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公开(公告)号：DE102018128264A1
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：DE102018128264
申请日：2018-11-12
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , FAHRBACH FLORIAN , FRANKE CHRISTOF , FEHRER DIRK-OLIVER
Abstract: Gezeigt ist ein Lichtblattmikroskop mit einem Detektionsobjektiv (12) zum Abbilden eines Zielbereichs (36) einer Probe (16), der sich in einer Fokusebene des Detektionsobjektivs (12) befindet, einem Beleuchtungsobjektiv (14) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (38) in die Probe, wobei das Detektionsobjektiv (12) und das Beleuchtungsobjektiv (14) einander gegenüberliegen, und die optische Achse des Detektionsobjektivs (12) und die optische Achse des Beleuchtungsobjektivs (14) parallel zueinander sind, einer ersten Lichtumlenkvorrichtung (18) mit wenigstens einer ersten und einer zweiten Umlenkfläche (26, 28), die versetzt zur optischen Achse des Detektionsobjektivs (12) angeordnet und ausgebildet sind, das durch das Beleuchtungsobjektiv (14) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (38) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse des Detektionsobjektivs (12) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (38) eine in die Fokusebene fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung bildet, und einer zweite Lichtumlenkvorrichtung (20, 44, 52), die ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (14) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (38) auf wenigstens eine der beiden Umlenkflächen (26, 28) der ersten Lichtumlenkvorrichtung (18) umzulenken.
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公开(公告)号：DE102018222839A1
公开(公告)日：2020-02-13
申请号：DE102018222839
申请日：2018-12-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN
Abstract: Beleuchtungsanordnung (9) für ein Mikroskop (1), insbesondere ein Lichtblatt- oder SPIM-Mikroskop (3) oder ein Schiefeebenemikroskop, wie ein OPM- oder SCAPE-Mikroskop, zur Beleuchtung einer Probe mit einem Lichtblatt (35), wobei die Beleuchtungsanordnung (9) einen Beleuchtungseingang (5) zur Einspeisung eines Beleuchtungsstrahlenbündels (7) entlang einer optischen Achse (17) der Beleuchtungsanordnung (9), einen einer Probenseite (19) zugewandten Beleuchtungsausgang (6) zur Ausgabe des Beleuchtungsstrahlenbündels (7) zur Probenseite (19) und ein fokussierendes optisches System (13) mit festgelegter Schärfentiefe (31) umfasst. Beleuchtungsanordnungen (9) aus dem Stand der Technik arbeiten mit einem Kompromiss zwischen der Dicke des Lichtblattes (35) und der Ausdehnung des Lichtblattes (35). Die vorliegende Erfindung erlaubt die Erzeugung eines schmalen und langen Lichtblattes (35), indem die Beleuchtungsanordnung (9) mindestens ein optisches Modifikationselement (47) zur geometrischen Modifikation des Beleuchtungsstrahlenbündels (7) aufweist, wobei am probenseitigen Beleuchtungsausgang (6) der Beleuchtungsanordnung (9) unterschiedliche Strahlen (21) des Beleuchtungsstrahlenbündels (7) die optische Achse (17) innerhalb eines Achsenschnittbereichs (69) schneiden, und indem sich der Achsenschnittbereich (69) entlang der optischen Achse (17) über mindestens die Schärfentiefe (31) des fokussierenden optischen Systems (13) erstreckt.
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公开(公告)号：DE102018204940A1
公开(公告)日：2019-10-02
申请号：DE102018204940
申请日：2018-03-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN
Abstract: Die Erfindung betrifft ein optisches System (1), umfassend eine Beleuchtungsvorrichtung (7) zum Erzeugen von Beleuchtungslicht (13), eine Aufrichtungsoptik (17) und eine Scanvorrichtung (49) zur Erzeugung einer zeitlichen Abfolge mindestens zweier verkippter Beleuchtungsebenen (29) zum Beleuchten eines stationären Probenvolumens (33). Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Beleuchten eines Probenvolumens (33). Optische Systeme (1) und Verfahren aus dem Stand der Technik haben den Nachteil, dass diese einen komplexen Strahlengang aufweisen und mit diesen eine inhomogene Probenbeleuchtung erhalten wird. Das erfindungsgemäße optische System (1) verbessert die Lösungen aus dem Stand der Technik dadurch, dass die mindestens zwei verkippten Beleuchtungsebenen (29) parallel zueinander angeordnet sind. Im erfindungsgemäßen Verfahren werden zeitlich aufeinanderfolgende Beleuchtungsebenen (29) von einer Scanvorrichtung (49) parallel zueinander versetzt.
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公开(公告)号：DE102018129833A1
公开(公告)日：2019-06-06
申请号：DE102018129833
申请日：2018-11-26
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN
Abstract: Es wird ein Mikroskopsystem (200) zur Abbildung einer Probe (213) vorgeschlagen, mit einer Detektionseinheit (201), die eine Strahlteileranordnung (100) mit mehreren Strahlteilern (A-G) aufweist, und mit einer Beleuchtungseinheit (211), die Beleuchtungslicht auf die Probe (213) einstrahlt, wobei das Mikroskopsystem (200) Probenlicht, das aufgrund der Einstrahlung des Beleuchtungslichts auf die Probe (213) von der Probe (213) abgestrahlt wird, in die Strahlteileranordnung (100) einstrahlt und die Strahlteileranordnung (100) das in die Strahlteileranordnung (100) eingestrahlte Probenlicht mittels eines oder mehrerer der Strahlteiler (A-G), der oder die jeweils in einer Wirkposition angeordnet ist oder sind, in unterschiedliche Lichtanteile zerlegt und zumindest einen Teil der unterschiedlichen Lichtanteile getrennt voneinander aus der Strahlteileranordnung (100) ausstrahlt. Es ist vorgesehen, dass die Strahlteileranordnung (100) Verstellmittel (V) aufweist, die nach Maßgabe einer Ansteuerung den oder zumindest einen der mehreren Strahlteiler (A-G), der oder die jeweils in seiner oder ihrer Wirkposition angeordnet ist oder sind, aus der jeweiligen Wirkposition bringen und stattdessen einen oder mehrere andere Strahlteiler (A-G) und/oder ein oder mehrere andere optische Elemente (X) in die jeweilige Wirkposition bringen, wobei das Mikroskopsystem (200) Einzelbilddaten erfasst, die den getrennt voneinander aus der Strahlteileranordnung (100) ausgestrahlten Lichtanteilen entsprechen. Eine Detektionseinheit zur Ankopplung an ein entsprechendes Mikroskopsystem (200) und ein Verfahren zur mikroskopischen Abbildung einer Probe (213) sind ebenfall Gegenstand der vorliegenden Erfindung.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102017223787B3
公开(公告)日：2019-05-09
申请号：DE102017223787
申请日：2017-12-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (85) zur Bestimmung der Brechzahl (n) eines in einem Probenraum (17) angeordneten Probenmediums (27), ein nichtflüchtiges computerlesbares Speichermedium (163) und ein Mikroskop (1). Verfahren und Vorrichtungen zur Bestimmung der Brechzahl (n) eines Probenmediums (27) sind aus dem Stand der Technik bekannt. Diese weisen jedoch den Nachteil auf, dass sie langsam sind, eine hohe Beleuchtungsintensität erfordern oder die Aufnahme eines Bildes notwendig ist. Die Erfindung löst die Probleme der Lösungen des Standes der Technik für die eingangs genannte Vorrichtung (85), das Verfahren, das nichtflüchtige Speichermedium (163) und das Mikroskop (1), gemäß dem Wortlaut der entsprechenden, auf diesen Gegenstand bzw. auf dieses Verfahren gerichteten Ansprüche.
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公开(公告)号：DE102017107733B4
公开(公告)日：2019-01-31
申请号：DE102017107733
申请日：2017-04-10
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN , KNEBEL WERNER
Abstract: Lichtblattmikroskop (10), umfassend:ein Detektionsobjektiv (32) zum Abbilden eines Zielbereichs (58) einer Probe (44), der sich in einer Fokusebene (54) des Detektionsobjektivs (32) befindet,ein Beleuchtungsobjektiv (20) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (50) in die Probe (44),wobei das Detektionsobjektiv (32) und das Beleuchtungsobjektiv (20) mit ihren senkrecht zur Fokusebene (54) ausgerichteten optischen Achsen (O, O) derart einander gegenüber liegen, dass sie einander mit ihren koaxialen oder zumindest parallelen optischen Achsen (O, O) gegenüberstehen, und zwischen sich einen die Fokusebene (54) enthaltenden Probenraum (38) definieren,einen Probenhalter (40) mit mindestens einer in dem Probenraum (38) angeordneten Trägerfläche (42), auf der die Probe (44) anbringbar ist, undeine Lichtumlenkvorrichtung (46) mit einer Umlenkfläche (48), die in dem Probenraum (38) seitlich versetzt zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) angeordnet und ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (20) hindurchtretende Beleuchtungslichtbündel (50) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (50) eine in die Fokusebene (54) fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung (52) bildet,wobei die Lichtumlenkvorrichtung (46) einen der Trägerfläche (42) zugewandten Kollisionsabschnitt (86) hat, der für die Trägerfläche (42) einen mechanischen Anschlag an die Lichtumlenkvorrichtung (46) definiert, der eine koplanare Anordnung der Trägerfläche (42) in der Fokusebene (54) verhindert,dadurch gekennzeichnet, dass die Trägerfläche (42) gegenüber der Fokusebene (54) unter einem vorbestimmten Neigungswinkel derart geneigt ist, dass ein Teil der Trägerfläche (42) in der Fokusebene (54) angeordnet ist.
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公开(公告)号：DE102017107733A1
公开(公告)日：2018-10-11
申请号：DE102017107733
申请日：2017-04-10
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN , KNEBEL WERNER
Abstract: Beschrieben ist ein Lichtblattmikroskop (10), umfassend ein Detektionsobjektiv (32) zum Abbilden eines Zielbereichs (58) einer Probe (44), der sich in einer Fokusebene (54) des Detektionsobjektivs (32) befindet, ein Beleuchtungsobjektiv (20) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (50) in die Probe (44), wobei das Detektionsobjektiv (32) und das Beleuchtungsobjektiv (20) mit ihren senkrecht zur Fokusebene (54) ausgerichteten optischen Achsen (O, O) einander gegenüber liegen und zwischen sich einen die Fokusebene (54) enthaltenden Probenraum (38) definieren, einen Probenhalter (40) mit mindestens einer in dem Probenraum (38) angeordneten Trägerfläche (42), auf der die Probe anbringbar (44) ist, und eine Lichtumlenkvorrichtung (46) mit einer Umlenkfläche (48), die in dem Probenraum (38) seitlich versetzt zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) angeordnet und ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (20) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (50) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (50) eine in die Fokusebene (54) fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung (52) bildet, wobei die Lichtumlenkvorrichtung (46) einen der Trägerfläche (42) zugewandten Kollisionsabschnitt (86) hat, der für die Trägerfläche (42) einen mechanischen Anschlag an die Lichtumlenkvorrichtung (46) definiert, der eine koplanare Anordnung der Trägerfläche (42) in der Fokusebene (54) verhindert. Die Trägerfläche (42) ist gegenüber der Fokusebene (54) unter einem
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38.发明专利
公开(公告)号：LU92696B1
公开(公告)日：2016-10-18
申请号：LU92696
申请日：2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
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39.发明专利
公开(公告)号：LU92696A1
公开(公告)日：2016-10-18
申请号：LU92696
申请日：2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
CPC classification number: G02B21/006 , G02B21/0032 , G02B21/18 , G02B21/248 , G02B21/367
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