电极构造、薄膜构造体的制造方法

    公开(公告)号:CN100355057C

    公开(公告)日:2007-12-12

    申请号:CN01816484.6

    申请日:2001-07-30

    Abstract: 本发明的主要目的在于提供一种不会去除其他的绝缘膜而去除腐蚀膜的电极构造、薄膜构造体的制造方法。为了达到上述目的而形成地锚孔(52),该地锚孔是将腐蚀膜(51)、氮化膜(47)所覆盖的配线(45)的表面开口而形成的。地锚孔(52)由具有氮化膜(47)的孔部(47c)和腐蚀膜(51)的开口(51a)构成。孔部(47c)从配线(45)表面的边部(45a)仅进入配线(45)的内方第一规定距离(d1)而开口。开口(51a)从孔部(47c)仅后退第二规定距离(d2)而开口。由于第一及第二规定距离(d1、d2)的存在,故去除腐蚀膜(51)用的腐蚀剂渗入氧化膜(33)的距离长。

    在微机电结构应用中形成间隙的牺牲层技术

    公开(公告)号:CN1304272C

    公开(公告)日:2007-03-14

    申请号:CN02813191.6

    申请日:2002-06-27

    Inventor: Q·马 P·程

    CPC classification number: B81C1/00126 B81C2201/0109 H03H3/0072

    Abstract: 一种方法,包括:在衬底的一定区域上形成多个三维第一结构;在形成第一结构之后,在所述衬底的区域上共形引入牺牲材料;在牺牲材料上引入第二结构材料;以及清除牺牲材料。一种装置,包括:处于衬底上的第一结构;以及处于衬底上被清除的薄膜的厚度所确定的未被填充的间隙与第一结构分隔的第二结构。

    具有阶跃式结构的悬臂及其制造方法

    公开(公告)号:CN1282597C

    公开(公告)日:2006-11-01

    申请号:CN02150667.1

    申请日:2002-11-15

    Inventor: 李羲重

    Abstract: 本发明提供了一种具有阶跃式结构的悬臂及其制造方法。这种悬臂包括:一个衬底;一个形成于该衬底上的锚固件;和一块被连接在锚固件上同时保持与衬底的预定间隙的移动板,其中,所述锚固件包括有一个具有预定形状的第一锚固件和一个第二锚固件,该第二锚固件垂直于第一锚固件的一个边缘,并且沿所述移动板的纵轴成形。这种悬臂的形变量,比如由于制造过程中的高温高压导致的该悬臂的移动板的形变量明显减小。从而,这种悬臂的屈服率得以改善,并且采用这种悬臂的制品的可靠性也得以提高。

    微电子机械系统结构及其制造方法

    公开(公告)号:CN1274581C

    公开(公告)日:2006-09-13

    申请号:CN02161111.4

    申请日:2002-12-18

    CPC classification number: B81B3/0078 B81B2203/0307 B81C2201/0109

    Abstract: 本发明公开了一种微电子机械系统结构及其制造方法,该结构具有固定到衬底上的固定部分和连接到固定部分上并浮置在衬底上面的浮动部分,该方法包括:在衬底上沉积牺牲层;构图该牺牲层,形成围绕至少将要形成该固定部分的一部分的间隔;在牺牲层上沉积微电子机械系统结构层,在该间隔内形成侧壁,在该牺牲层上形成固定部分和浮动部分;以及,用蚀刻剂除去该牺牲层,其中蚀刻剂对固定部分相对应的那部分牺牲层的应用由侧壁阻隔开,由侧壁阻隔开的牺牲层没有被蚀刻剂除去。由于连接部分制为与固定部分和浮动部分具有相同的厚度,可以提供一种坚固/可靠的微电子机械系统结构。

    通过外延形成半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN1732123A

    公开(公告)日:2006-02-08

    申请号:CN200380107421.4

    申请日:2003-10-23

    CPC classification number: B81B3/001 B81C2201/0109 B81C2201/0177

    Abstract: 提供一种形成半导体结构的方法。根据该方法,其上布置有牺牲层(103)并在牺牲层(103)上布置有薄的单晶半导体层(105)的半导体衬底(101)被提供。然后贯穿半导体层(105)并进入牺牲层(103)的开口(107)被形成。然后半导体层(105)外延生长至合适的器件厚度,从而获得器件层。半导体层被生长,使得所得到的器件层在开口(107)上延伸,并且使得在开口上延伸的器件层部分的表面是单晶硅。

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