collector layer become a non-device region by thermal treatment.
Abstract:
PURPOSE: A heterojunction bipolar transistor with hybrid base is provided to reduce a parasitic resistible component of a base layer and a parasitic capacitance component of a base-collector junction. CONSTITUTION: On an upper portion of a first semiconductor substrate(201), a first buffer layer film(202), a sub-collector layer film(203), a collector layer film(204), and a first base layer film(205) are deposited sequentially to form a first epi layer for connecting a base and a collector. And, on an upper portion of a second semiconductor substrate(210), a second buffer layer film(209), a sub-emitter layer film(208), an emitter layer film(207), and a second base layer film(206) are deposited sequentially to form a second epi layer for connecting a base and a collector. The first and second base layer films are heavily doped, such that it is unnecessary to etch the base layer film.
Abstract:
본 발명은 이종접합 쌍극자 트랜지스터 전자 소자에 대한 것으로, 에미터층 박막에서 주입되어 베이스층 박막을 통하여 컬렉터층 박막으로 이동하는 전자에 적절한 방향의 자계에 의한 힘을 가하여 줌으로써 소자의 고속 동작 특성을 개선하기 위한 자계효과 이종접합 쌍극자 트랜지스터 소자에 관한 것이다. 종래의 이종접합 쌍극자 트랜지스터 소자에 있어서, 소자의 동작속도는 베이스층 박막 및 베이스-컬렉터 공간 전하층과 컬렉터층 박막을 이동하는 전자의 이동속도에 의하여 주로 결정되어 왔다. 특히 베이스-컬렉터 공간 전하층과 컬렉터층 박막의 이동속도는 전계에 의하여 결정되는 물질 정수인 전자 포화속도에 의하여 결정되어 소자의 동작속도를 제한되는 문제가 있어 왔다. 따라서, 본 발명은 베이스-컬렉터 공간 전하층과 컬렉터층 박막을 통과하는 전자에 전계뿐만 아니라 자계를 동시에 인가할 수 있는 소자 구조를 제안하여 이종접합 쌍극자 트랜지스터 소자의 동작속도 성능을 향상시킬 수 있도록 한다.
Abstract:
본 발명은 실리콘을 n형 불순물로 사용하는 3-5족 화합물 반도체의 오믹접촉(ohmic contact)을 형성하는 방법에 관한 것으로, 반도체 표면에 고농도의 실리콘 이온을 주입하여 실리콘 이온주입층을 형성하고, 상기 실리콘 이온주입층위에 팔라듐 박막, 확산 방지막 및 금속 배선막을 차례로 적층한 후, 기판을 열처리하여 상기 실리콘 이온주입층과 팔라듐 박막을 팔라듐 실리사이드화하는 것에 의해 3-5족 화합물 반도체와 금속 배선막사이에 오믹 접촉을 형성한다. 본 발명은 갈륨비소(GaAs), 알루미늄갈륨비소(AlGaAs),인듐갈륨비소(InGaAs), 인듐인(InP), 인듐갈륨인(InGaP) 등 실리콘을 n형 불순물로 사용하는 모든 3-5족 화합물 반도체에 오믹접촉을 형성 하기 위해 적용될 수 있다.
Abstract:
본 발명은 광 소자와 전자 소자를 동일 기판상에 형성하고 결합하여 광 통신 시스템 등에서 전송된 광 신호를 직접 전기 신호로 변환시킬 수 있는 결합 소자의 구조에 관한 것으로, 기존의 광 소자와 전자 소자의 경우에는 각각의 광소자와 전자 소자를 별도로 제작, 패키지하여 모듈로 만들어서 결합하거나 또는 와이어 본딩 등을 이용하여 함께 패키지하는 방법을 이용하였으나 본원 발명은 기판의 일측에 전자 소자로서 이종접합 쌍극자 트랜지스터를 제조하고, 기판의 타측에 광 소자로서 PIN 광 다이오드를 제조하여 서로 전기적으로 연결한 구성을 가지고 있다. 따라서 본원 발명은 전자 소자와 광 소자의 결합, 연결 과정에서 발생하는 각종 기생 성분을 제거할 수 있어 소자의 성능을 향상시킬 수 있다.
Abstract:
1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야 화합물 반도체 장치 제조 방법. 2. 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제 화합물 반도체 소자 제조 방법에 있어서, 전력 소자의 동작중에 발생하는 열 방출을 효율적으로 제어할 수 있는 그러한 비아홀의 형성 방법을 개선시킨 화합물 반도체 소자의 제조 방법을 제공함을 그 목적으로 한다. 3. 발명의 해결 방법의 요지 화합물 반도체 기판 상부에 패드 전극 패턴을 형성하는 제1단계; 상기 제1단계의 공정을 마친 화합물 반도체 기판의 이면에 서로 다른 재료로 구성된 2중 식각 마스크 패턴을 형성하는 제2단계; 상기 제2단계에서 형성된 마스크 패턴을 이용하여 상기 화합물 반도체 기판의 이면의 소정 두께를 습식 식각공정하는 제3단계; 상기 제3단계후의 노출된 화합물 반도체 기판의 이면에 이온 주입을 실시하는 제4단계; 및 상기 제4단계후에 격자 정합이 파괴된 노출된 화합물 반도체 기판의 이면을 건식 식각 공정한다. 4. 발명의 중요한 용도 반도체 장치 제조 공정에 이용됨.