公开(公告)号：GB2501521A

公开(公告)日：2013-10-30

申请号：GB201207338

申请日：2012-04-27

Applicant: IBM

Inventor： PANTAZI ANGELIKI ,  CHERUBINI GIOVANNI ,  JELITTO JENS

IPC: G11B5/584

Abstract: An apparatus for operating a tape storage device comprises a first tape skew determination unit DUS1 for providing a first tape skew value DTS1 concerning a skew of a tape in the tape storage device, and a second tape skew determination unit DUS2 for providing a second tape skew value DTS2 concerning the skew of the tape. An actuator SA adjusts one or more of a rotational orientation of a tape head and a motion direction of the tape, dependent on the first tape skew value and the second tape skew value. The first tape skew may be based on servo information prewritten to servo bands for allowing determining of a lateral tape position. The second tape skew value may be derived from two consecutive lateral positions of the tape detected by an optical detector.

公开(公告)号：GB2498943A

公开(公告)日：2013-08-07

申请号：GB201201593

申请日：2012-01-31

Applicant: IBM ,  ETH ZUERICH

Inventor： PANTAZI ANGELIKI ,  SEBASTIAN ABU ,  TUMA TOMAS ,  LYGEROS JOHN

IPC: G01D18/00 ,  G01D5/244 ,  G05B19/4103 ,  G06Q10/04

Abstract: The invention relates to a method for evaluating a trajectory function to be followed by a physical system. The applications relates to operational research, robotics, scanning or imaging where, for example, a trajectory has to be defined for scanning in an optical manner. The method comprises providing the trajectory function and then determining a set of sampling points by sampling a trajectory based on the trajectory function in the time domain. The method also provides for a cell to be associated with each of the sampling points and then assessing at least one cell metric for each of the cells. Aggregating of the at least one cell metric of the cells is done to obtain an aggregated metric measure and then the trajectory is evaluated as determined by the provided trajectory function depending on the one or more aggregated metric measures.

公开(公告)号：GB2496822A

公开(公告)日：2013-05-22

申请号：GB201304453

申请日：2011-08-26

Applicant: IBM

Inventor： ELEFTHERIOU EVANGELOS ,  PANTAZI ANGELIKI ,  PAPANDREOU NIKOLAOS ,  POZIDIS CHARALAMPOS ,  SEBASTIAN ABU

IPC: G11C13/00 ,  G11C11/56 ,  H01L45/00

Abstract: Methods and apparatus are provided for determining the state of a phase-change memory cell. A plurality of measurements are made on the cell, the measurements being dependent on the sub-threshold current-versus-voltage characteristic of the cell. The measurements are processed to obtain a metric which is dependent on the slope of the sub- threshold current-versus-voltage characteristic. The state of the cell is then determined in dependence on this metric which, unlike absolute cell resistance,is substantially unaffected by drift.

公开(公告)号：DE112011102156T5

公开(公告)日：2013-05-16

申请号：DE112011102156

申请日：2011-08-26

Applicant: IBM

Inventor： SEBASTIAN ABU ,  ELEFTHERIOU EVANGELOS S ,  PANTAZI ANGELIKI ,  PAPANDREOU NIKOLAOS ,  POZIDIS CHARALAMPOS

IPC: G11C13/00

Abstract: Verfahren und Vorrichtungen zum Ermitteln des Zustands einer Phasenwechselspeicherzelle werden bereitgestellt. Eine Vielzahl von Messungen wird an der Zelle durchgeführt, wobei die Messungen von der unterschwelligen Strom/Spannungs-Kennlinie der Zelle abhängig sind. Die Messungen werden verarbeitet, um eine Maßzahl zu erhalten, welche von der Steigung der unterschwelligen Strom/Spannungs-Kennlinie abhängig ist. Der Zustand der Zelle wird dann in Abhängigkeit von dieser Maßzahl ermittelt, welche, im Gegensatz zum absoluten Zellenwiderstand, von Drift im Wesentlichen unbeeinflusst ist.

公开(公告)号：DE112010004916T5

公开(公告)日：2012-10-25

申请号：DE112010004916

申请日：2010-12-17

Applicant: IBM

Inventor： CHERUBINI GIOVANNI ,  PANTAZI ANGELIKI ,  JELITTO JENS

IPC: G11B5/56

Abstract: Verfahren zum Betreiben einer Speichereinheit mit einem Band (TP) und einem Kopf (HU), der funktionsmäßig in der Lage ist, Daten von dem Band (TP) zu lesen beziehungsweise darauf zu schreiben. Das Band (TP) ist in einer vorab festgelegten Längsrichtung (X) beweglich. Mindestens zwei aufeinander folgende aktuelle seitliche Bandpositionen (yx(t1), yx(t2)) des Bandes (TP) werden in Bezug auf einen vorab festgelegten Bezugspunkt (REF) an einer vorab festgelegten Längserfassungsposition ermittelt. Ein Bandschräglauf (&thetas;) des Bandes (TP) wird abhängig von den mindestens zwei ermittelten seitlichen Positionen (yx(t1), yx(t2)) festgestellt. Der Bandschräglauf (&thetas;) entspricht einem Winkel zwischen einer aktuellen Bandbewegungsrichtung (TMD) des Bandes (TP) und der Längsrichtung (X). Ein Schräglaufsteuersignal (uϑ) wird abhängig von dem festgestellten Bandschräglauf (&thetas;) bestimmt. Eine Kopfdrehposition (ϑ) des Kopfs (HU) wird abhängig vom Schräglaufsteuersignal (uϑ) so gesteuert, dass der Kopf (HU) an der aktuellen Bandbewegungsrichtung (TMD) in der Weise ausgerichtet wird, dass der Kopf (HU) funktionsmäßig zum Lesen und/oder Schreiben von Daten in der Lage ist.

公开(公告)号：GB2487135A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：GB201200428

申请日：2010-09-13

Applicant: IBM

Inventor： PANTAZI ANGELIKI ,  ELEFTHERIOU EVANGELOS ,  JELITTO JENS ,  BUI NHAN XUAN

IPC: G11B5/584

Abstract: Various embodiments for addressing time-varying periodic disturbances in a servo control system are provided. Each of a plurality of coefficients is updated based on an estimation of at least one disturbance frequency. The updated plurality of coefficients is provided to at least one peak filter modifying an input signal of the servo control system. The peak filter is operable in view of the updated plurality of coefficients to cancel at least 10 one of the time-varying periodic disturbances.

公开(公告)号：DE112016000720B4

公开(公告)日：2022-12-29

申请号：DE112016000720

申请日：2016-03-09

Applicant: IBM

Inventor： HAEBERLE WALTER ,  PANTAZI ANGELIKI ,  SEBASTIAN ABU ,  TUMA TOMAS

IPC: G01V3/08 ,  A61B5/06 ,  G01B7/14 ,  G01D5/16 ,  G01R33/09

Abstract: Sensoranordnung zur Positionserfassung, aufweisendein erstes magnetoresistives Element (1) und ein zweites magnetoresistives Element (2),eine Magnetfeldquelle (3), die ein Magnetfeld mit einem ersten Magnetpol (N) und einem zweiten Magnetpol (S) bereitstellt, undeine Messeinheit,wobei die Magnetfeldquelle (3) zwischen dem ersten magnetoresistiven Element (1) und dem zweiten magnetoresistiven Element (2) angeordnet ist, wobei der erste Magnetpol (N) dem ersten magnetoresistiven Element (1) zugewandt ist und der zweite Magnetpol (S) dem zweiten magnetoresistiven Element (2) zugewandt ist,wobei das erste magnetoresistive Element (1) in dem Magnetfeld angeordnet ist und ein erstes Ausgangssignal (R1) bereitstellt, das von einer Position des ersten magnetoresistiven Elements (1) in Bezug auf die Magnetfeldquelle (3) abhängt,wobei das zweite magnetoresistive Element (2) in dem Magnetfeld angeordnet ist und ein zweites Ausgangssignal (R2) bereitstellt, das von einer Position des zweiten magnetoresistiven Elements (2) in Bezug auf die Magnetfeldquelle (3) abhängt,wobei die Messeinheit dafür ausgelegt ist, eine Position der Magnetfeldquelle (3) in Bezug auf das erste und das zweite magnetoresistive Element (1, 2) abhängig von dem ersten Ausgangssignal (R1) und dem zweiten Ausgangssignal (R2) zu bestimmen,wobei jedes der magnetoresistiven Elemente (1, 2) einen Stapel (11) von Schichten aufweist, einschließlich mindestens einer leitenden Schicht (112) zwischen zwei magnetischen Schichten (111, 113), wobei diese Schichten eine Längsausdehnung (L) entlang einer Längsachse (X) und eine seitliche Ausdehnung entlang einer Querachse (Y) haben,wobei die Magnetfeldquelle eine Dipolachse (DA) hat, die durch den ersten und den zweiten Magnetpol (N, S) definiert wird, die sich entlang einer vertikalen Achse (Z) senkrecht zu einer Ebene erstreckt, die durch die Längsachse (X) und die Querachse (Y) definiert wird,wobei die Sensoranordnung zusätzlich aufweist:mehrere erste magnetoresistive Elemente (1), die in dem Magnetfeld in einer Reihe entlang der Längsachse (X) angeordnet sind und dem ersten Magnetpol (N) zugewandt sind, undinsbesondere zusätzlich mehrere zweite magnetoresistive Elemente (2), die in dem Magnetfeld in einer Reihe entlang der Längsachse (X) angeordnet sind und dem zweiten Magnetpol (S) zugewandt sind, wobei die Magnetfeldquelle (3) in Bezug auf die mehreren ersten magnetoresistiven Elemente (1) so dimensioniert ist, dass das Magnetfeld gleichzeitig immer nur ein einziges (1a) der mehreren ersten magnetoresistiven Elemente (1) beeinflusst, aber nicht die angrenzenden ersten magnetoresistiven Elemente (1b, 1c),wobei insbesondere die Magnetfeldquelle (3) ein Dauermagnet ist, der eine Breite (W) hat, die kleiner als die Längsausdehnung (L) der ersten magnetoresistiven Elemente (1) ist,wobei die Messeinheit dafür ausgelegt ist, das einzelne erste magnetoresistive Element (1a) von den mehreren magnetoresistiven Elementen (1) zu identifizieren, das eine Änderung in seinem ersten Ausgangssignal (R1) zeigt, wobei sich diese Änderung daraus ergibt, dass sich die Magnetfeldquelle (3) an dem einzelnen ersten magnetoresistiven Element (1a) vorbeibewegt, wobei die Messeinheit dafür ausgelegt ist, die Position (x) entlang der Längsachse (X) von einer bekannten Position des einzelnen ersten magnetoresistiven Elements (1a) in der Reihe der mehreren ersten magnetoresistiven Elemente (1) abzuleiten.

公开(公告)号：DE112012000372B4

公开(公告)日：2015-05-21

申请号：DE112012000372

申请日：2012-02-24

Applicant: IBM

Inventor： PANTAZI ANGELIKI ,  SEBASTIAN ABU ,  PAPANDREOU NIKOLAOS ,  POZIDIS CHARALAMPOS ,  FREY URS

IPC: G11C16/10 ,  G11C11/56 ,  G11C16/02

Abstract: Verfahren zum Programmieren einer Phasenwechselspeicherzelle (10), wobei das Verfahren aufweist: (a) Anlegen eines Vorspannungssignals (VBL) an die Zelle, wobei ein Messabschnitt (m) des Vorspannungssignals ein Profil hat, das mit der Zeit variiert; (b) Durchführen einer Messung (TM) abhängig davon, ob eine vorbestimmte Bedingung erfüllt ist, wobei diese Bedingung vom Zellstrom während des Messabschnitts des Vorspannungssignals abhängig ist; (c) Erzeugen eines Programmiersignals in Abhängigkeit von der Messung (TM); und (d) Anlegen des Programmiersignals, um die Zelle (10) zu programmieren.

公开(公告)号：DE112013000835T5

公开(公告)日：2014-10-16

申请号：DE112013000835

申请日：2013-04-24

Applicant: IBM

Inventor： CHERUBINI GIOVANNI ,  JELITTO JENS ,  PANTAZI ANGELIKI

IPC: G11B5/584

Abstract: Eine Vorrichtung zum Betreiben einer Bandspeichereinheit weist eine erste Bandschräglauf-Ermittlungseinheit (DUS1) zum Bereitstellen eines ersten Bandschräglaufwertes (DTS1) in Bezug auf einen Schräglauf eines Bandes (TP) in der Bandspeichereinheit, und eine zweite Bandschräglauf-Ermittlungseinheit (DUS2) zum Bereitstellen eines zweiten Bandschräglaufwertes (DTS2) in Bezug auf den Schräglauf des Bandes (TP) auf. Ein Betätigungselement (SA) passt mindestens eine einer Drehausrichtung eines Bandkopfes (TH) der Bandspeichereinheit, wobei der Bandkopf (TH) zum Lesen und/oder Schreiben von Daten von dem/auf das Band (TP) bereitgestellt wird, und einer Bewegungsrichtung (TMD) des Bandes (TP) in Abhängigkeit von dem ersten Bandschräglaufwert (DTS1) und dem zweiten Bandschräglaufwert (DTS2) an.

公开(公告)号：DE112012000372T5

公开(公告)日：2013-10-17

申请号：DE112012000372

申请日：2012-02-24

Applicant: IBM

Inventor： PANTAZI ANGELIKI ,  SEBASTIAN ABU ,  PAPANDREOU NIKOLAOS ,  POZIDIS CHARALAMPOS ,  FREY URS

IPC: G11C16/10

Abstract: Es werden Verfahren und Vorrichtungen zum Programmieren einer Phasenwechselspeicherzelle (10) bereitgestellt. Ein Vorspannungssignal (VBL) wird an die Zelle angelegt. Ein Messabschnitt (m) des Vorspannungssignals hat ein Profil, das mit der Zeit variiert. Eine Messung (TM), die von der Erfüllung einer vorbestimmten Bedingung abhängig ist, wird dann durchgeführt. Die vorbestimmte Bedingung ist vom Zellstrom während des Messabschnitts (m) des Vorspannungssignals abhängig. Ein Programmiersignal wird in Abhängigkeit von der Messung (TM) erzeugt, und das Programmiersignal wird angelegt, um die Zelle (10) zu programmieren.